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1. 发明申请

US20100313092A1 TECHNIQUE FOR INITIALIZING DATA AND INSTRUCTIONS FOR CORE FUNCTIONAL PATTERN GENERATION IN MULTI-CORE PROCESSOR 有权
标题翻译：用于初始化多核处理器中核心功能模式的数据和指令的技术
公开(公告)号：US20100313092A1
公开(公告)日：2010-12-09
申请号：US12479535
申请日：2009-06-05
申请人： Kun Xu , Jen-Tien Yen , Robert Serphillips
发明人： Kun Xu , Jen-Tien Yen , Robert Serphillips
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G06F11/2236
摘要： Techniques have been developed to introduce processor core functional pattern tests into a memory space addressable by at least one processor core of an integrated circuit. In general, such functional pattern tests can include both instruction sequences and data patterns and, in some embodiments in accordance with the present invention, are introduced (at least in part) into on-chip cache memory using facilities of an on-chip loader. Instruction opcodes used in functional test sequences may be efficiently introduced into a plurality of target locations in memory (e.g., at locations corresponding to multiple interrupt handlers or at locations from which a multiplicity of cores execute their functional tests) using facilities of the on-chip loader. In some embodiments, instruction selections together with a base address, extent and stride indications may be used to direct operation of the on-chip loader. Likewise, data patterns used in the functional test sequences may be specified as a data pattern selection together with base address, extent and optional stride indications and introduced into a plurality of target memory locations using facilities of the on-chip loader. In some embodiments, other forms or encodings of directives may be used.
摘要翻译：已经开发了将处理器核心功能模式测试引入由集成电路的至少一个处理器核可寻址的存储器空间的技术。通常，这样的功能模式测试可以包括指令序列和数据模式，并且在根据本发明的一些实施例中，使用片上加载器的设备将（至少部分地）引入到片上高速缓冲存储器中。在功能测试序列中使用的指令操作码可以有效地引入存储器中的多个目标位置（例如，在与多个中断处理程序相对应的位置处，或者使用多个核心执行其功能测试的位置）装载机在一些实施例中，可以使用指令选择以及基地址，范围和步幅指示来引导片上加载器的操作。类似地，在功能测试序列中使用的数据模式可以被指定为与基地址，范围和可选步幅指示一起的数据模式选择，并且使用片上加载器的设施被引入到多个目标存储器位置。在一些实施例中，可以使用指令的其他形式或编码。

2. 发明授权

US08136001B2 Technique for initializing data and instructions for core functional pattern generation in multi-core processor 有权
标题翻译：在多核处理器中初始化核心功能模式生成的数据和指令的技术
公开(公告)号：US08136001B2
公开(公告)日：2012-03-13
申请号：US12479535
申请日：2009-06-05
申请人： Kun Xu , Jen-Tien Yen , Robert Serphillips
发明人： Kun Xu , Jen-Tien Yen , Robert Serphillips
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G06F11/2236
摘要： Techniques have been developed to introduce processor core functional pattern tests into a memory space addressable by at least one processor core of an integrated circuit. In general, such functional pattern tests can include both instruction sequences and data patterns and, in some embodiments in accordance with the present invention, are introduced (at least in part) into on-chip cache memory using facilities of an on-chip loader. Instruction opcodes used in functional test sequences may be efficiently introduced into a plurality of target locations in memory (e.g., at locations corresponding to multiple interrupt handlers or at locations from which a multiplicity of cores execute their functional tests) using facilities of the on-chip loader. In some embodiments, instruction selections together with a base address, extent and stride indications may be used to direct operation of the on-chip loader. Likewise, data patterns used in the functional test sequences may be specified as a data pattern selection together with base address, extent and optional stride indications and introduced into a plurality of target memory locations using facilities of the on-chip loader. In some embodiments, other forms or encodings of directives may be used.
摘要翻译：已经开发了将处理器核心功能模式测试引入由集成电路的至少一个处理器核可寻址的存储器空间的技术。通常，这样的功能模式测试可以包括指令序列和数据模式，并且在根据本发明的一些实施例中，使用片上加载器的设备将（至少部分地）引入到片上高速缓冲存储器中。在功能测试序列中使用的指令操作码可以有效地引入存储器中的多个目标位置（例如，在与多个中断处理程序相对应的位置处，或者使用多个核心执行其功能测试的位置）装载机在一些实施例中，可以使用指令选择以及基地址，范围和步幅指示来引导片上加载器的操作。类似地，在功能测试序列中使用的数据模式可以被指定为与基地址，范围和可选步幅指示一起的数据模式选择，并且使用片上加载器的设施被引入到多个目标存储器位置。在一些实施例中，可以使用指令的其他形式或编码。

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