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    • 74. 发明申请
    • Layout analysis method and apparatus for semiconductor integrated circuit
    • 半导体集成电路布局分析方法和装置
    • US20070106967A1
    • 2007-05-10
    • US11396660
    • 2006-04-04
    • Yoshio InoueTakashi YonedaMasaru Ito
    • Yoshio InoueTakashi YonedaMasaru Ito
    • G06F17/50
    • G06F17/5081
    • A method for analyzing a layout for a semiconductor integrated circuit, which includes a plurality of physical devices, to generate physical parameter distribution enabling accurate recognition of changes in transistor characteristics caused by systematic variations. The method includes holding systematic variation tables for physical parameters dependent on the layout of the semiconductor integrated circuit among physical parameters related to characteristics of the semiconductor integrated circuit, analyzing a design layout pattern of the semiconductor integrated circuit and selecting tables corresponding to the plurality of physical devices, and generating a physical parameter distribution based on the selected tables.
    • 一种用于分析包括多个物理设备的半导体集成电路的布局的方法,用于生成物理参数分布,使得能够精确地识别由系统变化引起的晶体管特性的变化。 该方法包括:根据与半导体集成电路的特性相关的物理参数中的半导体集成电路的布局,取得物理参数的系统变化表,分析半导体集成电路的设计布局图案,以及选择与多个物理 设备,并且基于所选择的表生成物理参数分布。