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    • 9. 发明专利
    • 呈色晶片分析儀之系統設定方法
    • 呈色芯片分析仪之系统设置方法
    • TW200912309A
    • 2009-03-16
    • TW096132910
    • 2007-09-04
    • 開物科技股份有限公司 KAIWOOD TECHNOLOGY CO., LTD.
    • 吳自强 WU, TZU CHIANG莊建和 CHUANG, CHIEN HO莊琮凱 CHUANG, TSUNG KAI王建華 WANG, JIANN HUA
    • G01N
    • G01N35/00732G01N2035/00851
    • 本發明是關於一種呈色晶片分析儀之系統設定方法,可改變該分析儀的參數與測試條件,藉以提昇分析儀對於多種規格之呈色晶片的適用範圍。使用本發明方法可藉由讀取射頻識別標識(RFID)標籤資料內的識別密碼及授權次數,能避免分析儀的設定狀態被無意改變,另外,也能藉由授權次數統計所檢測的呈色晶片數量。本發明呈色晶片分析儀之系統設定方法包含:從該射頻識別標識標籤讀取一識別密碼、一授權次數以及關於該呈色晶片之規格與分析參數;根據該識別密碼與授權次數,決定是否載入關於該呈色晶片之規格與分析參數;以及若載入關於該呈色晶片之規格與分析參數,則遞減該授權次數,且基於該呈色晶片之規格與分析參數,分析該呈色晶片。
    • 本发明是关于一种呈色芯片分析仪之系统设置方法,可改变该分析仪的参数与测试条件,借以提升分析仪对于多种规格之呈色芯片的适用范围。使用本发明方法可借由读取射频识别标识(RFID)标签数据内的识别密码及授权次数,能避免分析仪的设置状态被无意改变,另外,也能借由授权次数统计所检测的呈色芯片数量。本发明呈色芯片分析仪之系统设置方法包含:从该射频识别标识标签读取一识别密码、一授权次数以及关于该呈色芯片之规格与分析参数;根据该识别密码与授权次数,决定是否加载关于该呈色芯片之规格与分析参数;以及若加载关于该呈色芯片之规格与分析参数,则递减该授权次数,且基于该呈色芯片之规格与分析参数,分析该呈色芯片。