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1. 发明专利

TW201415062A 輻射檢測面板，輻射成像裝置，以及診斷成像裝置审中-公开
简体标题：辐射检测皮肤，辐射成像设备，以及诊断成像设备
公开(公告)号：TW201415062A
公开(公告)日：2014-04-16
申请号：TW102130261
申请日：2013-08-23
申请人：半導體能源研究所股份有限公司 , SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.
发明人：黒川義元 , KUROKAWA, YOSHIYUKI , 池田隆之 , IKEDA, TAKAYUKI
IPC分类号： G01T1/00 , G01T1/20 , A61B6/00
CPC分类号： A61B6/4208 , G01T1/2018
摘要：為實現可輸出用於產生與轉換單元之性能無關之準確像素信號之信號的輻射檢測面板，輸出用於產生像素信號之信號的檢測電路包括第一輸出電路，其輸出因餘暉之信號；及第二輸出電路，其輸出包括根據輻射發射之信號及因餘暉之信號的信號。將氧化物半導體材料用於通道形成區的電晶體被用作該第一輸出電路及該第二輸出電路中所包括之若干電晶體。在具有此結構之該輻射檢測面板中，該信號(第一信號或第二信號)可保持於每一輸出電路中；因此，在所有輸出電路保持該信號(該第一信號或該第二信號)之後，該第一信號及該第二信號可相繼從檢測電路輸出。
简体摘要：为实现可输出用于产生与转换单元之性能无关之准确像素信号之信号的辐射检测皮肤，输出用于产生像素信号之信号的检测电路包括第一输出电路，其输出因余晖之信号；及第二输出电路，其输出包括根据辐射发射之信号及因余晖之信号的信号。将氧化物半导体材料用于信道形成区的晶体管被用作该第一输出电路及该第二输出电路中所包括之若干晶体管。在具有此结构之该辐射检测皮肤中，该信号(第一信号或第二信号)可保持于每一输出电路中；因此，在所有输出电路保持该信号(该第一信号或该第二信号)之后，该第一信号及该第二信号可相继从检测电路输出。

2. 发明专利

TW201714292A 成像裝置及用以驅動成像裝置之方法审中-公开
简体标题：成像设备及用以驱动成像设备之方法
公开(公告)号：TW201714292A
公开(公告)日：2017-04-16
申请号：TW105143923
申请日：2013-08-23
申请人：半導體能源研究所股份有限公司 , SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.
发明人：黒川義元 , KUROKAWA, YOSHIYUKI , 池田之 , IKEDA, TAKAYUKI
IPC分类号： H01L27/146 , H01L27/12 , H01L31/115 , G01T1/24 , G01J1/44 , A61B6/00
CPC分类号： H01L27/14663 , A61B6/4208 , H01L27/1225 , H01L27/1255 , H01L27/14612 , H01L31/0376 , H04N5/32 , H04N5/3745
摘要：提出一種能夠以少量的X光照射來獲得影像資料的成像裝置。成像裝置使用X光來獲得一影像且包括一閃爍器及複數個像素電路，排列成一矩陣並與閃爍器重疊。在像素電路中使用具有極小截止電流的電晶體使來自一電荷累積部的電荷之洩漏能盡可能地降低，且一累積操作在所有像素電路中能實質上同時地進行。累積操作與X光照射同步，使得X光照射量能降低。
简体摘要：提出一种能够以少量的X光照射来获得影像数据的成像设备。成像设备使用X光来获得一影像且包括一闪烁器及复数个像素电路，排列成一矩阵并与闪烁器重叠。在像素电路中使用具有极小截止电流的晶体管使来自一电荷累积部的电荷之泄漏能尽可能地降低，且一累积操作在所有像素电路中能实质上同时地进行。累积操作与X光照射同步，使得X光照射量能降低。

3. 发明专利

TWI593990B 輻射檢測面板，輻射成像裝置，以及診斷成像裝置有权
简体标题：辐射检测皮肤，辐射成像设备，以及诊断成像设备
公开(公告)号：TWI593990B
公开(公告)日：2017-08-01
申请号：TW102130261
申请日：2013-08-23
申请人：半導體能源研究所股份有限公司 , SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.
发明人：黒川義元 , KUROKAWA, YOSHIYUKI , 池田隆之 , IKEDA, TAKAYUKI
IPC分类号： G01T1/00 , G01T1/20 , A61B6/00
CPC分类号： A61B6/4208 , G01T1/2018

4. 发明专利

TWI577002B 成像裝置及用以驅動成像裝置之方法有权
简体标题：成像设备及用以驱动成像设备之方法
公开(公告)号：TWI577002B
公开(公告)日：2017-04-01
申请号：TW102130263
申请日：2013-08-23
申请人：半導體能源研究所股份有限公司 , SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.
发明人：黒川義元 , KUROKAWA, YOSHIYUKI , 池田隆之 , IKEDA, TAKAYUKI
IPC分类号： H01L27/146 , H01L27/12 , H01L31/115 , G01T1/24 , G01J1/44 , A61B6/00
CPC分类号： H01L27/14663 , A61B6/4208 , H01L27/1225 , H01L27/1255 , H01L27/14612 , H01L31/0376 , H04N5/32 , H04N5/3745

5. 发明专利

TW201421657A 成像裝置及用以驅動成像裝置之方法审中-公开
简体标题：成像设备及用以驱动成像设备之方法
公开(公告)号：TW201421657A
公开(公告)日：2014-06-01
申请号：TW102130263
申请日：2013-08-23
申请人：半導體能源研究所股份有限公司 , SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.
发明人：黒川義元 , KUROKAWA, YOSHIYUKI , 池田隆之 , IKEDA, TAKAYUKI
IPC分类号： H01L27/146 , H01L27/12 , H01L31/115 , G01T1/24 , G01J1/44 , A61B6/00
CPC分类号： H01L27/14663 , A61B6/4208 , H01L27/1225 , H01L27/1255 , H01L27/14612 , H01L31/0376 , H04N5/32 , H04N5/3745
摘要：提出一種能夠以少量的X光照射來獲得影像資料的成像裝置。成像裝置使用X光來獲得一影像且包括一閃爍器及複數個像素電路，排列成一矩陣並與閃爍器重疊。在像素電路中使用具有極小截止電流的電晶體使來自一電荷累積部的電荷之洩漏能盡可能地降低，且一累積操作在所有像素電路中能實質上同時地進行。累積操作與X光照射同步，使得X光照射量能降低。
简体摘要：提出一种能够以少量的X光照射来获得影像数据的成像设备。成像设备使用X光来获得一影像且包括一闪烁器及复数个像素电路，排列成一矩阵并与闪烁器重叠。在像素电路中使用具有极小截止电流的晶体管使来自一电荷累积部的电荷之泄漏能尽可能地降低，且一累积操作在所有像素电路中能实质上同时地进行。累积操作与X光照射同步，使得X光照射量能降低。

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