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1. 发明专利

TWI229015B 用以評估、確定、蒸散多組份液體之方法與裝置 METHOD AND APPARATUS FOR EVALUATING, ASCERTAINING, AND EVAPORATING MULTI-COMPONENT LIQUIDS 失效
简体标题：用以评估、确定、蒸散多组份液体之方法与设备 METHOD AND APPARATUS FOR EVALUATING, ASCERTAINING, AND EVAPORATING MULTI-COMPONENT LIQUIDS
公开(公告)号：TWI229015B
公开(公告)日：2005-03-11
申请号：TW092102442
申请日：2003-02-06
申请人： S C 强生父子公司 S.C. JOHNSON & SON, INC.
发明人：希瑟R. 許瑞姆 HEATHER R. SCHRAMM , 艾德華J. 馬汀三世 EDWARD J. MARTENS, III , 蘇珊M. 克勞森 SUSAN M. CLAUSEN , 帕德瑪P. 瓦拉納西 PADMA P. VARANASI , 傑西B. 克蘭達 JESSE BEN CRANDALL
IPC分类号： B05B
CPC分类号： A01M1/205 , A61L9/14 , A61L9/145 , A61L9/16 , B05B17/0646 , B05B17/0684 , G01N13/02 , G01N25/02 , G01N2013/0241
摘要：一種霧化器10將得自貯器20之多組份液體霧化成為含小滴38之雲霧14，小滴38噴射入大氣中至某個高度且讓其朝向表面12落下。經由根據預定關係維持小滴大小、液體組份蒸器壓以及小滴落下高度，可確保大致完全蒸散。此外，一種液體是否適合於振動板霧化器蒸散之適合性可經由測定預定量液體已經由懸吊液滴蒸散之後，液滴尺寸縮小速率以及懸吊液滴表面張力決定。
简体摘要：一种雾化器10将得自贮器20之多组份液体雾化成为含小滴38之云雾14，小滴38喷射入大气中至某个高度且让其朝向表面12落下。经由根据预定关系维持小滴大小、液体组份蒸器压以及小滴落下高度，可确保大致完全蒸散。此外，一种液体是否适合于振动板雾化器蒸散之适合性可经由测定预定量液体已经由悬吊液滴蒸散之后，液滴尺寸缩小速率以及悬吊液滴表面张力决定。

2. 发明专利

TW200428113A 液晶顯示裝置用間隔物及液晶顯示裝置用間隔物之製造方法审中-公开
简体标题：液晶显示设备用间隔物及液晶显示设备用间隔物之制造方法
公开(公告)号：TW200428113A
公开(公告)日：2004-12-16
申请号：TW092134127
申请日：2003-12-04
申请人：積水化學工業股份有限公司 SEKISUI CHEMICAL CO., LTD.
发明人：高橋徹 TETSU TAKAHASHI , 一谷基邦 , 吉谷博司
IPC分类号： G02F
CPC分类号： G02F1/13392 , G01N13/02 , G01N2013/0208
摘要：本發明之目的在於提供一種針對液晶顯示裝置之光阻斷時以及振動時之液晶顯示裝置用間隔物周圍之透光加以改善，且乾式散佈性良好之液晶顯示裝置用間隔物及液晶顯示裝置用間隔物之製造方法。本發明之液晶顯示裝置用間隔物，係由基材粒子、於該基材粒子表面所被覆之聚合物所構成者；其特徵在於：以液晶顯示裝置製造時之退火處理溫度T1以上之溫度進行1小時以上退火處理後冷卻、於25℃所測定之水的接觸角A1與不進行前述退火處理、於25℃所測定之水的接觸角B係滿足下式(1)之關係：A1－B≧1°(1)。
简体摘要：本发明之目的在于提供一种针对液晶显示设备之光阻断时以及振动时之液晶显示设备用间隔物周围之透光加以改善，且干式散布性良好之液晶显示设备用间隔物及液晶显示设备用间隔物之制造方法。本发明之液晶显示设备用间隔物，系由基材粒子、于该基材粒子表面所被覆之聚合物所构成者；其特征在于：以液晶显示设备制造时之退火处理温度T1以上之温度进行1小时以上退火处理后冷却、于25℃所测定之水的接触角A1与不进行前述退火处理、于25℃所测定之水的接触角B系满足下式(1)之关系：A1－B≧1°(1)。

3. 发明专利

TW280984B 偵測基板上塗覆材料之方法失效
简体标题：侦测基板上涂覆材料之方法
公开(公告)号：TW280984B
公开(公告)日：1996-07-11
申请号：TW084102076
申请日：1995-03-04
申请人：美國電話電報股份有限公司
发明人：馬克.哈恩 , 瑪莉.潘德森
IPC分类号： H05K , G01R
CPC分类号： G01N13/02 , G01N2013/0275 , H05K3/28 , H05K3/282 , H05K2203/0591
摘要：一種用以偵測在銅基材上是否有塗覆材料－尤其是像咪唑的有機焊接保持劑－存在的方法，它包括將測試液滴放在基材表面，使液滴形成影像並量測由液滴外壁與基材表面所夾的接觸角度。
简体摘要：一种用以侦测在铜基材上是否有涂覆材料－尤其是像咪唑的有机焊接保持剂－存在的方法，它包括将测试液滴放在基材表面，使液滴形成影像并量测由液滴外壁与基材表面所夹的接触角度。

4. 发明专利

TW265279B 供分配及霧化流體產品之霧化系統失效
简体标题：供分配及雾化流体产品之雾化系统
公开(公告)号：TW265279B
公开(公告)日：1995-12-11
申请号：TW083106465
申请日：1994-07-15
申请人：寶鹼公司
发明人：朗德,馬克.湯瑪斯 , 梅利特.喬伊絲.羅絲
IPC分类号： B05B
CPC分类号： B05B1/3436 , B05B11/0005 , B05B15/50 , G01N13/02
摘要：本發明提供一種為使具有成膜性之流體產品達成分配及霧化目的之改良霧化系統。霧化系統包含可霧化流體產品之噴嘴，該噴嘴係由可降低吸濕性之組成物所構成，該降低吸濕性之組成物包含基本材料及可降低具有流體產品之基本材料吸濕性的成份。降低吸濕性的特質確保產品容易在噴嘴組件表面形成珠狀而不會使表面發生濕潤或塗覆。產品膜當曝露於大氣時，很容易乾掉而使重要的噴嘴表面形成殘留，本發明噴嘴表面將易排斥產品，一旦解除流體噴向噴嘴之供給壓力，重要的噴嘴表面實質上可免於產品膜的沾黏。降低噴嘴組件之吸濕性較佳是加入熔融態添加劑，以增加噴嘴基本材料的所需性質。另外根據本發明之改良霧化器噴嘴，較佳是改變噴嘴通道的橫截面積，利用毛細管壓力的現象，使得供給壓力一旦解除後，可進一步加強流體移離噴嘴孔。
简体摘要：本发明提供一种为使具有成膜性之流体产品达成分配及雾化目的之改良雾化系统。雾化系统包含可雾化流体产品之喷嘴，该喷嘴系由可降低吸湿性之组成物所构成，该降低吸湿性之组成物包含基本材料及可降低具有流体产品之基本材料吸湿性的成份。降低吸湿性的特质确保产品容易在喷嘴组件表面形成珠状而不会使表面发生湿润或涂覆。产品膜当曝露于大气时，很容易干掉而使重要的喷嘴表面形成残留，本发明喷嘴表面将易排斥产品，一旦解除流体喷向喷嘴之供给压力，重要的喷嘴表面实质上可免于产品膜的沾黏。降低喷嘴组件之吸湿性较佳是加入熔融态添加剂，以增加喷嘴基本材料的所需性质。另外根据本发明之改良雾化器喷嘴，较佳是改变喷嘴信道的横截面积，利用毛细管压力的现象，使得供给压力一旦解除后，可进一步加强流体移离喷嘴孔。

5. 发明专利

TW201530137A 塗料及塗料形成材料之縮孔檢測方法审中-公开
简体标题：涂料及涂料形成材料之缩孔检测方法
公开(公告)号：TW201530137A
公开(公告)日：2015-08-01
申请号：TW103125316
申请日：2014-07-24
申请人：日本油漆股份有限公司 , NIPPON PAINT CO., LTD.
发明人：鄕司春憲 , GOUJI, HARUNORI , 岩田顯範 , IWATA, AKINORI , 河野友浩 , KONO, TOMOHIRO , 川畑和豊 , KAWABATA, KAZUTOYO
IPC分类号： G01N33/00
CPC分类号： G01N33/32 , G01N13/02
摘要：本發明的目的在於確立下述方法：簡便且高感度地檢知塗料之原料中或塗料中的縮孔等之致因物質的存在，而判斷塗料發生縮孔等之可能性(縮孔性)的方法。本發明係提供一種判斷材料縮孔性的方法，係利用拉美勒長(lamella length)來判斷材料縮孔性的方法，該方法包含：步驟1：選定不產生縮孔之材料；步驟2：測定上述不產生縮孔之材料的拉美勒長，而決定基準拉美勒長；及步驟3：測定測定用材料的拉美勒長，並將低於基準拉美勒長之預定%者認定為可能縮孔的材料。
简体摘要：本发明的目的在于确立下述方法：简便且高感度地检知涂料之原料中或涂料中的缩孔等之致因物质的存在，而判断涂料发生缩孔等之可能性(缩孔性)的方法。本发明系提供一种判断材料缩孔性的方法，系利用拉美勒长(lamella length)来判断材料缩孔性的方法，该方法包含：步骤1：选定不产生缩孔之材料；步骤2：测定上述不产生缩孔之材料的拉美勒长，而决定基准拉美勒长；及步骤3：测定测定用材料的拉美勒长，并将低于基准拉美勒长之预定%者认定为可能缩孔的材料。

6. 发明专利

TW201128178A 測量表面張力之裝置及其方法审中-公开
简体标题：测量表面张力之设备及其方法
公开(公告)号：TW201128178A
公开(公告)日：2011-08-16
申请号：TW099104603
申请日：2010-02-12
申请人：私立中原大學
发明人：翁輝竹
IPC分类号： G01N
CPC分类号： G01N13/02
摘要：本發明係有關於一種測量表面張力之裝置及其方法，其包含一容器與一孔洞，容器內置一待測液體，孔洞設置於容器之一壁面上，待測液體於孔洞形成一液滴，其中待測液體之表面張力相關於容器之內部氣壓與外部氣壓和待測液體位於容器之高度，藉由控制液面上升的高度或容器內外的氣壓差，即可測得待測液體的表面張力，以達到降低測定時間、佔用空間、儀器成本、量測誤差值及操作複雜度之目的。
简体摘要：本发明系有关于一种测量表面张力之设备及其方法，其包含一容器与一孔洞，容器内置一待测液体，孔洞设置于容器之一壁面上，待测液体于孔洞形成一液滴，其中待测液体之表面张力相关于容器之内部气压与外部气压和待测液体位于容器之高度，借由控制液面上升的高度或容器内外的气压差，即可测得待测液体的表面张力，以达到降低测定时间、占用空间、仪器成本、量测误差值及操作复杂度之目的。

7. 发明专利

TW308645B 基板表面之有機物污染之評估裝置及方法失效
简体标题：基板表面之有机物污染之评估设备及方法
公开(公告)号：TW308645B
公开(公告)日：1997-06-21
申请号：TW085106512
申请日：1996-05-31
申请人：高砂熱學工業股份有限公司
发明人：佐藤克己 , 阪田總一郎 , 高橋秀人
IPC分类号： G01N
CPC分类号： G01N13/02 , G01N27/041 , G01N2013/0241
摘要：本發明係使電極106與表面形成絕緣層的基板104密合而在相同相對濕度環境氣之下經時測定其表面電阻率(Rs)或經時測定滴下到基板206表面的液滴207之接觸角(α)。然後，藉由比較對於剛洗淨後基板的測定值和對於曝露於預定時間評價對象環境氣後基板的測定值，可簡便評估環境氣由來的基板表面之有機物污染。
简体摘要：本发明系使电极106与表面形成绝缘层的基板104密合而在相同相对湿度环境气之下经时测定其表面电阻率(Rs)或经时测定滴下到基板206表面的液滴207之接触角(α)。然后，借由比较对于刚洗净后基板的测定值和对于曝露于预定时间评价对象环境气后基板的测定值，可简便评估环境气由来的基板表面之有机物污染。

8. 发明专利

TWI413764B 測量表面張力之裝置及其方法有权
简体标题：测量表面张力之设备及其方法
公开(公告)号：TWI413764B
公开(公告)日：2013-11-01
申请号：TW099104603
申请日：2010-02-12
申请人：私立中原大學 , CHUNG-YUAN CHRISTIAN UNIVERSITY
发明人：翁輝竹
IPC分类号： G01N13/02
CPC分类号： G01N13/02

9. 发明专利

TW200303793A 用以蒸散多組份液體之方法與裝置 METHOD AND APPARATUS FOR EVAPORATING MULTI-COMPONENT LIQUIDS 失效
简体标题：用以蒸散多组份液体之方法与设备 METHOD AND APPARATUS FOR EVAPORATING MULTI-COMPONENT LIQUIDS
公开(公告)号：TW200303793A
公开(公告)日：2003-09-16
申请号：TW092102442
申请日：2003-02-06
申请人： S C 强生父子公司 S.C.JOHNSON & SON,INC.
发明人：希瑟R 許瑞姆 HEATHER R. SCHRAMM , 艾德華J 馬汀三世 EDWARD J. MARTENS, III , 蘇珊M 克勞森 SUSAN M. CLAUSEN , 帕德瑪P 瓦拉納西 PADMA P. VARANASI , 傑西B 克蘭達 JESSE BEN CRANDALL
IPC分类号： B05B
CPC分类号： A01M1/205 , A61L9/14 , A61L9/145 , A61L9/16 , B05B17/0646 , B05B17/0684 , G01N13/02 , G01N25/02 , G01N2013/0241
摘要：一種霧化器10將得自貯器20之多組份液體霧化成為含小滴38之雲霧14，小滴38噴射入大氣中至某個高度且讓其朝向表面12落下。經由根據預定關係維持小滴大小、液體組份蒸器壓以及小滴落下高度，可確保大致完全蒸散。此外，一種液體是否適合於振動板霧化器蒸散之適合性可經由測定預定量液體已經由懸吊液滴蒸散之後，液滴尺寸縮小速率以及懸吊液滴表面張力決定。
简体摘要：一种雾化器10将得自贮器20之多组份液体雾化成为含小滴38之云雾14，小滴38喷射入大气中至某个高度且让其朝向表面12落下。经由根据预定关系维持小滴大小、液体组份蒸器压以及小滴落下高度，可确保大致完全蒸散。此外，一种液体是否适合于振动板雾化器蒸散之适合性可经由测定预定量液体已经由悬吊液滴蒸散之后，液滴尺寸缩小速率以及悬吊液滴表面张力决定。

10. 发明专利

TW305790B 在控制下的氣層中測量沾濕性的設備和方法失效
简体标题：在控制下的气层中测量沾湿性的设备和方法
公开(公告)号：TW305790B
公开(公告)日：1997-05-21
申请号：TW084108089
申请日：1995-08-03
申请人：液態空氣.喬治斯.克勞帝方法研究開發股份有限公司
发明人：尼古拉.波帝埃 , 馬克.賴圖爾密
IPC分类号： B23K
CPC分类号： G01N13/02 , B23K31/12
摘要：於受控制氣層下，一套能測量沾濕性的設備，包括一台如圖2所示的儀器(5)，用以測量樣品對於液態金屬焊料在其至少一個表面部份的沾濕性。至少有部份儀器納入封閉箱(6)之內，此封閉箱有一個瓦斯噴射器。此噴射器由至少一組的導管(10)組成。導管可以縱向排列或者平行排列，亦可混合排列。至少有部份導管具有噴氣小孔，由至少一支連向主連結節的瓦斯供應管供氣。這個組合的尺寸遵循下列之關係：圖２
Σωi/Σψi≧１，最好是≧1.5；
此處Σωi代表為向該組導管供氣的瓦斯供應管的內截面的面積總和。Σψi代表在該組導管上所有瓦斯噴氣小孔的截面積總和。
简体摘要：于受控制气层下，一套能测量沾湿性的设备，包括一台如图2所示的仪器(5)，用以测量样品对于液态金属焊料在其至少一个表面部份的沾湿性。至少有部份仪器纳入封闭箱(6)之内，此封闭箱有一个瓦斯喷射器。此喷射器由至少一组的导管(10)组成。导管可以纵向排列或者平行排列，亦可混合排列。至少有部份导管具有喷气小孔，由至少一支连向主链接节的瓦斯供应管供气。这个组合的尺寸遵循下列之关系：图２ Σωi/Σψi≧１，最好是≧1.5；此处Σωi代表为向该组导管供气的瓦斯供应管的内截面的面积总和。Σψi代表在该组导管上所有瓦斯喷气小孔的截面积总和。

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