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1. 发明专利

TW201544950A 在感測器系統中的校正資料审中-公开
简体标题：在传感器系统中的校正数据
公开(公告)号：TW201544950A
公开(公告)日：2015-12-01
申请号：TW104109432
申请日：2015-03-24
申请人：安訊士有限公司 , AXIS AB
发明人：葛來德高德漢寧 , 琳達爾馬汀 , 馬汀森瑪格努斯 , 歐森瓊金 , OLSSON, JOAKIM , 菲斯西漢瑞克 , FASTH, HENRIK , 聖特森馬汀 , SANTESSON, MARTIN
IPC分类号： G06F11/08 , G06F11/16
CPC分类号： G06F17/30876 , G01D18/008 , H04L9/3236 , H04L9/3239
摘要：本發明之態樣係關於一種在一處理單元中執行之用於判定在處理來自經連接至該處理單元之一感測器單元之資料時使用之校正資料的方法，該方法包括以下步驟：自該感測器單元接收識別儲存於該感測器中之校正資料，且基於該校正資料來計算之一識別符；檢查該處理單元中是否儲存有相同於該所接收識別符之一識別符，其中儲存於該處理單元中之該識別符識別儲存於該處理單元中之校正資料，且基於該校正資料來計算。
简体摘要：本发明之态样系关于一种在一处理单元中运行之用于判定在处理来自经连接至该处理单元之一传感器单元之数据时使用之校正数据的方法，该方法包括以下步骤：自该传感器单元接收识别存储于该传感器中之校正数据，且基于该校正数据来计算之一识别符；检查该处理单元中是否存储有相同于该所接收识别符之一识别符，其中存储于该处理单元中之该识别符识别存储于该处理单元中之校正数据，且基于该校正数据来计算。

2. 发明专利

TWI394487B 用以校正環境亮度感測器之校正方法及其相關校正裝置失效
简体标题：用以校正环境亮度传感器之校正方法及其相关校正设备
公开(公告)号：TWI394487B
公开(公告)日：2013-04-21
申请号：TW098114336
申请日：2009-04-30
申请人：奇景光電股份有限公司 , HIMAX TECHNOLOGIES LIMITED
发明人：張耀光 , CHANG, YAW GUANG , 吳俊毅 , WU, CHUN YI
IPC分类号： H05B37/02
CPC分类号： G01J1/08 , G01D18/008 , G01J1/4204 , G09G3/3406 , G09G2320/0693 , G09G2360/144

3. 发明专利

TWI256465B 成批之感測器漂移補償 SENSOR DRIFT COMPENSATION BY LOT 有权
简体标题：成批之传感器漂移补偿 SENSOR DRIFT COMPENSATION BY LOT
公开(公告)号：TWI256465B
公开(公告)日：2006-06-11
申请号：TW093137493
申请日：2004-12-03
申请人：華特羅電子製造公司 WATLOW ELECTRIC MANUFACTURING COMPANY
发明人：威廉C 史屈 SCHUH, WILLIAM C.
IPC分类号： G01K
CPC分类号： G01D18/008 , G01D3/022
摘要：本發明揭示一種用以補償一製造批次內之感測器漂移的漂移補償系統與方法。該系統包括一感測器測試樣本和一漂移特性測試器，其中該感測器測試樣本係從一批次實質類似化學或冶金性質之材料製成，其中該測試樣本暴露於一預定熱環境內。測試樣本輸出之測量值被分析以提供一漂移函數，該漂移函數描述漂移特性測試器內測試樣本之熱暴露測量值的時間與溫度間之關係。漂移函數與感測器測試樣本有關之參數儲存在與一第二感測器關聯之記憶儲存元件內。該第二感測器係從與感測器測試樣本相同批次之材料製成。一感測器系統的製造包括該第二感測器與該記憶儲存元件。可連接至該感測器系統之該第二感測器與該記憶儲存元件的漂移補償裝置可操作以從該記憶儲存元件取回被儲存之漂移函數參數並根據漂移函數修正第二感測器之輸出，藉此補償從相同批次材料製成之感測器的輸出漂移。
简体摘要：本发明揭示一种用以补偿一制造批次内之传感器漂移的漂移补偿系统与方法。该系统包括一传感器测试样本和一漂移特性测试器，其中该传感器测试样本系从一批次实质类似化学或冶金性质之材料制成，其中该测试样本暴露于一预定热环境内。测试样本输出之测量值被分析以提供一漂移函数，该漂移函数描述漂移特性测试器内测试样本之热暴露测量值的时间与温度间之关系。漂移函数与传感器测试样本有关之参数存储在与一第二传感器关联之记忆存储组件内。该第二传感器系从与传感器测试样本相同批次之材料制成。一传感器系统的制造包括该第二传感器与该记忆存储组件。可连接至该传感器系统之该第二传感器与该记忆存储组件的漂移补偿设备可操作以从该记忆存储组件取回被存储之漂移函数参数并根据漂移函数修正第二传感器之输出，借此补偿从相同批次材料制成之传感器的输出漂移。

4. 发明专利

TWI542866B 用於使用掃瞄式電子顯微鏡圖像之三維映射之方法、設備及電腦軟體產品有权
简体标题：用于使用扫瞄式电子显微镜图像之三维映射之方法、设备及电脑软件产品
公开(公告)号：TWI542866B
公开(公告)日：2016-07-21
申请号：TW103124289
申请日：2013-02-01
申请人：應用材料以色列公司 , APPLIED MATERIALS ISRAEL, LTD.
发明人：崔瓦茲班德伊薛 , SCHWARZBAND, ISHAI , 衛柏格葉可夫 , WEINBERG, YAKOV
IPC分类号： G01N21/95 , G01B9/04 , G01B21/30
CPC分类号： G01B21/30 , G01D18/008 , G01N23/2251 , G01N2223/6116 , H01J37/24 , H01J37/244 , H01J37/26 , H01J37/28 , H01J2237/22 , H01J2237/24465 , H01J2237/2448 , H01J2237/2814 , H01J2237/2826

5. 发明专利

TW201026145A 用以校正環境亮度感測器之校正方法及其相關校正裝置 CALIBRATION METHOD FOR CALIBRATING AMBIENT LIGHT SENSOR AND CALIBRATION APPARATUS THEREOF 失效
简体标题：用以校正环境亮度传感器之校正方法及其相关校正设备 CALIBRATION METHOD FOR CALIBRATING AMBIENT LIGHT SENSOR AND CALIBRATION APPARATUS THEREOF
公开(公告)号：TW201026145A
公开(公告)日：2010-07-01
申请号：TW098114336
申请日：2009-04-30
申请人：奇景光電股份有限公司
发明人：張耀光 , 吳俊毅
IPC分类号： H05B
CPC分类号： G01J1/08 , G01D18/008 , G01J1/4204 , G09G3/3406 , G09G2320/0693 , G09G2360/144
摘要：用以校正環境亮度感測器之校正方法,其包含有:依據複數個測試亮度輸入來測試該環境亮度感測器以得到分別對應於該複數個測試亮度輸入之複數個環境亮度感測器測試輸出訊號;至少將該複數個環境亮度感測器測試輸出訊號由類比形式轉換至數位形式以分別產生複數個環境亮度感測器測試輸出値;儲存至少包含有該複數個環境亮度感測器測試輸出値之一測試結果;以及根據儲存在該測試結果之資訊來校正對應到正常模式下之一環境亮度感測器輸出値的一亮度値以產生一校正後亮度値。
简体摘要：用以校正环境亮度传感器之校正方法,其包含有:依据复数个测试亮度输入来测试该环境亮度传感器以得到分别对应于该复数个测试亮度输入之复数个环境亮度传感器测试输出信号;至少将该复数个环境亮度传感器测试输出信号由模拟形式转换至数码形式以分别产生复数个环境亮度传感器测试输出値;存储至少包含有该复数个环境亮度传感器测试输出値之一测试结果;以及根据存储在该测试结果之信息来校正对应到正常模式下之一环境亮度传感器输出値的一亮度値以产生一校正后亮度値。

6. 发明专利

TWI229184B 用以校正類比感測器量測之方法及裝置 METHOD AND APPARATUS FOR CALIBRATING ANALOG SENSOR MEASUREMENT 失效
简体标题：用以校正模拟传感器量测之方法及设备 METHOD AND APPARATUS FOR CALIBRATING ANALOG SENSOR MEASUREMENT
公开(公告)号：TWI229184B
公开(公告)日：2005-03-11
申请号：TW088123209
申请日：2000-01-04
申请人：英特爾公司 INTEL CORPORATION
发明人：沃吉耳奈利思奇內特 VIRGIL NILES KYNETT , 史提芬E. 威爾斯 STEVEN E. WRLLS
IPC分类号： G01D
CPC分类号： G01D18/008
摘要：揭示一種電腦系統內部用以校正類比感測器量測之方法。該方法包含下列步驟：產生一類比感測器量測結果，從記憶裝置中讀取至少兩個數值來定義出曲線，以及用類比感測器量測結果和定義曲線的數值來計算出校正後的結果。
简体摘要：揭示一种电脑系统内部用以校正模拟传感器量测之方法。该方法包含下列步骤：产生一模拟传感器量测结果，从记忆设备中读取至少两个数值来定义出曲线，以及用模拟传感器量测结果和定义曲线的数值来计算出校正后的结果。

7. 发明专利

TW201643380A 用於現場測量裝置校正的系統及方法审中-公开
简体标题：用于现场测量设备校正的系统及方法
公开(公告)号：TW201643380A
公开(公告)日：2016-12-16
申请号：TW104140141
申请日：2015-12-01
申请人：通用電機股份有限公司 , GENERAL ELECTRIC COMPANY
发明人：雷弗林約翰 , LAFLEN, JOHN BRANDON , 弗格爾喬 , VOGEL, JOHN ANTHONY , 威克史帝芬 , WIK, STEVEN WILLIAM , 波利許亞克夫 , POLISHCHUK, YAKOV , 布魯克斯比葛蘭 , BROOKSBY, GLEN WILLIAM
IPC分类号： G01D18/00
CPC分类号： G01D18/00 , G01D5/245 , G01D18/008
摘要：一種用於校正場站測量裝置的計量系統包括耦接至現場設備的場站測量裝置。該測量裝置組態成產生與該現場設備關聯之物理測量對應的測量信號。該等測量信號界定原始資料串流。該系統也包括行動校正設備，其包括具有常駐矯正演算法的轉移函數模組。該行動校正設備也包括校正標準資料模組，其包括常駐於其上之與該測量裝置關聯的校正標準資料。該行動校正設備組態成與該測量裝置建立雙向通訊、促成該測量裝置移至校正模式、從該測量裝置接收該原始資料串流、傳輸該原始資料串流至該轉移函數模組、及校正該場站測量裝置。該轉移函數模組組態成經由該矯正演算法產生差資料串流。
简体摘要：一种用于校正场站测量设备的计量系统包括耦接至现场设备的场站测量设备。该测量设备组态成产生与该现场设备关联之物理测量对应的测量信号。该等测量信号界定原始数据串流。该系统也包括行动校正设备，其包括具有常驻矫正算法的转移函数模块。该行动校正设备也包括校正标准数据模块，其包括常驻于其上之与该测量设备关联的校正标准数据。该行动校正设备组态成与该测量设备创建双向通信、促成该测量设备移至校正模式、从该测量设备接收该原始数据串流、传输该原始数据串流至该转移函数模块、及校正该场站测量设备。该转移函数模块组态成经由该矫正算法产生差数据串流。

8. 发明专利

TWI348285B 具有校正功能的電子裝置及用以校正電子裝置的方法 APPARATUS AND METHOD OF FEEDING INTERNAL CALIBRATION SIGNAL THROUGH ELECTRO-STATIC DISCHARGE PROTECTION CIRCUITRY 有权
简体标题：具有校正功能的电子设备及用以校正电子设备的方法 APPARATUS AND METHOD OF FEEDING INTERNAL CALIBRATION SIGNAL THROUGH ELECTRO-STATIC DISCHARGE PROTECTION CIRCUITRY
公开(公告)号：TWI348285B
公开(公告)日：2011-09-01
申请号：TW096105474
申请日：2007-02-14
申请人：聯發科技股份有限公司
发明人：郭秉捷 , 王守琮
IPC分类号： H04B
CPC分类号： H04B1/30 , G01D18/008 , H01L27/0255 , H03F1/52
摘要：本發明揭露一種具有校正功能的電子裝置及用以校正一電子裝置的方法。該裝置包含有一內部訊號產生器，用來產生一校正訊號；一前端輸入級，用來接收一輸入節點的射頻訊號；一靜電放電保護單元，用來防護靜電放電；一開關單元，耦接於該靜電放電保護單元，用來選擇性地傳送一校正訊號到該前端輸入級，其中由於該開關單元與靜電放電保護單元的連接，可使在正常模式下的直接降頻接受器的雜訊效能與匹配條件不受該開關單元的影響。
简体摘要：本发明揭露一种具有校正功能的电子设备及用以校正一电子设备的方法。该设备包含有一内部信号产生器，用来产生一校正信号；一前端输入级，用来接收一输入节点的射频信号；一静电放电保护单元，用来防护静电放电；一开关单元，耦接于该静电放电保护单元，用来选择性地发送一校正信号到该前端输入级，其中由于该开关单元与静电放电保护单元的连接，可使在正常模式下的直接降频接受器的噪声性能与匹配条件不受该开关单元的影响。

9. 发明专利

TW200814550A 具有校正功能的電子裝置及用以校正電子裝置的方法 APPARATUS AND METHOD OF FEEDING INTERNAL CALIBRATION SIGNAL THROUGH ELECTRO-STATIC DISCHARGE PROTECTION CIRCUITRY 审中-公开
简体标题：具有校正功能的电子设备及用以校正电子设备的方法 APPARATUS AND METHOD OF FEEDING INTERNAL CALIBRATION SIGNAL THROUGH ELECTRO-STATIC DISCHARGE PROTECTION CIRCUITRY
公开(公告)号：TW200814550A
公开(公告)日：2008-03-16
申请号：TW096105474
申请日：2007-02-14
申请人：聯發科技股份有限公司 MEDIATEK INC.
发明人：郭秉捷 KUO, BING JYE , 王守琮 WANG, SHOU TSUNG
IPC分类号： H04B
CPC分类号： H04B1/30 , G01D18/008 , H01L27/0255 , H03F1/52
摘要：本發明揭露一種具有校正功能的電子裝置及用以校正一電子裝置的方法。該裝置包含有一內部訊號產生器,用來產生一校正訊號;一前端輸入級,用來接收一輸入節點的射頻訊號;一靜電放電保護單元,用來防護靜電放電;一開關單元,耦接於該靜電放電保護單元,用來選擇性地傳送一校正訊號到該前端輸入級,其中由於該開關單元與靜電放電保護單元的連接,可使在正常模式下的直接降頻接受器的雜訊效能與匹配條件不受該開關單元的影響。
简体摘要：本发明揭露一种具有校正功能的电子设备及用以校正一电子设备的方法。该设备包含有一内部信号产生器,用来产生一校正信号;一前端输入级,用来接收一输入节点的射频信号;一静电放电保护单元,用来防护静电放电;一开关单元,耦接于该静电放电保护单元,用来选择性地发送一校正信号到该前端输入级,其中由于该开关单元与静电放电保护单元的连接,可使在正常模式下的直接降频接受器的噪声性能与匹配条件不受该开关单元的影响。

10. 发明专利

TWI493180B 用於使用掃瞄式電子顯微鏡圖像之三維映射之方法、設備及電腦軟體產品有权
简体标题：用于使用扫瞄式电子显微镜图像之三维映射之方法、设备及电脑软件产品
公开(公告)号：TWI493180B
公开(公告)日：2015-07-21
申请号：TW102103929
申请日：2013-02-01
申请人：應用材料以色列公司 , APPLIED MATERIALS ISRAEL, LTD.
发明人：崔瓦茲班德伊薛 , SCHWARZBAND, ISHAI , 衛柏格葉可夫 , WEINBERG, YAKOV
IPC分类号： G01N21/95 , G01B9/04
CPC分类号： G01B21/30 , G01D18/008 , G01N23/2251 , G01N2223/6116 , H01J37/24 , H01J37/244 , H01J37/26 , H01J37/28 , H01J2237/22 , H01J2237/24465 , H01J2237/2448 , H01J2237/2814 , H01J2237/2826

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