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    • 6. 发明申请
    • TESTING A PROCESSOR ASSEMBLY
    • 测试处理器总成
    • US20150149846A1
    • 2015-05-28
    • US14092142
    • 2013-11-27
    • International Business Machines Corporation
    • Daniel M. CrowellJames S. FieldsRichard B. FinchHarald ProssGerald G. Stanquist
    • G01R31/3177
    • G06F11/2236G06F11/273
    • A testing backplane apparatus includes first test ports configured to receive a first processor assembly under test and the plurality of first test ports may be an even number of first test ports or an odd number of first test ports. The testing backplane apparatus includes second test ports, where each first test port corresponds to a second test port and the second test ports connect to a second processor assembly. The testing backplane apparatus includes a signal pathway from each first test port to a second test port. The signal pathway includes a signal path length within a range between a maximum signal path length and a minimum signal path length. Each port on the first processor assembly corresponds to each port on the second processor assembly and the testing backplane apparatus is configured differently from a backplane used as a final destination for operating the first processor assembly.
    • 测试背板装置包括被配置为接收被测试的第一处理器组件的第一测试端口,并且多个第一测试端口可以是偶数个第一测试端口或奇数个第一测试端口。 测试背板设备包括第二测试端口,其中每个第一测试端口对应于第二测试端口,并且第二测试端口连接到第二处理器组件。 测试背板装置包括从每个第一测试端口到第二测试端口的信号路径。 信号路径包括在最大信号路径长度和最小信号路径长度之间的范围内的信号路径长度。 第一处理器组件上的每个端口对应于第二处理器组件上的每个端口,并且测试背板装置被配置为不同于用作操作第一处理器组件的最终目的地的背板。