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1. 发明申请

US20020124229A1 LCR EXTRACTION METHOD AND COMPUTER PROGRAM FOR PERFORMING LCR EXTRACTION IN LSI DESIGN PROCESS 失效
标题翻译：用于在LSI设计过程中执行LCR提取的LCR提取方法和计算机程序
公开(公告)号：US20020124229A1
公开(公告)日：2002-09-05
申请号：US09901604
申请日：2001-07-11
申请人： Fujitsu Limited of Kawasaki, Japan
发明人： Hisayoshi Ohba , Jun Watanabe
IPC分类号： G06F017/50
CPC分类号： G06F17/5036
摘要： The present invention relates to an LCR extraction method for extracting LCR values from layout data having wiring pattern data in a plurality of wiring layers. The method has the steps of: generating the LCR values, for a wiring pattern, based on the layout data; finding the pattern congestion level in an area of the wiring pattern; and correcting the LCR values, based on pattern fluctuation values depending on the pattern interval between the wiring pattern and an adjacent pattern. Pattern width fluctuations occur in manufacturing processes in conjunction with the finer miniaturization of layout data, wherefore the precision of extracted LCR values can be enhanced by subjecting the LCR values found from layout data to corrections corresponding to those pattern width fluctuations.
摘要翻译：本发明涉及一种用于从具有多个布线层中的布线图案数据的布局数据中提取LCR值的LCR提取方法。该方法具有以下步骤：基于布局数据生成布线图案的LCR值; 找到布线图案的区域中的图案拥挤水平; 并且根据取决于布线图案和相邻图案之间的图案间隔的图案波动值来校正LCR值。结合布局数据的更精细的小型化，制造过程中出现图案宽度的波动，因此，可以通过对从布局数据发现的LCR值对应于这些图案宽度波动进行校正来提高提取的LCR值的精度。

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