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1. 发明专利

TWI567367B 用於電子裝置之磁力計單元有权
简体标题：用于电子设备之磁力计单元
公开(公告)号：TWI567367B
公开(公告)日：2017-01-21
申请号：TW104115777
申请日：2015-05-18
申请人：英特爾股份有限公司 , INTEL CORPORATION
发明人：丹尼爾凱文 , DANIEL, KEVIN J. , 布里斯特蓋瑞 , BRIST, GARY
IPC分类号： G01B7/14 , G01B7/004 , G01C19/00
CPC分类号： G01C19/00 , G01C17/38 , G06F1/1694 , G06F3/0346 , G06F3/0383

2. 发明专利

TW201614185A 用於電子裝置之磁力計單元审中-公开
简体标题：用于电子设备之磁力计单元
公开(公告)号：TW201614185A
公开(公告)日：2016-04-16
申请号：TW104115777
申请日：2015-05-18
申请人：英特爾股份有限公司 , INTEL CORPORATION
发明人：丹尼爾凱文 , DANIEL, KEVIN J. , 布里斯特蓋瑞 , BRIST, GARY
IPC分类号： G01B7/14 , G01B7/004 , G01C19/00
CPC分类号： G01C19/00 , G01C17/38 , G06F1/1694 , G06F3/0346 , G06F3/0383
摘要：在一實例中，一種磁力計單元包含邏輯，用以接收來自一第一磁性感測器的第一磁性回應資料及來自從第一磁性感測器位移的一第二磁性感測器的第二磁性回應資料，從第一磁性回應資料和第二磁性回應資料產生一複合回應表面表示，及將複合回應表面表示儲存在一非暫態記憶體中。可能說明其他實例。
简体摘要：在一实例中，一种磁力计单元包含逻辑，用以接收来自一第一磁性传感器的第一磁性回应数据及来自从第一磁性传感器位移的一第二磁性传感器的第二磁性回应数据，从第一磁性回应数据和第二磁性回应数据产生一复合回应表面表示，及将复合回应表面表示存储在一非暂态内存中。可能说明其他实例。

3. 发明专利

TW201425868A 磁感測裝置及其感測方法审中-公开
简体标题：磁传感设备及其传感方法
公开(公告)号：TW201425868A
公开(公告)日：2014-07-01
申请号：TW101149242
申请日：2012-12-22
申请人：崑山科技大學 , KUN SHAN UNIVERSITY
发明人：蔡崇洲 , TSAI, CHURNG JOU , 郭晉魁 , GUO, JINN KWEI , 劉崇汎 , LIU, CHUNG FAN , 鄭玲兒 , CHENG, LING ERL , 曾昭雄 , TSENG, CHAO HSIUNG , 盧春林 , LU, CHUN LIN
IPC分类号： G01B7/004
摘要：本發明係揭露一種磁感測裝置及其感測方法，至少包含磁性元件、處理器及複數個磁感應器。其中，處理器電性連接此些磁感應器，而磁性元件產生磁場。並且，此些磁感應器各別感測不同位置之磁場之磁場強度值，而處理器取得此些磁場強度值後，依據此些磁場強度值以得知磁性元件之位置資訊。
简体摘要：本发明系揭露一种磁传感设备及其传感方法，至少包含磁性组件、处理器及复数个磁感应器。其中，处理器电性连接此些磁感应器，而磁性组件产生磁场。并且，此些磁感应器各别传感不同位置之磁场之磁场强度值，而处理器取得此些磁场强度值后，依据此些磁场强度值以得知磁性组件之位置信息。

4. 发明专利

TWI628255B 軟磁性熱硬化性接著膜、磁性膜積層電路板、及位置偵測裝置有权
简体标题：软磁性热硬化性接着膜、磁性膜积层电路板、及位置侦测设备
公开(公告)号：TWI628255B
公开(公告)日：2018-07-01
申请号：TW103111116
申请日：2014-03-25
申请人：日商日東電工股份有限公司 , NITTO DENKO CORPORATION
发明人：江部宏史 , EBE, HIROFUMI , 土生剛志 , HABU, TAKASHI
IPC分类号： C09J7/00 , H01F1/26 , H05K9/00 , G01B7/004

5. 发明专利

TWI414755B 用於試料圖案檢查裝置之ＸＹ座標補正裝置及方法有权
简体标题：用于试料图案检查设备之ＸＹ座标补正设备及方法
公开(公告)号：TWI414755B
公开(公告)日：2013-11-11
申请号：TW096113900
申请日：2007-04-20
申请人：荏原製作所股份有限公司 , EBARA CORPORATION
发明人：金馬利文 , KIMBA, TOSHIFUMI , 水內啓介 , MIZUUCHI, KEISUKE
IPC分类号： G01B7/004 , G03F9/00 , G01B9/04 , H01L21/027
CPC分类号： H01J37/3045 , G01N23/00 , H01J37/28 , H01J2237/2817 , H01L21/681

6. 发明专利

TW201344421A 線性度測試裝置及方法审中-公开
简体标题：线性度测试设备及方法
公开(公告)号：TW201344421A
公开(公告)日：2013-11-01
申请号：TW101113848
申请日：2012-04-18
申请人：楊志沅
发明人：楊志沅
IPC分类号： G06F11/22 , G06F3/041 , G01B7/004
摘要：本發明係一種線性度測試裝置，包含受控模組及控制模組。受控模組因應控制訊號，以依據預設座標於待測物上產生移動軌跡，讀取移動軌跡所回報的座標，並依回報座標產生回授訊號。控制模組，因應回授訊號，並透過畢氏定理或法線定理演算法比較回授訊號與控制訊號，用以計算移動軌跡的回報座標與預定座標的誤差值，以進行移動軌跡線性度的測試。本發明係一種線性度測試方法，包含步驟：規劃移動軌跡，及/或設定移動軌跡之誤差值範圍及距離量測方式，以及/或因應所設定之距離量測方式，依據畢氏定理或法線定理演算法計算移動軌跡的回報座標與預設座標的誤差值，若誤差值介於誤差值範圍內，則移動軌跡符合線性度的測試標準。
简体摘要：本发明系一种线性度测试设备，包含受控模块及控制模块。受控模块因应控制信号，以依据默认座标于待测物上产生移动轨迹，读取移动轨迹所回报的座标，并依回报座标产生回授信号。控制模块，因应回授信号，并透过毕氏定理或法线定理算法比较回授信号与控制信号，用以计算移动轨迹的回报座标与预定座标的误差值，以进行移动轨迹线性度的测试。本发明系一种线性度测试方法，包含步骤：规划移动轨迹，及/或设置移动轨迹之误差值范围及距离量测方式，以及/或因应所设置之距离量测方式，依据毕氏定理或法线定理算法计算移动轨迹的回报座标与默认座标的误差值，若误差值介于误差值范围内，则移动轨迹符合线性度的测试标准。

7. 发明专利

TW201323827A 座標感測系統及座標感測方法失效
简体标题：座标传感系统及座标传感方法
公开(公告)号：TW201323827A
公开(公告)日：2013-06-16
申请号：TW100145923
申请日：2011-12-13
申请人：佳世達科技股份有限公司 , QISDA CORPORATION
发明人：游俊坤 , YU, CHUN KUN
IPC分类号： G01B7/004
摘要：一種座標感測系統，包含磁性件、第一磁感測器、第二磁感測器以及處理器。磁性件具有磁偶極矩。第一磁感測器用以感測磁性件之第一磁場，以計算關於磁性件之第一曲面。第二磁感測器用以感測磁性件之第二磁場，以計算關於磁性件之第二曲面。處理器用以計算第一曲面與第二曲面相交之曲線。第一磁感測器根據磁偶極矩於曲線上獲得複數個第一預估磁偶極方向，且第二磁感測器根據磁偶極矩於曲線上獲得複數個第二預估磁偶極方向。處理器根據第一預估磁偶極方向的其中之一與第二預估磁偶極方向的其中之一於曲線上重合之位置計算對應磁性件之座標。
简体摘要：一种座标传感系统，包含磁性件、第一磁传感器、第二磁传感器以及处理器。磁性件具有磁偶极矩。第一磁传感器用以传感磁性件之第一磁场，以计算关于磁性件之第一曲面。第二磁传感器用以传感磁性件之第二磁场，以计算关于磁性件之第二曲面。处理器用以计算第一曲面与第二曲面相交之曲线。第一磁传感器根据磁偶极矩于曲在线获得复数个第一预估磁偶极方向，且第二磁传感器根据磁偶极矩于曲在线获得复数个第二预估磁偶极方向。处理器根据第一预估磁偶极方向的其中之一与第二预估磁偶极方向的其中之一于曲在线重合之位置计算对应磁性件之座标。

8. 发明专利

TWI666421B 自動化設備之位移量測機構有权
简体标题：自动化设备之位移量测机构
公开(公告)号：TWI666421B
公开(公告)日：2019-07-21
申请号：TW107123791
申请日：2018-07-10
申请人：英屬維京群島商詮優科技有限公司 , FINETECK INTERNATIONAL LTD.
发明人：黃懿華 , HUANG, YI HUA
IPC分类号： G01B7/004 , G01B11/03

9. 发明专利

TWI608243B 利用磁力場形之定位裝置及其定位方法有权
简体标题：利用磁力场形之定位设备及其定位方法
公开(公告)号：TWI608243B
公开(公告)日：2017-12-11
申请号：TW105128638
申请日：2016-09-05
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：孫冠群 , SUN, KUAN CHUN , 駱聖文 , LO, SHENG WEN
IPC分类号： G01R33/02 , G01B7/004

10. 发明专利

TWI601939B 絕對位置偵測裝置及方法有权
简体标题：绝对位置侦测设备及方法
公开(公告)号：TWI601939B
公开(公告)日：2017-10-11
申请号：TW105106798
申请日：2016-03-04
申请人：國立清華大學 , NATIONAL TSING HUA UNIVERSITY
发明人：林政逸 , LIN, CHENG-YI , 蕭恆昇 , HSIAO, HENG-SHENG , 王勝清 , WANG, SHENG-CHING , 金重勳 , CHIN, TSUNG-SHUNE , 宋震國 , SUNG, CHENG-KUO , 張禎元 , CHANG, JEN-YUAN
IPC分类号： G01D5/245 , G01B7/004
CPC分类号： G01D5/2452

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