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    • 9. 发明专利
    • 壓力測量方法以及壓力測量裝置
    • 压力测量方法以及压力测量设备
    • TW201736814A
    • 2017-10-16
    • TW105111402
    • 2016-04-12
    • 原相科技股份有限公司PIXART IMAGING INC.
    • 陳昱翰CHEN, YU-HAN黃智煒HUANG, CHIH-WEI廖祈傑LIAO, CHI-CHIEH王維中WANG, WEI-CHUNG
    • G01L5/22G01L25/00
    • 一種壓力測量方法,使用在一壓力測量裝置上。此壓力測量方法包含:於一測試模式下測量該壓力測量裝置對應一第一壓力的一第一壓力感測值;於該測試模式下測量該壓力測量裝置對應一第二壓力的一第二壓力感測值;根據該第一壓力、該第二壓力、該第一壓力感測值以及該第二壓力感測值建立一第一校正函數;於一普通模式下,測量該壓力測量裝置對應一第三壓力的一第三壓力感測值;以及以該第一校正函數校正該第三壓力感測值產生一第一校正後壓力感測值。其中該壓力測量裝置操作於一第一掃瞄頻率。藉此方法可以校正因掃瞄頻率不同而產生的誤差。
    • 一种压力测量方法,使用在一压力测量设备上。此压力测量方法包含:于一测试模式下测量该压力测量设备对应一第一压力的一第一压力传感值;于该测试模式下测量该压力测量设备对应一第二压力的一第二压力传感值;根据该第一压力、该第二压力、该第一压力传感值以及该第二压力传感值创建一第一校正函数;于一普通模式下,测量该压力测量设备对应一第三压力的一第三压力传感值;以及以该第一校正函数校正该第三压力传感值产生一第一校正后压力传感值。其中该压力测量设备操作于一第一扫瞄频率。借此方法可以校正因扫瞄频率不同而产生的误差。