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2. 发明专利

TWI473966B 座標測量機有权
简体标题：座标测量机
公开(公告)号：TWI473966B
公开(公告)日：2015-02-21
申请号：TW098116126
申请日：2009-05-15
申请人：六角形度量衡股份有限公司 , HEXAGON METROLOGY S. P. A.
发明人：塔瑞佐亞伯特 , TARIZZO, ALBERTO
IPC分类号： G01B5/004
CPC分类号： G01B5/0004 , G01B1/00 , G01B5/0016

3. 发明专利

TW201403399A 位置指示器审中-公开
公开(公告)号：TW201403399A
公开(公告)日：2014-01-16
申请号：TW102110035
申请日：2013-03-21
申请人：和冠股份有限公司 , WACOM CO., LTD.
发明人：福島康幸 , FUKUSHIMA, YASUYUKI , 藤塚広幸 , FUJITSUKA, HIROYUKI
IPC分类号： G06F3/0354
CPC分类号： G06F3/03545 , G01B5/0004 , G06F1/16 , G06F3/046 , G06F2200/1632
摘要： [課題]提供一種能夠防止對於框體之直接性的應力施加並且能夠成為更細之形狀的位置指示器。[解決手段]在筒狀之框體的中空部內，具備有以框體之軸芯方向作為長邊方向地而被作收容之支持器。支持器，係具備有：芯體卡止部，係保持芯體並以對於其之朝向前端方向之移動作限制的方式來將其作卡止；和零件配置部，係用以以承受被施加於芯體處之推壓力的方式來在軸芯方向上配置感壓用零件；和印刷基板載置部，係以將印刷基板之長邊方向設為軸芯方向的狀態，來將印刷基板作卡止載置。藉由芯體卡止部和零件配置部，芯體和感壓用零件之中心位置係以與特定之位置相合致的方式而被作保持。將芯體和印刷基板以及感壓用零件作了保持載置的支持器，係被收容在框體內，藉由以印刷基板上之電路元件來檢測出從芯體而來之推壓力，而成為能夠進行推壓力之檢測。
简体摘要： [课题]提供一种能够防止对于框体之直接性的应力施加并且能够成为更细之形状的位置指示器。[解决手段]在筒状之框体的中空部内，具备有以框体之轴芯方向作为长边方向地而被作收容之支持器。支持器，系具备有：芯体卡止部，系保持芯体并以对于其之朝向前端方向之移动作限制的方式来将其作卡止；和零件配置部，系用以以承受被施加于芯体处之推压力的方式来在轴芯方向上配置感压用零件；和印刷基板载置部，系以将印刷基板之长边方向设为轴芯方向的状态，来将印刷基板作卡止载置。借由芯体卡止部和零件配置部，芯体和感压用零件之中心位置系以与特定之位置相合致的方式而被作保持。将芯体和印刷基板以及感压用零件作了保持载置的支持器，系被收容在框体内，借由以印刷基板上之电路组件来检测出从芯体而来之推压力，而成为能够进行推压力之检测。

4. 发明专利

TW201337230A 可撓性光學測定用工具有权
简体标题：可挠性光学测定用工具
公开(公告)号：TW201337230A
公开(公告)日：2013-09-16
申请号：TW101147382
申请日：2012-12-14
申请人：住友化學股份有限公司 , SUMITOMO CHEMICAL COMPANY, LIMITED , 大日本印刷股份有限公司 , DAI NIPPON PRINTING CO., LTD. , 東亞合成股份有限公司 , TOAGOSEI CO., LTD.
发明人：高木晃 , TAKAGI, AKIRA
IPC分类号： G01M11/00
CPC分类号： G01N21/84 , G01B5/0004 , G01N21/01 , G02F1/1309 , G02F1/133305
摘要：本發明之目的係提供一種在具有任意曲率之可撓性光學顯示面板之任一測定位置中，皆可恆常地依法線方向測定測定位置的可撓性光學測定用工具。該可撓性光學測定用工具1，係包括：保持構件10，具有可保持具有任意曲率之可撓性光學顯示面板之特定的曲率；以及台構件20，具有為使保持構件10移動之與保持構件10相同的曲率，並且使保持構件10進行移動；並且可依據台構件20而使保持構件10移動，在移動並測定可撓性光學顯示面板2之任一測定中，皆可依法線方向測定測定位置。
简体摘要：本发明之目的系提供一种在具有任意曲率之可挠性光学显示皮肤之任一测定位置中，皆可恒常地依法线方向测定测定位置的可挠性光学测定用工具。该可挠性光学测定用工具1，系包括：保持构件10，具有可保持具有任意曲率之可挠性光学显示皮肤之特定的曲率；以及台构件20，具有为使保持构件10移动之与保持构件10相同的曲率，并且使保持构件10进行移动；并且可依据台构件20而使保持构件10移动，在移动并测定可挠性光学显示皮肤2之任一测定中，皆可依法线方向测定测定位置。

5. 发明专利

TWI583480B 三維雷射加工機有权
简体标题：三维激光加工机
公开(公告)号：TWI583480B
公开(公告)日：2017-05-21
申请号：TW102143321
申请日：2013-11-27
申请人：三菱重工工作機械股份有限公司 , MITSUBISHI HEAVY INDUSTRIES MACHINE TOOL CO., LTD.
发明人：山下貢丸 , YAMASHITA, TSUGUMARU , 藤田善仁 , FUJITA, YOSHIHITO , 吳屋真之 , GOYA, SANEYUKI , 柴田亮太 , SHIBATA, RYOTA , 鈴木龍 , SUZUKI, RYU , 山崎真 , YAMASAKI, MAKOTO
IPC分类号： B23K26/70 , B23K26/03 , B23K26/04 , B23K26/36
CPC分类号： B23K26/032 , B23K26/0066 , B23K26/0075 , B23K26/046 , B23K26/0648 , B23K26/0884 , B23K26/20 , B23K26/38 , G01B5/0004 , G01B11/24

6. 发明专利

TW201237365A 座標量測機 CO-ORDINATE MEASURING MACHINE 审中-公开
简体标题：座标量测机 CO-ORDINATE MEASURING MACHINE
公开(公告)号：TW201237365A
公开(公告)日：2012-09-16
申请号：TW100149192
申请日：2011-12-28
申请人：海克斯康計量公司
发明人：維迪米契爾 , 塔利索亞伯圖
IPC分类号： G01B , B23Q
CPC分类号： G01B21/047 , G01B5/0004
摘要：一種座標量測機包含一床具有一水平的測量表面，一單元係可沿著該床本身所承帶的導件活動，一環形結構會沿該床之一周邊區域延伸，並被確保靜態的拘限裝置拘限於該床，及多數個位移感測器設在該環形結構與該床和該活動單元的一者之間，用以檢測相對於一初始參考狀態的相對位移。
简体摘要：一种座标量测机包含一床具有一水平的测量表面，一单元系可沿着该床本身所承带的导件活动，一环形结构会沿该床之一周边区域延伸，并被确保静态的拘限设备拘限于该床，及多数个位移传感器设在该环形结构与该床和该活动单元的一者之间，用以检测相对于一初始参考状态的相对位移。

7. 发明专利

TW201231918A 影像測量儀 IMAGE MEASURING APPARATUS 审中-公开
简体标题：影像测量仪 IMAGE MEASURING APPARATUS
公开(公告)号：TW201231918A
公开(公告)日：2012-08-01
申请号：TW100105708
申请日：2011-02-22
申请人：鴻海精密工業股份有限公司
发明人：張旨光 , 劉文東
IPC分类号： G01B
CPC分类号： G01B11/24 , G01B5/0004 , G01B11/03
摘要：本發明設計一種影像測量儀，其包括機台電腦、連接電腦之控制裝置、裝設於機台之承載工件之承載部、第一移動機構、第一測量鏡頭、第二移動機構、第二測量鏡頭、第三移動機構及第三測量鏡頭，於測量過程中，藉由電腦調控該控制裝置，以操控該第一測量鏡頭對準待測工件之一個表面、控制第二測量鏡頭及第三測量鏡頭移動並可以分別對準待測工件兩個不同方位之表面。
简体摘要：本发明设计一种影像测量仪，其包括机台电脑、连接电脑之控制设备、装设于机台之承载工件之承载部、第一移动机构、第一测量镜头、第二移动机构、第二测量镜头、第三移动机构及第三测量镜头，于测量过程中，借由电脑调控该控制设备，以操控该第一测量镜头对准待测工件之一个表面、控制第二测量镜头及第三测量镜头移动并可以分别对准待测工件两个不同方位之表面。

8. 发明专利

TW200619714A 用於相對於待檢查物體移動光學機械檢查系統的光學元件的裝置 TRANSLATION MECHANISM FOR OPTO-MECHANICAL INSPECTION 审中-公开
简体标题：用于相对于待检查物体移动光学机械检查系统的光学组件的设备 TRANSLATION MECHANISM FOR OPTO-MECHANICAL INSPECTION
公开(公告)号：TW200619714A
公开(公告)日：2006-06-16
申请号：TW094132930
申请日：2005-09-23
申请人：先進科技新加坡有限公司 ASM TECHNOLOGY SINGAPORE PTE LTD
发明人：高內加阿吉特 GAUNEKAR AJIT , 湋多森蓋瑞彼得 WIDDOWSON GARY PETER
IPC分类号： G02B
CPC分类号： G01B5/0004 , G01B11/0608 , G01B11/2527 , G02B21/26
摘要：本發明公開了一種用於相對於待檢查物體移動光學機械檢查系統的光學元件的裝置，其使用線性驅動機構，該機構包含有安裝在磁場中的線圈，該磁場由磁性組件產生。一轉換平台和所述的線圈和磁性組件中的一個相連，藉此該轉換平台被配置來相對於所述的線圈和磁性組件中的另一個移動，該轉換平台的移動被設置來沿著一平面，該平面基本垂直於入射光線的方向。該入射光線由一光源透過該光學元件投射到該物體上。
简体摘要：本发明公开了一种用于相对于待检查物体移动光学机械检查系统的光学组件的设备，其使用线性驱动机构，该机构包含有安装在磁场中的线圈，该磁场由磁性组件产生。一转换平台和所述的线圈和磁性组件中的一个相连，借此该转换平台被配置来相对于所述的线圈和磁性组件中的另一个移动，该转换平台的移动被设置来沿着一平面，该平面基本垂直于入射光线的方向。该入射光线由一光源透过该光学组件投射到该物体上。

9. 发明专利

TWI506245B 用以估計無重力外形的方法及裝置有权
简体标题：用以估计无重力外形的方法及设备
公开(公告)号：TWI506245B
公开(公告)日：2015-11-01
申请号：TW100130523
申请日：2011-08-25
申请人：康寧公司 , CORNING INCORPORATED
发明人：艾伯特約翰史提勒三世 , ABBOTT III, JOHN STEELE , 哈維丹尼爾R , HARVEY, DANIEL R. , 烏斯坦尼克柯瑞羅伯特 , USTANIK, CORREY ROBERT
IPC分类号： G01B5/20 , G01B21/20
CPC分类号： G01B11/0608 , G01B5/0004 , G01B5/0016

10. 发明专利

TW201337214A 用以產生座標量測機的樑元件之製程以及備有該樑元件之量測機审中-公开
简体标题：用以产生座标量测机的梁组件之制程以及备有该梁组件之量测机
公开(公告)号：TW201337214A
公开(公告)日：2013-09-16
申请号：TW101150104
申请日：2012-12-26
申请人：海克斯康計量公司 , HEXAGON METROLOGY S. P. A.
发明人：塔利索亞伯圖 , TARIZZO, ALBERTO
IPC分类号： G01B5/00
CPC分类号： G01B5/008 , G01B1/00 , G01B5/0004 , Y10T156/10
摘要：一種用以產生座標量測機的樑元件之製程，其包含以下步驟：藉由噴塗以在陶瓷材料製造的結構基板上施加一可加工之金屬塗層，以樹脂浸漬該塗層，以及於該塗層執行一表面拋光機械加工操作和表面硬化處理。
简体摘要：一种用以产生座标量测机的梁组件之制程，其包含以下步骤：借由喷涂以在陶瓷材料制造的结构基板上施加一可加工之金属涂层，以树脂浸渍该涂层，以及于该涂层运行一表面抛光机械加工操作和表面硬化处理。

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