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1. 发明专利

TWI652499B 用於製作Ｘ射線檢測器的方法有权
简体标题：用于制作Ｘ射线检测器的方法
公开(公告)号：TWI652499B
公开(公告)日：2019-03-01
申请号：TW105126637
申请日：2016-08-19
申请人：中國大陸商深圳幀觀德芯科技有限公司 , SHENZHEN XPECTVISION TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：曹培炎 , CAO, PEIYAN , 劉雨潤 , LIU, YURUN
IPC分类号： G01T1/24

2. 发明专利

TW201837496A 便攜式輻射檢測器系統审中-公开
简体标题：便携式辐射检测器系统
公开(公告)号：TW201837496A
公开(公告)日：2018-10-16
申请号：TW107110178
申请日：2018-03-26
申请人：中國大陸商深圳幀觀德芯科技有限公司 , SHENZHEN XPECTVISION TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：曹培炎 , CAO, PEIYAN , 劉雨潤 , LIU, YURUN
IPC分类号： G01T1/16 , G01T1/36
摘要：用於檢測輻射的裝置，其包括：第一輻射吸收層，其被配置為：從被第一輻射吸收層所吸收的輻射的光子產生第一電信號，其中所述第一輻射吸收層包括第一電極；電子系統，其被配置成處理所述第一電信號；計數器，其被配置為記錄由所述輻射吸收層吸收的光子數；控制器；所述控制器被配置為使所述計數器記錄的數字增加一；電源；以及通信接口，其被配置為用於所述電子系統與外部電路通信。
简体摘要：用于检测辐射的设备，其包括：第一辐射吸收层，其被配置为：从被第一辐射吸收层所吸收的辐射的光子产生第一电信号，其中所述第一辐射吸收层包括第一电极；电子系统，其被配置成处理所述第一电信号；计数器，其被配置为记录由所述辐射吸收层吸收的光子数；控制器；所述控制器被配置为使所述计数器记录的数字增加一；电源；以及通信接口，其被配置为用于所述电子系统与外部电路通信。

3. 发明专利

TW201828463A 製作半導體X射線檢測器的方法审中-公开
简体标题：制作半导体X射线检测器的方法
公开(公告)号：TW201828463A
公开(公告)日：2018-08-01
申请号：TW107102294
申请日：2018-01-23
申请人：中國大陸商深圳幀觀德芯科技有限公司 , SHENZHEN XPECTVISION TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：曹培炎 , CAO, PEIYAN , 宋崇申 , SONG, CHONGSHEN , 劉雨潤 , LIU, YURUN
IPC分类号： H01L27/146 , H01L31/14
摘要：本文公開圖像感測器和製作該圖像感測器的方法。圖像感測器可以包括半導體輻射檢測器的一個或多個封裝。該一個或多個封裝中的每個可以包括輻射檢測器，其包括第一條帶的半導體晶圓上的輻射吸收層和第二條帶的半導體晶圓上的電子層。輻射吸收層沿第一條帶的半導體晶圓可以是連續的而沒有覆蓋缺口。第一條帶和第二條帶可以縱向對齊且接合在一起。輻射檢測器可以安裝在印刷電路板(PCB)上並且接近輻射檢測器的邊緣電連接到PCB。
简体摘要：本文公开图像传感器和制作该图像传感器的方法。图像传感器可以包括半导体辐射检测器的一个或多个封装。该一个或多个封装中的每个可以包括辐射检测器，其包括第一条带的半导体晶圆上的辐射吸收层和第二条带的半导体晶圆上的电子层。辐射吸收层沿第一条带的半导体晶圆可以是连续的而没有覆盖缺口。第一条带和第二条带可以纵向对齐且接合在一起。辐射检测器可以安装在印刷电路板(PCB)上并且接近辐射检测器的边缘电连接到PCB。

4. 发明专利

TW201824855A 具有Ｘ射線檢測器的圖像傳感器审中-公开
简体标题：具有Ｘ射线检测器的图像传感器
公开(公告)号：TW201824855A
公开(公告)日：2018-07-01
申请号：TW106144630
申请日：2017-12-19
申请人：中國大陸商深圳幀觀德芯科技有限公司 , SHENZHEN XPECTVISION TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：曹培炎 , CAO, PEIYAN , 劉雨潤 , LIU, YURUN
IPC分类号： H04N5/32 , H01L31/14
摘要：本文公開圖像傳感器，其包括：多個X射線檢測器；驅動器，其被配置為將所述多個X射線檢測器移動到多個位置，其中，所述圖像傳感器被配置為：分別在所述位置處，使用所述檢測器捕獲場景的部分的圖像，並被配置為通過對所述部分的圖像進行拼接而形成所述場景的圖像。
简体摘要：本文公开图像传感器，其包括：多个X射线检测器；驱动器，其被配置为将所述多个X射线检测器移动到多个位置，其中，所述图像传感器被配置为：分别在所述位置处，使用所述检测器捕获场景的部分的图像，并被配置为通过对所述部分的图像进行拼接而形成所述场景的图像。

5. 发明专利

TW201816424A 輻射檢測器中的暗雜訊補償审中-公开
简体标题：辐射检测器中的暗噪声补偿
公开(公告)号：TW201816424A
公开(公告)日：2018-05-01
申请号：TW106136202
申请日：2017-10-20
申请人：中國大陸商深圳幀觀德芯科技有限公司 , SHENZHEN XPECTVISION TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：曹培炎 , CAO, PEIYAN , 劉雨潤 , LIU, YURUN
IPC分类号： G01T1/00 , A61B6/00
摘要：本文公開輻射檢測器，其包括：包括電極的輻射吸收層；電連接到所述電極並包括電容器的電容器模塊，其中所述電容模塊被配置為將來自所述電極的載荷子收集到所述電容器上；與所述電容並聯的電流源模塊，所述電流源模塊被配置為補償所述輻射檢測器中暗雜訊的電流並包括電流源和調制器；其中所述電流源被配置為輸出第一電流和第二電流；其中所述調制器被配置為控制所述電流源輸出所述第一電流的持續時間與所述電流源輸出所述第二電流的持續時間的比率。
简体摘要：本文公开辐射检测器，其包括：包括电极的辐射吸收层；电连接到所述电极并包括电容器的电容器模块，其中所述电容模块被配置为将来自所述电极的载荷子收集到所述电容器上；与所述电容并联的电流源模块，所述电流源模块被配置为补偿所述辐射检测器中暗噪声的电流并包括电流源和调制器；其中所述电流源被配置为输出第一电流和第二电流；其中所述调制器被配置为控制所述电流源输出所述第一电流的持续时间与所述电流源输出所述第二电流的持续时间的比率。

6. 发明专利

TWI668465B 製作半導體Ｘ射線檢測器的方法有权
简体标题：制作半导体Ｘ射线检测器的方法
公开(公告)号：TWI668465B
公开(公告)日：2019-08-11
申请号：TW105121275
申请日：2016-07-05
申请人：中國大陸商深圳幀觀德芯科技有限公司 , SHENZHEN XPECTVISION TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：曹培炎 , CAO, PEIYAN , 劉雨潤 , LIU, YURUN
IPC分类号： G01T1/24

7. 发明专利

TW201910811A 制造和使用X射線檢測器的方法审中-公开
简体标题：制造和使用X射线检测器的方法
公开(公告)号：TW201910811A
公开(公告)日：2019-03-16
申请号：TW107125601
申请日：2018-07-25
申请人：中國大陸商深圳幀觀德芯科技有限公司 , SHENZHEN XPECTVISION TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：曹培炎 , CAO, PEIYAN , 劉雨潤 , LIU, YURUN
IPC分类号： G01T1/24 , H01L31/0264 , H01L21/324
摘要：本文公開制造和使用適於X射線檢測的吸收單元陣列的方法以及包括這種吸收單元陣列的檢測器。制造吸收單元陣列的方法可包括在基板上形成吸收單元陣列，並且在從基板分離吸收單元陣列之後形成保護環，其包圍所述吸收單元陣列的多於一個的吸收單元；或可包括在基板的部分上在從所述基板分離所述部分之後形成多個吸收單元以及包圍多於一個的吸收單元的保護環。使用吸收單元陣列的方法可包括通過施加電壓，將吸收單元陣列的一些吸收單元用作保護環。適於X射線檢測的檢測器包括吸收層和電子層，其中所述吸收層包括吸收單元陣列。
简体摘要：本文公开制造和使用适于X射线检测的吸收单元数组的方法以及包括这种吸收单元数组的检测器。制造吸收单元数组的方法可包括在基板上形成吸收单元数组，并且在从基板分离吸收单元数组之后形成保护环，其包围所述吸收单元数组的多于一个的吸收单元；或可包括在基板的部分上在从所述基板分离所述部分之后形成多个吸收单元以及包围多于一个的吸收单元的保护环。使用吸收单元数组的方法可包括通过施加电压，将吸收单元数组的一些吸收单元用作保护环。适于X射线检测的检测器包括吸收层和电子层，其中所述吸收层包括吸收单元数组。

8. 发明专利

TW201909844A X射線成像系統及X射線圖像跟蹤方法审中-公开
简体标题： X射线成像系统及X射线图像跟踪方法
公开(公告)号：TW201909844A
公开(公告)日：2019-03-16
申请号：TW107125616
申请日：2018-07-25
申请人：中國大陸商深圳幀觀德芯科技有限公司 , SHENZHEN XPECTVISION TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：曹培炎 , CAO, PEIYAN , 劉雨潤 , LIU, YURUN
IPC分类号： A61B6/00 , G01T1/24
摘要：本文公開在人或動物上的介入放射學手術期間用X射線成像系統進行圖像跟蹤的方法。所述方法可包括通過X射線成像系統的第一X射線檢測器獲取人或動物內的物體的第一圖像；在介入放射學手術期間，在獲得所述第一圖像之後，用X射線成像系統獲取物體的第二圖像；基於所述第一圖像和所述第二圖像確定所述第一X射線檢測器的移位；用X射線成像系統的驅動器將第一X射線檢測器移動所述移位。所述X射線成像系統包括第一X射線檢測器，第二X射線檢測器和驅動器。所述第一X射線檢測器的空間解析度高於所述第二X射線檢測器的空間解析度。
简体摘要：本文公开在人或动物上的介入放射学手术期间用X射线成像系统进行图像跟踪的方法。所述方法可包括通过X射线成像系统的第一X射线检测器获取人或动物内的物体的第一图像；在介入放射学手术期间，在获得所述第一图像之后，用X射线成像系统获取物体的第二图像；基于所述第一图像和所述第二图像确定所述第一X射线检测器的移位；用X射线成像系统的驱动器将第一X射线检测器移动所述移位。所述X射线成像系统包括第一X射线检测器，第二X射线检测器和驱动器。所述第一X射线检测器的空间分辨率高于所述第二X射线检测器的空间分辨率。

9. 发明专利

TWI632391B 半導體Ｘ射線檢測器有权
简体标题：半导体Ｘ射线检测器
公开(公告)号：TWI632391B
公开(公告)日：2018-08-11
申请号：TW105110957
申请日：2016-04-07
申请人：中國大陸商深圳幀觀德芯科技有限公司 , SHENZHEN XPECTVISION TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：曹培炎 , CAO, PEIYAN , 劉雨潤 , LIU, YURUN
IPC分类号： G01T1/24

10. 发明专利

TWI699527B 用於Ｘ射線螢光的檢測器有权
简体标题：用于Ｘ射线萤光的检测器
公开(公告)号：TWI699527B
公开(公告)日：2020-07-21
申请号：TW105116926
申请日：2016-05-30
申请人：中國大陸商深圳幀觀德芯科技有限公司 , SHENZHEN XPECTVISION TECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：曹培炎 , CAO, PEIYAN , 劉雨潤 , LIU, YURUN
IPC分类号： G01N23/223

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