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1. 发明专利

TW201715249A 审中-公开
公开(公告)号：TW201715249A
公开(公告)日：2017-05-01
申请号：TW104135202
申请日：2015-10-27
申请人： POWERCHIP TECH CORP
发明人： SUNG HUNG-TA
IPC分类号： G01R31/3181 , G01R19/165 , G01R31/26 , G01R31/319
CPC分类号： G01R31/2884 , G05F3/02 , H03K5/24 , H03K19/21

2. 发明专利

TW201643402A 半導體元件壓力測試裝置及其測試設備审中-公开
简体标题：半导体组件压力测试设备及其测试设备
公开(公告)号：TW201643402A
公开(公告)日：2016-12-16
申请号：TW104118101
申请日：2015-06-04
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：丁偉修 , TING, WEI HSIU , 陳文如 , CHEN, WEN JU
IPC分类号： G01N17/00 , G01R31/3181
摘要：本發明係有關於一種半導體元件壓力測試裝置及其測試設備，該半導體元件壓力測試裝置包括有複數壓力測試單元及一轉盤單元。每一壓力測試單元包括一支撐架、一上測試座及一下測試座，轉盤單元包括一樞轉軸、一轉盤及複數浮動測試座，每一浮動測試座係以複數彈性件與轉盤相連接。轉盤旋轉促使每一浮動測試座對應位於每一上測試座及下測試座間，且下測試座包括固設於該下測試座之一加熱裝置及一導熱板，藉此每一壓力測試單元係供給不同測試壓力與溫度，俾利在不同溫度及壓力環境下連續測試每一半導體元件。藉此，本發明可供待測試之半導體元件在多個壓力測試單元之間進行連續輸送及測試，大幅提高測試產能。
简体摘要：本发明系有关于一种半导体组件压力测试设备及其测试设备，该半导体组件压力测试设备包括有复数压力测试单元及一转盘单元。每一压力测试单元包括一支撑架、一上测试座及一下测试座，转盘单元包括一枢转轴、一转盘及复数浮动测试座，每一浮动测试座系以复数弹性件与转盘相连接。转盘旋转促使每一浮动测试座对应位于每一上测试座及下测试座间，且下测试座包括固设于该下测试座之一加热设备及一导热板，借此每一压力测试单元系供给不同测试压力与温度，俾利在不同温度及压力环境下连续测试每一半导体组件。借此，本发明可供待测试之半导体组件在多个压力测试单元之间进行连续输送及测试，大幅提高测试产能。

3. 发明专利

TW201514522A 串列介面信號測試治具审中-公开
简体标题：串行界面信号测试治具
公开(公告)号：TW201514522A
公开(公告)日：2015-04-16
申请号：TW102122282
申请日：2013-06-21
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：舒守利 , SHU, SHOU-LI , 黃文敏 , HUANG, WEN-MIN
IPC分类号： G01R31/3181 , G01R31/319
摘要：一種串列介面信號測試治具，包括一電路板及安裝於所述電路板上之一第一串列介面、一第一插頭及一連接所述第一串列介面之串列埠通訊晶片，所述第一串列介面用於連接一主機板之第二串列介面而接收來自所述第二串列介面之信號，所述第一插頭連接所述第一串列介面之一第一引腳，所述串列埠通訊晶片用於在所述第一串列介面連接所述第二串列介面後且於接收到來自所述第一串列介面之信號後傳回所述信號給所述第一串列介面，所述第一插頭用於連接一測試裝置而將所述第一引腳之信號發送給所述測試裝置。所述串列介面信號測試治具方便測試串列介面。
简体摘要：一种串行界面信号测试治具，包括一电路板及安装于所述电路板上之一第一串行界面、一第一插头及一连接所述第一串行界面之串行端口通信芯片<图对应修改>，所述第一串行界面用于连接一主板之第二串行界面而接收来自所述第二串行界面之信号，所述第一插头连接所述第一串行界面之一第一引脚，所述串行端口通信芯片用于在所述第一串行界面连接所述第二串行界面后且于接收到来自所述第一串行界面之信号后传回所述信号给所述第一串行界面，所述第一插头用于连接一测试设备而将所述第一引脚之信号发送给所述测试设备。所述串行界面信号测试治具方便测试串行界面。

4. 发明专利

TW201432536A 一種終端設備的觸摸檢測系統及終端設備审中-公开
简体标题：一种终端设备的触摸检测系统及终端设备
公开(公告)号：TW201432536A
公开(公告)日：2014-08-16
申请号：TW102109925
申请日：2013-03-20
申请人：敦泰科技有限公司 , FOCALTECH SYSTEMS, LTD.
发明人：莫良華 , MO, LIANGHUA , 胡海軍 , HU, HAIJUN , 劉衛平 , LIU, WEIPING
IPC分类号： G06F3/044 , G01R31/3181
摘要：本發明實施例公開了終端設備的觸摸檢測系統及終端設備，應用於電子設備技術領域。本發明實施例提供的觸摸感應系統中，系統中在電容充/放電電路分別對互電容和自電容進行充電後；對於互電容和自電容的檢測電路可以複用，即該電容充/放電電路連接到放大器，則自電容或互電容中的電荷通過放大器的輸出端和一個輸入端之間的電容轉移到輸出端，且通過放大器另一輸入端連接的基準信號源，使得信號處理單元能有效地根據放大器輸出端輸出的電壓，確定對終端設備電容觸摸屏的觸摸。使得在觸摸檢測的過程中，不需要用不同電路來檢測互電容和自電容，這樣簡化了終端設備中對用戶觸摸電容觸摸屏進行檢測的結構。
简体摘要：本发明实施例公开了终端设备的触摸检测系统及终端设备，应用于电子设备技术领域。本发明实施例提供的触摸感应系统中，系统中在电容充/放电电路分别对互电容和自电容进行充电后；对于互电容和自电容的检测电路可以复用，即该电容充/放电电路连接到放大器，则自电容或互电容中的电荷通过放大器的输出端和一个输入端之间的电容转移到输出端，且通过放大器另一输入端连接的基准信号源，使得信号处理单元能有效地根据放大器输出端输出的电压，确定对终端设备电容触摸屏的触摸。使得在触摸检测的过程中，不需要用不同电路来检测互电容和自电容，这样简化了终端设备中对用户触摸电容触摸屏进行检测的结构。

5. 发明专利

TWI442072B 用於測試無線收發器之裝置及方法失效
简体标题：用于测试无线收发器之设备及方法
公开(公告)号：TWI442072B
公开(公告)日：2014-06-21
申请号：TW097138113
申请日：2008-10-03
申请人：萊特波因特公司 , LITEPOINT CORPORATION
发明人：歐葛德克利斯汀V. , OLGAARD, CHRISTIAN VOLF
IPC分类号： G01R31/3181
CPC分类号： G01R31/31715

6. 发明专利

TW201400836A 測試系統审中-公开
简体标题：测试系统
公开(公告)号：TW201400836A
公开(公告)日：2014-01-01
申请号：TW102119246
申请日：2013-05-31
申请人：愛德萬測試股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：土田典孝 , TSUCHIDA, NORITAKA , 芥川恒孝 , AKUTAGAWA, TSUNETAKA , 中村純太 , NAKAMURA, JUNTA
IPC分类号： G01R31/3181 , G01R31/319
CPC分类号： G01R31/319 , G01R31/31908 , G06F11/2294 , G11C29/56
摘要：本發明提供一種測試系統，可簡單且適當地測試各種被測試元件(DUT)。伺服器300儲存多個配置資料306。測試機硬體100是根據儲存於可重寫的非揮發性記憶體102中的配置資料306，構成為至少其功能的一部分可變更，該測試機硬體100可對DUT 4供給電源電壓，對DUT 4發送信號，並接受來自DUT 4的信號。資訊處理裝置200(i)於測試系統2的設置時，響應用戶的輸入而自伺服器300獲取配置資料306，並寫入非揮發性記憶體102中。而且，資訊處理裝置200(ii)於DUT 4的測試時，可執行測試程式，以控制測試機硬體100，並且可對由測試機硬體100獲取的資料進行處理。
简体摘要：本发明提供一种测试系统，可简单且适当地测试各种被测试组件(DUT)。服务器300存储多个配置数据306。测试机硬件100是根据存储于可重写的非挥发性内存102中的配置数据306，构成为至少其功能的一部分可变更，该测试机硬件100可对DUT 4供给电源电压，对DUT 4发送信号，并接受来自DUT 4的信号。信息处理设备200(i)于测试系统2的设置时，响应用户的输入而自服务器300获取配置数据306，并写入非挥发性内存102中。而且，信息处理设备200(ii)于DUT 4的测试时，可运行测试进程，以控制测试机硬件100，并且可对由测试机硬件100获取的数据进行处理。

7. 发明专利

TW201342143A 輸入裝置及其控制參數調整方法审中-公开
简体标题：输入设备及其控制参数调整方法
公开(公告)号：TW201342143A
公开(公告)日：2013-10-16
申请号：TW101113273
申请日：2012-04-13
申请人：勝華科技股份有限公司 , WINTEK CORPORATION
发明人：林明傳 , LIN, MING CHUAN , 王文宏 , WANG, WEN HUNG , 林志強 , LIN, CHIH CHIANG
IPC分类号： G06F3/041 , G01R31/3181 , G06F9/445
CPC分类号： G06F3/044 , G06F3/0418 , G06F9/44505
摘要：本發明提出一種輸入裝置及其控制參數調整方法，此輸入裝置包括第一儲存單元、第二儲存單元以及控制單元。第一儲存單元用來儲存多個控制參數，其中各控制參數指示輸入裝置之輸入動作的判讀基準。第二儲存單元用來儲存韌體。控制單元耦接第一儲存單元與第二儲存單元，用來依據輸入控制訊號自控制參數選擇出最佳控制參數，並將最佳控制參數燒錄至韌體中，其中輸入控制訊號為對應輸入裝置之輸入動作所產生。
简体摘要：本发明提出一种输入设备及其控制参数调整方法，此输入设备包括第一存储单元、第二存储单元以及控制单元。第一存储单元用来存储多个控制参数，其中各控制参数指示输入设备之输入动作的判读基准。第二存储单元用来存储固件。控制单元耦接第一存储单元与第二存储单元，用来依据输入控制信号自控制参数选择出最佳控制参数，并将最佳控制参数刻录至固件中，其中输入控制信号为对应输入设备之输入动作所产生。

8. 发明专利

TW201333503A 運用於高速輸出入埠上的內建自測試電路审中-公开
简体标题：运用于高速输出入端口上的内置自测试电路
公开(公告)号：TW201333503A
公开(公告)日：2013-08-16
申请号：TW101103305
申请日：2012-02-01
申请人：晨星半導體股份有限公司 , MSTAR SEMICONDUCTOR, INC
发明人：陳宥霖 , CHEN, YU LIN , 劉先鳳 , LIU, HSIAN FENG , 陳忠敬 , CHEN, CHUNG CHING
IPC分类号： G01R31/3181
CPC分类号： G11C29/12 , G11C7/10 , G11C7/22 , G11C7/222 , G11C29/023 , G11C29/1201 , G11C29/12015 , G11C29/14
摘要：一種運用於高速輸出入埠上的內建自測試電路，包括：偵測單元，具有第一輸入端接收串列輸出信號，第二輸入端接收串列致能信號，與輸出端產生偵測信號；旗標單元，接收偵測信號，產生旗標信號；選擇單元，接收串列輸出信號、串列致能信號與旗標信號。當重置信號於第一準位時，選擇單元將串列輸出信號與串列致能信號傳遞至輸出入埠；當重置信號於第二準位時，串列輸出信號與串列致能信號之間具有一預定關係。
简体摘要：一种运用于高速输出入端口上的内置自测试电路，包括：侦测单元，具有第一输入端接收串行输出信号，第二输入端接收串行致能信号，与输出端产生侦测信号；旗标单元，接收侦测信号，产生旗标信号；选择单元，接收串行输出信号、串行致能信号与旗标信号。当重置信号于第一准位时，选择单元将串行输出信号与串行致能信号传递至输出入端口；当重置信号于第二准位时，串行输出信号与串行致能信号之间具有一预定关系。

9. 发明专利

TW201329464A 無線電子裝置之測試設備审中-公开
简体标题：无线电子设备之测试设备
公开(公告)号：TW201329464A
公开(公告)日：2013-07-16
申请号：TW101100871
申请日：2012-01-09
申请人：啟碁科技股份有限公司 , WISTRON NEWEB CORP.
发明人：彭奐喆 , PENG, HUANG TSE , 黃金蓮 , HUANG, CHIN LIEN , 古光原 , KU, KUANG YUAN
IPC分类号： G01R31/26 , G01R31/3181
CPC分类号： G01R1/18 , G01R29/0821 , H01Q13/085 , H04M1/24
摘要：本發明提供一種無線電子裝置之測試設備，包含金屬外殼、射頻吸收材料、第一測量天線以及阻抗調整模組。阻抗調整模組包含電介質層、第一內部天線以及第二內部天線，其中第二內部天線電性連接第一測量天線。第一內部天線及第二內部天線係設置於電介質層之相對兩側且分別包含相互平行之第一天線主幹及第二天線主幹。
简体摘要：本发明提供一种无线电子设备之测试设备，包含金属外壳、射频吸收材料、第一测量天线以及阻抗调整模块。阻抗调整模块包含电介质层、第一内部天线以及第二内部天线，其中第二内部天线电性连接第一测量天线。第一内部天线及第二内部天线系设置于电介质层之相对两侧且分别包含相互平行之第一天线主干及第二天线主干。

10. 发明专利

TWI401887B 溫度補償電路以及測試裝置失效
简体标题：温度补偿电路以及测试设备
公开(公告)号：TWI401887B
公开(公告)日：2013-07-11
申请号：TW096101892
申请日：2007-01-18
申请人：愛德萬測試股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：桑名勇治 , KUWANA, YUJI , 梅村芳春 , UMEMURA, YOSHIHARU , 關野隆 , SEKINO, TAKASHI
IPC分类号： H03K3/011 , G01R31/3181
CPC分类号： G01R31/3191 , G01R31/2874 , H03K17/14 , H03K17/30

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