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1. 发明专利

TWI487890B 具有耳道感測裝置之耳溫槍有权
简体标题：具有耳道传感设备之耳温枪
公开(公告)号：TWI487890B
公开(公告)日：2015-06-11
申请号：TW099105943
申请日：2010-03-02
申请人：熱映光電股份有限公司
发明人：翁念瑜 , WENG, NIEN YU , 韓文貞
IPC分类号： G01K7/00 , G01K1/00 , A61B5/01
CPC分类号： G01J5/00

2. 发明专利

TW201421755A 熱電轉換裝置及選擇性吸收膜审中-公开
简体标题：热电转换设备及选择性吸收膜
公开(公告)号：TW201421755A
公开(公告)日：2014-06-01
申请号：TW101143958
申请日：2012-11-23
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：林俊凱 , LIN, CHUN KAI , 莊瑞誠 , JUANG, REI CHENG , 陳奕瑞 , CHEN, YI RAY , 陳光耀 , CHEN, KUANG YAO , 葉建弦 , YEH, CHIEN HSUAN , 徐曉萱 , HSU, HSIAO HSUAN , 林育立 , LIN, YU LI
IPC分类号： H01L35/02 , H01L35/12
CPC分类号： H01L35/30 , G01J5/00 , G01J5/12 , H01L35/02
摘要：一種熱電轉換裝置及選擇性吸收膜。熱電轉換裝置包括至少一第一選擇性吸收膜、一冷端基板、至少一第一熱電元件對、一第一導電基板以及一第二導電基板。第一選擇性吸收膜用以非接觸地吸收一預設限制波段的熱輻射。第一熱電元件對配置於第一選擇性吸收膜與冷端基板之間，第一熱電元件對包括一第一N型熱電元件及一第一P型熱電元件。第一導電基板配置於冷端基板與第一N型熱電元件之間。第二導電基板配置於冷端基板與第一P型熱電元件之間，其中，熱電元件對反應於第一選擇性吸收膜與冷端基板之間的溫差產生一電流進行發電。
简体摘要：一种热电转换设备及选择性吸收膜。热电转换设备包括至少一第一选择性吸收膜、一冷端基板、至少一第一热电组件对、一第一导电基板以及一第二导电基板。第一选择性吸收膜用以非接触地吸收一默认限制波段的热辐射。第一热电组件对配置于第一选择性吸收膜与冷端基板之间，第一热电组件对包括一第一N型热电组件及一第一P型热电组件。第一导电基板配置于冷端基板与第一N型热电组件之间。第二导电基板配置于冷端基板与第一P型热电组件之间，其中，热电组件对反应于第一选择性吸收膜与冷端基板之间的温差产生一电流进行发电。

3. 发明专利

TWI597050B 體溫計有权
简体标题：体温计
公开(公告)号：TWI597050B
公开(公告)日：2017-09-01
申请号：TW105118784
申请日：2016-06-15
申请人：拜歐艾科網絡股份有限公司 , BIO ECHO NET INC
发明人：田中秀樹 , TANAKA, HIDEKI
IPC分类号： A61B5/01
CPC分类号： A61B5/01 , A61B5/0086 , G01J5/00 , G01K13/004

4. 发明专利

TW201131149A 具有耳道感測裝置之耳溫槍及其量測方法审中-公开
简体标题：具有耳道传感设备之耳温枪及其量测方法
公开(公告)号：TW201131149A
公开(公告)日：2011-09-16
申请号：TW099105943
申请日：2010-03-02
申请人：熱映光電股份有限公司
发明人：翁念瑜
IPC分类号： G01K , A61B
CPC分类号： G01J5/00
摘要：本發明提供一種具有耳道感測裝置之耳溫槍及其量測方法，該耳溫槍內主要包括兩個感測器，其一為近接感測器安裝於探頭上，可判斷探頭是否為插入耳道狀態，作為耳道感測裝置，用以自動切換量測模式為耳溫模式或第二模式，如額溫、表面溫度或室溫；而另一感測器為紅外線感測器，用以測量溫度；當近接感測器判斷出量測模式後，以紅外線感測器進行溫度量測，並透過一控制模組處理訊號後於一顯示單元上顯示。本發明中利用近接感測器做為探頭是否插入耳道之判斷，以切換量測模式，可將兩種以上之溫度量測結合於一機中。
简体摘要：本发明提供一种具有耳道传感设备之耳温枪及其量测方法，该耳温枪内主要包括两个传感器，其一为近接传感器安装于探头上，可判断探头是否为插入耳道状态，作为耳道传感设备，用以自动切换量测模式为耳温模式或第二模式，如额温、表面温度或室温；而另一传感器为红外线传感器，用以测量温度；当近接传感器判断出量测模式后，以红外线传感器进行温度量测，并透过一控制模块处理信号后于一显示单元上显示。本发明中利用近接传感器做为探头是否插入耳道之判断，以切换量测模式，可将两种以上之温度量测结合于一机中。

5. 发明专利

TW201348681A 紅外線變換元件、攝像裝置及攝像方法审中-公开
简体标题：红外线变换组件、摄像设备及摄像方法
公开(公告)号：TW201348681A
公开(公告)日：2013-12-01
申请号：TW102112737
申请日：2013-04-10
申请人：新力股份有限公司 , SONY CORPORATION
发明人：屋上公二郎 , YAGAMI, KOJIRO , 阿部秀司 , ABE, HIDESHI , 平田達司郎 , HIRATA, TATSUSHIRO
IPC分类号： G01J1/04 , H01L27/14 , H04N5/33
CPC分类号： H04N5/33 , G01J5/00 , G01J5/046 , G01J5/0853 , G01J5/58 , G01J2005/0077 , G02F1/353 , G02F2202/36 , G02F2203/11 , G02F2203/12 , H01L27/14649 , H04N17/002
摘要：本發明之紅外線變換元件包含基體122、及形成於基體122上之金屬微粒子層123，金屬微粒子層123包含金屬微粒子124、及填滿金屬微粒子124與金屬微粒子124之間且吸收入射之紅外線之介電材料125。或者，檢測紅外線之吸收引起之受光材料125之介電常數變化作為基於局部電漿子共振之散射光強度變化，藉此將紅外線變換成可見光而進行檢測。
简体摘要：本发明之红外线变换组件包含基体122、及形成于基体122上之金属微粒子层123，金属微粒子层123包含金属微粒子124、及填满金属微粒子124与金属微粒子124之间且吸收入射之红外线之介电材料125。或者，检测红外线之吸收引起之受光材料125之介电常数变化作为基于局部等离子子共振之散射光强度变化，借此将红外线变换成可见光而进行检测。

6. 发明专利

TW201331563A 光學測溫器及使用此光學測溫器的半導體處理裝置审中-公开
简体标题：光学测温器及使用此光学测温器的半导体处理设备
公开(公告)号：TW201331563A
公开(公告)日：2013-08-01
申请号：TW101142083
申请日：2012-11-12
申请人：三星電子股份有限公司 , SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：許寅會 , HUR, IN-HOE , 申東明 , SHIN, DONG-MYUNG , 洪鍾波 , HONG, JONG-PA , 金秋浩 , KIM, CHOO-HO , 池元秀 , JI, WON-SOO , 金俊佑 , KIM, JUN-WOO
IPC分类号： G01K7/08 , H01L21/67 , H01L21/324
CPC分类号： G01J5/00 , G01J5/0007 , G01J5/029 , G01J5/048 , G01J5/0818 , H05B1/00
摘要：一種光學測溫器，包括一接收部與一外殼部。接收部具有接收端以用於接收加熱單元的光輻射。外殼部覆蓋所述接收部，而接收部的接收端除外。其中，接收部之接收端的橫截面區域垂直於接收部之接收端的一縱向方向，且接收部之接收端的橫截面區域朝著接收部之接收端的一端部而減少。
简体摘要：一种光学测温器，包括一接收部与一外壳部。接收部具有接收端以用于接收加热单元的光辐射。外壳部覆盖所述接收部，而接收部的接收端除外。其中，接收部之接收端的横截面区域垂直于接收部之接收端的一纵向方向，且接收部之接收端的横截面区域朝着接收部之接收端的一端部而减少。

7. 发明专利

TW295628B 配線基板之檢查裝置失效
简体标题：配线基板之检查设备
公开(公告)号：TW295628B
公开(公告)日：1997-01-11
申请号：TW085102226
申请日：1996-02-27
申请人：夏普股份有限公司
发明人：綦田吉祐
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G09G3/006 , G01J5/00 , G01J5/0096 , G01J2005/0077 , G01R31/309
摘要：本發明之目的為短配線基板的檢查時間。在裝載台13上方所裝載的基板構件12的源訊號配線自訊號給手段17以框體14的端子為中介而外加高頻訊號。對基板構件12的掃描配線外加以電壓絕對值比高頻訊號的電壓振幅大、且電壓極性為正的訊號。在外加訊號的狀態下的基板構件12以攝影手段15來拍攝其紅外線影像。又影像處理手段16以攝影手段15所給的影像數據﹐係因紅外線的放射量而變化其反差而所形成的紅外線影像﹐且以上述紅外線影像分割成配線圖樣相等大小之複數個區域。而控制手段18將所分割的各區域的影像各與其鄰接的複數個區域的影像加以比較而檢測出其相異點。對可檢測相異點的場合﹐即可判斷為該區域有瑕疵。
简体摘要：本发明之目的为短配线基板的检查时间。在装载台13上方所装载的基板构件12的源信号配线自信号给手段17以框体14的端子为中介而外加高频信号。对基板构件12的扫描配线外加以电压绝对值比高频信号的电压振幅大、且电压极性为正的信号。在外加信号的状态下的基板构件12以摄影手段15来拍摄其红外线影像。又影像处理手段16以摄影手段15所给的影像数据﹐系因红外线的放射量而变化其反差而所形成的红外线影像﹐且以上述红外线影像分割成配线图样相等大小之复数个区域。而控制手段18将所分割的各区域的影像各与其邻接的复数个区域的影像加以比较而检测出其相异点。对可检测相异点的场合﹐即可判断为该区域有瑕疵。

8. 发明专利

TW201729218A 識別系統、振動產生裝置及識別方法审中-公开
简体标题：识别系统、振动产生设备及识别方法
公开(公告)号：TW201729218A
公开(公告)日：2017-08-16
申请号：TW105137578
申请日：2016-11-17
申请人：三菱重工業股份有限公司 , MITSUBISHI HEAVY INDUSTRIES, LTD.
发明人：馬越俊光 , UMAKOSHI, TOSHIMITSU , 岡本知久 , OKAMOTO, TOMOHISA , 濵口涼吉 , HAMAGUCHI, RYOKICHI
IPC分类号： G21C17/017
CPC分类号： E04G23/08 , F17D5/00 , G01J5/00 , G01J5/48 , G01N25/68 , G01V9/00 , G21C17/003 , G21F9/30
摘要：本發明之識別系統具備：氣體供給裝置，其具有氣體溫度調整器，且將調整為與空間之溫度不同溫度之氣體供給至配置於空間之複數個配管中之特定配管；配管溫度資料獲取部，其獲取表示包含特定配管之複數個配管各者的溫度之配管溫度資料；及輸出控制部，其輸出以配管溫度資料獲取部獲取之配管溫度資料。
简体摘要：本发明之识别系统具备：气体供给设备，其具有气体温度调整器，且将调整为与空间之温度不同温度之气体供给至配置于空间之复数个配管中之特定配管；配管温度数据获取部，其获取表示包含特定配管之复数个配管各者的温度之配管温度数据；及输出控制部，其输出以配管温度数据获取部获取之配管温度数据。

9. 发明专利

TW201214507A 將層厚度最佳化的Ｊｅｔｔ構造 SCHICHTDICKEN OPTIMIERENDES JETTLAYOUT 审中-公开
简体标题：将层厚度最优化的Ｊｅｔｔ构造 SCHICHTDICKEN OPTIMIERENDES JETTLAYOUT
公开(公告)号：TW201214507A
公开(公告)日：2012-04-01
申请号：TW100123977
申请日：2011-07-07
申请人：羅伯特博斯奇股份有限公司
发明人：法爾魯本 , 庫格勒安德亞斯
IPC分类号： H01L , B81C
CPC分类号： B81C1/00373 , B81C2201/0184 , B81C2201/019 , G01J5/00 , H01L51/0005 , H05K1/16
摘要：一種製造一電構件或電子構件(1)的方法，該構件包含一印刷的第一構造(3)，該方法包含以下步驟：--提供一基材(2)；--將一第一構造(3)利用Jett方法印刷到基材(2)上；其中該印刷之第一構造(3)包含至少一第一角隅(5)；--將一第二構造(4)利用Jett方法印刷，從第一構造(3)的一第一角隅(5)一直印刷到第一構造(3)外的一端點為止，如此第二構造(4)與第一構造(3)接觸，且其中只要第一構造(3)之第二構造(4)接觸的材料至少部分地呈流動狀態時，此印刷作業就一直進行；且--將第一構造(3)及/或第二構造(4)作電接觸。
简体摘要：一种制造一电构件或电子构件(1)的方法，该构件包含一印刷的第一构造(3)，该方法包含以下步骤：--提供一基材(2)；--将一第一构造(3)利用Jett方法印刷到基材(2)上；其中该印刷之第一构造(3)包含至少一第一角隅(5)；--将一第二构造(4)利用Jett方法印刷，从第一构造(3)的一第一角隅(5)一直印刷到第一构造(3)外的一端点为止，如此第二构造(4)与第一构造(3)接触，且其中只要第一构造(3)之第二构造(4)接触的材料至少部分地呈流动状态时，此印刷作业就一直进行；且--将第一构造(3)及/或第二构造(4)作电接触。

10. 发明专利

TW357261B 印刷卡之溫度測試裝置失效
简体标题：印刷卡之温度测试设备
公开(公告)号：TW357261B
公开(公告)日：1999-05-01
申请号：TW086118016
申请日：1997-12-01
申请人：三菱電機股份有限公司
发明人：高田潤二 , 犀川真一
IPC分类号： G01K , H05K
CPC分类号： G01J5/00 , G01J5/0096 , G01J5/0205 , G01J5/025 , G01J5/04 , G01J5/047 , G01J5/08 , G01J5/0809 , G01J5/0821 , G01J5/084 , G01J5/0893 , G01J2005/0077
摘要：本發明提供一種印刷卡之溫度測試裝置，將印刷卡安裝於卡架內文狀態測試溫度分布。
將鏡15以平行於印刷卡7之方向移動而反射印刷卡7所放射之紅外線，透過反射之紅外線之同時經由遮斷卡架21之內部與外部之空氣流之漏風防止用整風板18使用紅外線照像機等檢測裝置16檢測，其檢測信號由個人電腦17處理以測試溫度分布。
简体摘要：本发明提供一种印刷卡之温度测试设备，将印刷卡安装于卡架内文状态测试温度分布。将镜15以平行于印刷卡7之方向移动而反射印刷卡7所放射之红外线，透过反射之红外线之同时经由遮断卡架21之内部与外部之空气流之漏风防止用整风板18使用红外线照像机等检测设备16检测，其检测信号由个人电脑17处理以测试温度分布。

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