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    • 3. 发明专利
    • 雷射尺的光軸調整機構
    • 激光尺的光轴调整机构
    • TWI260403B
    • 2006-08-21
    • TW093137772
    • 2004-12-07
    • 亞洲光學股份有限公司 ASIA OPTICAL CO., INC.
    • 陳海華 CHEN HAI HUA陳慧卿 CHEN HUI QING
    • G01CG01B
    • G01S7/4972G01S7/4813
    • 本發明提供一種雷射尺的光軸調整機構,係設置於雷射尺上用以調整雷射光軸,雷射尺上設置有支架,光軸調整機構包括有本體及至少一調節元件,其中本體的一端部係藉轉軸以可轉動之連接方式組接於支架上,且調節元件係與前述轉軸呈一特定空間異面分隔設置,該調節元件係作用於本體上,使該本體產生一力矩而可繞前述轉軸相對於支架轉動,從而實現對光軸之調整。藉此,本發明藉轉軸及調節元件通過旋轉達成對光軸之調整,減少調節元件數量並節省調節空間,從而有利於雷射尺之微型化設計,並可以達成三維調整之效果。
    • 本发明提供一种激光尺的光轴调整机构,系设置于激光尺上用以调整激光光轴,激光尺上设置有支架,光轴调整机构包括有本体及至少一调节组件,其中本体的一端部系藉转轴以可转动之连接方式组接于支架上,且调节组件系与前述转轴呈一特定空间异面分隔设置,该调节组件系作用于本体上,使该本体产生一力矩而可绕前述转轴相对于支架转动,从而实现对光轴之调整。借此,本发明藉转轴及调节组件通过旋转达成对光轴之调整,减少调节组件数量并节省调节空间,从而有利于激光尺之微型化设计,并可以达成三维调整之效果。
    • 5. 发明专利
    • 用於偵測及分析光學系統之裝置及方法
    • 用于侦测及分析光学系统之设备及方法
    • TW524983B
    • 2003-03-21
    • TW090117071
    • 2001-07-12
    • 昆提克股份有限公司
    • 尼格爾道格拉斯海格
    • G01S
    • G01S7/4972
    • 一種用於光學系統之偵測及分析的裝置,習知技術系統利用光子散射之現象以便從測距裝置來測距物體的距離,然而,除了標靶之距離外,並無資訊可獲得自該等系統。因此,提供有一種裝置,利用單光子計數之技術及後向反射之現象來提供有關一標靶光學系統之資訊,此資訊可予以分析且相對比較於已知之光學系統而提供識別之手段;選擇性地,此資訊可於建構諸如望遠鏡或顯微鏡之精確的光學儀器時使用為品質控制之方法。
    • 一种用于光学系统之侦测及分析的设备,习知技术系统利用光子散射之现象以便从测距设备来测距物体的距离,然而,除了标靶之距离外,并无信息可获得自该等系统。因此,提供有一种设备,利用单光子计数之技术及后向反射之现象来提供有关一标靶光学系统之信息,此信息可予以分析且相对比较于已知之光学系统而提供识别之手段;选择性地,此信息可于建构诸如望远镜或显微镜之精确的光学仪器时使用为品质控制之方法。
    • 8. 发明专利
    • 雷射測距裝置及其控制方法 A LASER DISTANCE MEASURING APPARATUS AND CONTROL METHOD THEREOF
    • 激光测距设备及其控制方法 A LASER DISTANCE MEASURING APPARATUS AND CONTROL METHOD THEREOF
    • TW201020527A
    • 2010-06-01
    • TW097144750
    • 2008-11-19
    • 亞洲光學股份有限公司
    • 蔡宗岳
    • G01C
    • G01C15/002G01S7/4811G01S7/4972
    • 本發明提供一種雷射測距裝置及其控制方法,可以量測遠距離及近距離的目標物,該雷射測距裝置包括一發射元件,用以對該目標物發射一量測光、一接收元件,用以接收該目標物反射該量測光的一反射光、一反射元件,用以反射該反射光至該接收元件、一聚焦透鏡,用以將該反射光透過該反射元件聚焦在該接收元件、以及一驅動模組,藉由轉動以調整該反射元件的角度;以及一控制單元,依據該接收元件接收該反射光的强度大小與一預定値比較的結果以控制該驅動模組是否轉動。
    • 本发明提供一种激光测距设备及其控制方法,可以量测远距离及近距离的目标物,该激光测距设备包括一发射组件,用以对该目标物发射一量测光、一接收组件,用以接收该目标物反射该量测光的一反射光、一反射组件,用以反射该反射光至该接收组件、一聚焦透镜,用以将该反射光透过该反射组件聚焦在该接收组件、以及一驱动模块,借由转动以调整该反射组件的角度;以及一控制单元,依据该接收组件接收该反射光的强度大小与一预定値比较的结果以控制该驱动模块是否转动。
    • 10. 发明专利
    • 雷射尺的光軸調整機構
    • 激光尺的光轴调整机构
    • TW200619596A
    • 2006-06-16
    • TW093137772
    • 2004-12-07
    • 亞洲光學股份有限公司 ASIA OPTICAL CO., INC.
    • 陳海華 CHEN HAI HUA陳慧卿 CHEN HUI QING
    • G01CG01B
    • G01S7/4972G01S7/4813
    • 本發明提供一種雷射尺的光軸調整機構,係設置於雷射尺上用以調整雷射光軸,雷射尺上設置有支架,光軸調整機構包括有本體及至少一調節元件,其中本體的一端部係藉轉軸以可轉動之連接方式組接於支架上,且調節元件係與前述轉軸呈一特定空間異面分隔設置,該調節元件係作用於本體上,使該本體產生一力矩而可繞前述轉軸相對於支架轉動,從而實現對光軸之調整。藉此,本發明藉轉軸及調節元件通過旋轉達成對光軸之調整,減少調節元件數量並節省調節空間,從而有利於雷射尺之微型化設計,並可以達成三維調整之效果。
    • 本发明提供一种激光尺的光轴调整机构,系设置于激光尺上用以调整激光光轴,激光尺上设置有支架,光轴调整机构包括有本体及至少一调节组件,其中本体的一端部系藉转轴以可转动之连接方式组接于支架上,且调节组件系与前述转轴呈一特定空间异面分隔设置,该调节组件系作用于本体上,使该本体产生一力矩而可绕前述转轴相对于支架转动,从而实现对光轴之调整。借此,本发明藉转轴及调节组件通过旋转达成对光轴之调整,减少调节组件数量并节省调节空间,从而有利于激光尺之微型化设计,并可以达成三维调整之效果。