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1. 发明专利

TW201716266A 影像修補系統及其方法审中-公开
简体标题：影像修补系统及其方法
公开(公告)号：TW201716266A
公开(公告)日：2017-05-16
申请号：TW104136709
申请日：2015-11-06
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：詹聖瑋 , CHAN, SHENG WEI , 林哲聰 , LIN, CHE TSUNG
IPC分类号： B60R1/00 , H04N5/225 , G06T5/50 , G06T7/60
CPC分类号： G06T5/005 , G06T5/002 , G06T2207/10021 , G06T2207/10024 , G06T2207/20224 , G06T2207/30252 , H04N5/217 , H04N5/2171 , H04N5/2257 , H04N5/247
摘要：一種影像修補方法，其步驟包含有：雜訊分割，擷取複數影像，並將該複數影像分割為含有雜訊像素畫面與未含有雜訊像素畫面；以及針對含雜訊像素畫面進行修補，找出該含有雜訊像素畫面與對應雜訊像素之未受雜訊影響且具最小視差之像素對應關係的偏移地圖或幾何關係，利用該偏移地圖或幾何關係，以抽取未受雜訊影響之對應像素，並修補並取代該複數影像中之雜訊像素，而產生至少一不含雜訊之合成畫面。
简体摘要：一种影像修补方法，其步骤包含有：噪声分割，截取复数影像，并将该复数影像分割为含有噪声像素画面与未含有噪声像素画面；以及针对含噪声像素画面进行修补，找出该含有噪声像素画面与对应噪声像素之未受噪声影响且具最小视差之像素对应关系的偏移地图或几何关系，利用该偏移地图或几何关系，以抽取未受噪声影响之对应像素，并修补并取代该复数影像中之噪声像素，而产生至少一不含噪声之合成画面。

2. 发明专利

TW201636602A 用於增強檢測工具之檢測靈敏度之系統及方法审中-公开
简体标题：用于增强检测工具之检测灵敏度之系统及方法
公开(公告)号：TW201636602A
公开(公告)日：2016-10-16
申请号：TW105108129
申请日：2016-03-16
申请人：克萊譚克公司 , KLA-TENCOR CORPORATION
发明人：李緒方 , LI, SHIFANG , 溫佑仙 , WEN, YOUXIAN , 史克威塔拉賽分 , SCHWITALLA, SVEN , 艾吉普拉香特 , AJI, PRASHANT , 妮可雷德思蕾娜 , NICOLAIDES, LENA
IPC分类号： G01N21/88 , G06T7/00
CPC分类号： G06K9/6201 , G03F1/84 , G06T5/50 , G06T7/001 , G06T2207/10016 , G06T2207/10024 , G06T2207/20224 , G06T2207/30148 , H04N5/2256
摘要：本發明揭示用於增強使用一檢測工具偵測晶圓中之缺陷之檢測靈敏度之系統及方法。複數個發光二極體照明一晶圓之至少一部分且捕獲一灰階影像集合。在該灰階影像集合之各影像中判定一殘餘信號且自該灰階影像集合之各影像減去該殘餘信號。基於該經減去之灰階影像集合識別缺陷。在該等所揭示系統及方法之一些實施例中可建置及精製該檢測工具及該晶圓之模型。
简体摘要：本发明揭示用于增强使用一检测工具侦测晶圆中之缺陷之检测灵敏度之系统及方法。复数个发光二极管照明一晶圆之至少一部分且捕获一灰阶影像集合。在该灰阶影像集合之各影像中判定一残余信号且自该灰阶影像集合之各影像减去该残余信号。基于该经减去之灰阶影像集合识别缺陷。在该等所揭示系统及方法之一些实施例中可建置及精制该检测工具及该晶圆之模型。

3. 发明专利

TWI534759B 供感測移動球體的裝置及其方法、以及供計算移動球體之旋轉的球體影像的影像處理方法有权
简体标题：供传感移动球体的设备及其方法、以及供计算移动球体之旋转的球体影像的影像处理方法
公开(公告)号：TWI534759B
公开(公告)日：2016-05-21
申请号：TW103100788
申请日：2014-01-08
申请人：高爾縱股份有限公司 , GOLFZON CO., LTD.
发明人：朱相炫 , JOO, SANG-HYUN
IPC分类号： G06T7/20 , A63B69/36
CPC分类号： G06T7/2033 , G06K9/00335 , G06K9/40 , G06K9/46 , G06K9/6211 , G06K2209/25 , G06T7/136 , G06T7/246 , G06T7/254 , G06T2207/10016 , G06T2207/20224 , G06T2207/30224

4. 发明专利

TWI531911B 用於自多個訊框中決定多個候選訊框的方法有权
简体标题：用于自多个讯框中决定多个候选讯框的方法
公开(公告)号：TWI531911B
公开(公告)日：2016-05-01
申请号：TW103137446
申请日：2014-10-29
申请人：宏達國際電子股份有限公司 , HTC CORPORATION
发明人：林秉聖 , LIN, BINGSHENG , 林奕祺 , LIN, YICHI , 呂黛伶 , LU, TAILING
IPC分类号： G06F15/76 , G06F15/82
CPC分类号： G06T7/254 , G06F3/04845 , G06F3/0488 , G06T7/174 , G06T2207/10016 , G06T2207/20224 , H04N5/2353 , H04N5/2621 , H04N5/2625 , H04N5/91

5. 发明专利

TWI494899B 影像內週期性雜訊修補方法有权
简体标题：影像内周期性噪声修补方法
公开(公告)号：TWI494899B
公开(公告)日：2015-08-01
申请号：TW101148467
申请日：2012-12-19
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：林哲聰 , LIN, CHE TSUNG , 林昱成 , LIN, YU CHEN
IPC分类号： G06T5/50 , G06K9/40 , G06K9/46
CPC分类号： G06K9/00791 , G06T5/005 , G06T5/50 , G06T7/194 , G06T2207/10016 , G06T2207/20224 , G06T2207/30252

6. 发明专利

TWI486582B 半導體故障解析裝置及故障解析方法有权
简体标题：半导体故障解析设备及故障解析方法
公开(公告)号：TWI486582B
公开(公告)日：2015-06-01
申请号：TW100106272
申请日：2011-02-24
申请人：濱松赫德尼古斯股份有限公司 , HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
发明人：竹島智親 , TAKESHIMA, TOMOCHIKA
IPC分类号： G01N25/72 , H01L21/66
CPC分类号： G01N25/72 , G01R31/311 , G06T7/0004 , G06T7/246 , G06T2207/10016 , G06T2207/10048 , G06T2207/20021 , G06T2207/20076 , G06T2207/20224 , G06T2207/30148

7. 发明专利

TWI372377B 藉由基於像素的處理來消除影像模糊之方法與裝置 METHOD AND APPARATUS FOR ELIMINATING IMAGE BLUR BY PIXEL-BASED PROCESSING 有权
简体标题：借由基于像素的处理来消除影像模煳之方法与设备 METHOD AND APPARATUS FOR ELIMINATING IMAGE BLUR BY PIXEL-BASED PROCESSING
公开(公告)号：TWI372377B
公开(公告)日：2012-09-11
申请号：TW096144105
申请日：2007-11-21
申请人：晨星半導體股份有限公司
发明人：王世忠 , 陳衣凡
IPC分类号： G09G
CPC分类号： G09G3/20 , G06T5/003 , G06T5/50 , G06T2207/20201 , G06T2207/20224 , G09G3/3611 , G09G2320/0252 , G09G2320/0261 , G09G2320/0271 , G09G2320/0285 , G09G2340/16 , H04N5/144
摘要：一種用來消除影像模糊之方法，其包含有：對分別位於一視訊之兩連續影像之相對應位置的兩像素進行移動偵測以產生一偵測結果；以及依據該偵測結果來調整該兩像素之亮度，其中當該偵測結果指出該兩像素屬於動態影像時，則將該兩像素中之一像素調亮，而將另一像素調暗。
简体摘要：一种用来消除影像模煳之方法，其包含有：对分别位于一视频之两连续影像之相对应位置的两像素进行移动侦测以产生一侦测结果；以及依据该侦测结果来调整该两像素之亮度，其中当该侦测结果指出该两像素属于动态影像时，则将该两像素中之一像素调亮，而将另一像素调暗。

8. 发明专利

TW200505229A 信號處理裝置及信號處理方法失效
简体标题：信号处理设备及信号处理方法
公开(公告)号：TW200505229A
公开(公告)日：2005-02-01
申请号：TW093111273
申请日：2004-04-22
申请人：新力股份有限公司 SONY CORPORATION
发明人：近藤真 KONDO, MAKOTO
IPC分类号： H04N
CPC分类号： G06T5/002 , G06T5/50 , G06T2207/20224 , H04N19/51 , H04N19/527
摘要：本發明的課題在於良好地執行雜訊的降低。為達成上述的課題，本案的移動向量偵測部，是根據輸入影像信號、和位於輸入影像信號之前一圖框的前圖框影像信號來偵測移動向量。參考畫像設定部，是選擇位於輸入影像信號之前一圖場的前圖場影像信號或移動修正影像信號中的任一個作為參考畫像信號。選擇控制部，是採用輸入影像信號與前圖框影像信號來執行移動偵測，並在移動領域內將移動修正信號作為參考畫像信號，在未移動的領域內將前圖框影像信號作為參考畫像信號。修正處理部，是從輸入影像信號與參考畫像信號的差值中抽出雜訊成分，並藉由對應該雜訊成分修正輸入影像信號的信號位準來降雜訊。
简体摘要：本发明的课题在于良好地运行噪声的降低。为达成上述的课题，本案的移动矢量侦测部，是根据输入影像信号、和位于输入影像信号之前一图框的前图框影像信号来侦测移动矢量。参考画像设置部，是选择位于输入影像信号之前一图场的前图场影像信号或移动修正影像信号中的任一个作为参考画像信号。选择控制部，是采用输入影像信号与前图框影像信号来运行移动侦测，并在移动领域内将移动修正信号作为参考画像信号，在未移动的领域内将前图框影像信号作为参考画像信号。修正处理部，是从输入影像信号与参考画像信号的差值中抽出噪声成分，并借由对应该噪声成分修正输入影像信号的信号位准来降噪声。

9. 发明专利

TWI607901B 影像修補系統及其方法有权
简体标题：影像修补系统及其方法
公开(公告)号：TWI607901B
公开(公告)日：2017-12-11
申请号：TW104136709
申请日：2015-11-06
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：詹聖瑋 , CHAN, SHENG WEI , 林哲聰 , LIN, CHE TSUNG
IPC分类号： B60R1/00 , H04N5/225 , G06T5/50 , G06T7/60
CPC分类号： G06T5/005 , G06T5/002 , G06T2207/10021 , G06T2207/10024 , G06T2207/20224 , G06T2207/30252 , H04N5/217 , H04N5/2171 , H04N5/2257 , H04N5/247

10. 发明专利

TW201738985A 用於校正自目標晶粒及參考晶粒之比較所產生之差異圖像之系統、方法及電腦程式產品审中-公开
简体标题：用于校正自目标晶粒及参考晶粒之比较所产生之差异图像之系统、方法及电脑进程产品
公开(公告)号：TW201738985A
公开(公告)日：2017-11-01
申请号：TW106113672
申请日：2017-04-24
申请人：克萊譚克公司 , KLA-TENCOR CORPORATION
发明人：普莉霍爾馬丁 , PLIHAL, MARTIN
IPC分类号： H01L21/66 , G01C11/06
CPC分类号： G06T7/001 , G03F7/7065 , G06T7/174 , G06T2207/20224 , G06T2207/30148
摘要：本發明提供一種用於校正自目標晶粒及參考晶粒之一比較所產生之一差異圖像之系統、方法及電腦程式產品。在使用中，執行一目標晶粒圖像之一晶粒內檢查以針對各關注圖案產生一第一代表性圖像。執行一參考晶粒圖像之一晶粒內檢查以針對該等關注圖案之各者產生一第二代表性圖像。進一步言之，比較該目標晶粒圖像及該參考晶粒圖像以產生至少一個差異圖像，且使用該等所產生之第一代表性圖像之各者及該等所產生之第二代表性圖像之各者校正該至少一個差異圖像。接著使用該經校正差異圖像執行偵測。
简体摘要：本发明提供一种用于校正自目标晶粒及参考晶粒之一比较所产生之一差异图像之系统、方法及电脑进程产品。在使用中，运行一目标晶粒图像之一晶粒内检查以针对各关注图案产生一第一代表性图像。运行一参考晶粒图像之一晶粒内检查以针对该等关注图案之各者产生一第二代表性图像。进一步言之，比较该目标晶粒图像及该参考晶粒图像以产生至少一个差异图像，且使用该等所产生之第一代表性图像之各者及该等所产生之第二代表性图像之各者校正该至少一个差异图像。接着使用该经校正差异图像运行侦测。

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