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热词
    • 1. 发明专利
    • 呈色晶片分析儀之系統設定方法
    • 呈色芯片分析仪之系统设置方法
    • TW200912309A
    • 2009-03-16
    • TW096132910
    • 2007-09-04
    • 開物科技股份有限公司 KAIWOOD TECHNOLOGY CO., LTD.
    • 吳自强 WU, TZU CHIANG莊建和 CHUANG, CHIEN HO莊琮凱 CHUANG, TSUNG KAI王建華 WANG, JIANN HUA
    • G01N
    • G01N35/00732G01N2035/00851
    • 本發明是關於一種呈色晶片分析儀之系統設定方法,可改變該分析儀的參數與測試條件,藉以提昇分析儀對於多種規格之呈色晶片的適用範圍。使用本發明方法可藉由讀取射頻識別標識(RFID)標籤資料內的識別密碼及授權次數,能避免分析儀的設定狀態被無意改變,另外,也能藉由授權次數統計所檢測的呈色晶片數量。本發明呈色晶片分析儀之系統設定方法包含:從該射頻識別標識標籤讀取一識別密碼、一授權次數以及關於該呈色晶片之規格與分析參數;根據該識別密碼與授權次數,決定是否載入關於該呈色晶片之規格與分析參數;以及若載入關於該呈色晶片之規格與分析參數,則遞減該授權次數,且基於該呈色晶片之規格與分析參數,分析該呈色晶片。
    • 本发明是关于一种呈色芯片分析仪之系统设置方法,可改变该分析仪的参数与测试条件,借以提升分析仪对于多种规格之呈色芯片的适用范围。使用本发明方法可借由读取射频识别标识(RFID)标签数据内的识别密码及授权次数,能避免分析仪的设置状态被无意改变,另外,也能借由授权次数统计所检测的呈色芯片数量。本发明呈色芯片分析仪之系统设置方法包含:从该射频识别标识标签读取一识别密码、一授权次数以及关于该呈色芯片之规格与分析参数;根据该识别密码与授权次数,决定是否加载关于该呈色芯片之规格与分析参数;以及若加载关于该呈色芯片之规格与分析参数,则递减该授权次数,且基于该呈色芯片之规格与分析参数,分析该呈色芯片。
    • 2. 发明专利
    • 檢測盤之影像檢測方法
    • 检测盘之影像检测方法
    • TW200841014A
    • 2008-10-16
    • TW096112275
    • 2007-04-09
    • 開物科技股份有限公司 KAIWOOD TECHNOLOGY CO., LTD.
    • 吳自强 WU, TZU CHIANG林謙德 LIN, CHIEN DER
    • G01NG06K
    • 本發明是關於一種檢測盤之影像檢測方法,可同時偵檢測複數個檢測區域的反應線變化,大幅提昇檢測效率。使用本發明方法之檢測盤得以具有射頻識別標識(RFID)標籤,且該檢測盤具有至少一檢測區域,而該檢測區域內設有至少一反應線,本發明檢測盤之影像檢測方法包含:從檢測盤上或檢測設備讀卡機內的該射頻識別標識標籤讀取該檢測盤的相關參數,或由電腦外檔案載入方式讀入相關參數;檢測該檢測盤的影像變化是否穩定;當該檢測盤的影像變化穩定後,分析該檢測盤的影像中反應線的顏色與該檢測區域的背景顏色;計算該反應線的顏色相對於該檢測區域的背景顏色的强度差;以及基於該强度差,決定該檢測區域內反應線的反應。
    • 本发明是关于一种检测盘之影像检测方法,可同时侦检测复数个检测区域的反应线变化,大幅提升检测效率。使用本发明方法之检测盘得以具有射频识别标识(RFID)标签,且该检测盘具有至少一检测区域,而该检测区域内设有至少一反应线,本发明检测盘之影像检测方法包含:从检测盘上或检测设备读卡机内的该射频识别标识标签读取该检测盘的相关参数,或由电脑外文档加载方式读入相关参数;检测该检测盘的影像变化是否稳定;当该检测盘的影像变化稳定后,分析该检测盘的影像中反应线的颜色与该检测区域的背景颜色;计算该反应线的颜色相对于该检测区域的背景颜色的强度差;以及基于该强度差,决定该检测区域内反应线的反应。