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1. 发明专利

TW201342302A 測量元素點的圖形化處理系統及方法审中-公开
简体标题：测量元素点的图形化处理系统及方法
公开(公告)号：TW201342302A
公开(公告)日：2013-10-16
申请号：TW101113178
申请日：2012-04-13
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：張旨光 , CHANG, CHIH KUANG , 吳新元 , WU, XIN-YUAN , 張正志 , ZHANG, ZHENG-ZHI
IPC分类号： G06T11/20 , G06F17/50 , G01B5/00
CPC分类号： G06T11/206 , G01B21/04
摘要：一種測量元素點的圖形化處理系統及方法，包括：獲取採集的測量元素點的座標資訊；利用所述的座標資訊進行元素擬合，得到擬合偏差值最小的擬合元素以及該擬合元素的參數；計算該擬合元素上各測量元素點的新向量；繪製擬合元素及該擬合元素上的測量元素點，並顯示所繪製的擬合元素的參數調整視窗；當參數調整視窗中的測量元素點的個數有更新時，重新分佈所述的擬合元素中所包含的新測量元素點；計算擬合元素上新測量元素點下行後的座標；在所繪製的擬合元素中繪製下行後的新測量元素點。利用本發明能更加方便以及圖形化地處理測量元素點。
简体摘要：一种测量元素点的图形化处理系统及方法，包括：获取采集的测量元素点的座标信息；利用所述的座标信息进行元素拟合，得到拟合偏差值最小的拟合元素以及该拟合元素的参数；计算该拟合元素上各测量元素点的新矢量；绘制拟合元素及该拟合元素上的测量元素点，并显示所绘制的拟合元素的参数调整窗口；当参数调整窗口中的测量元素点的个数有更新时，重新分布所述的拟合元素中所包含的新测量元素点；计算拟合元素上新测量元素点下行后的座标；在所绘制的拟合元素中绘制下行后的新测量元素点。利用本发明能更加方便以及图形化地处理测量元素点。

2. 发明专利

TW201316194A 量測程式輸出系統及方法失效
简体标题：量测进程输出系统及方法
公开(公告)号：TW201316194A
公开(公告)日：2013-04-16
申请号：TW100137459
申请日：2011-10-17
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：張旨光 , CHANG, CHIH KUANG , 吳新元 , WU, XIN-YUAN , 張正志 , ZHANG, ZHENG-ZHI , 饒金剛 , RAO, JIN-GANG
IPC分类号： G06F17/50
CPC分类号： G01B21/04
摘要：一種量測程式輸出系統及方法，該方法包括步驟：根據量測元素的名稱創建一個目錄樹以顯示所有量測元素；接收用戶從目錄樹中所選擇的量測元素，根據該量測元素的類型及量測類型，確定該量測元素的輸出軸向；接收用戶輸入的該量測元素的尺寸號，並根據該尺寸號獲取該量測元素的理論值、上公差值及下公差值；根據該量測元素的名稱、量測類型、輸出軸向、尺寸號、理論值、上公差值及下公差值，創建該量測元素的量測代碼，並輸出該創建的量測代碼到計算裝置的顯示設備上。利用本發明可以自動輸出量測代碼。
简体摘要：一种量测进程输出系统及方法，该方法包括步骤：根据量测元素的名称创建一个目录树以显示所有量测元素；接收用户从目录树中所选择的量测元素，根据该量测元素的类型及量测类型，确定该量测元素的输出轴向；接收用户输入的该量测元素的尺寸号，并根据该尺寸号获取该量测元素的理论值、上公差值及下公差值；根据该量测元素的名称、量测类型、输出轴向、尺寸号、理论值、上公差值及下公差值，创建该量测元素的量测代码，并输出该创建的量测代码到计算设备的显示设备上。利用本发明可以自动输出量测代码。

3. 发明专利

TWI510942B 量測程式輸出系統及方法失效
简体标题：量测进程输出系统及方法
公开(公告)号：TWI510942B
公开(公告)日：2015-12-01
申请号：TW100137459
申请日：2011-10-17
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：張旨光 , CHANG, CHIH KUANG , 吳新元 , WU, XIN-YUAN , 張正志 , ZHANG, ZHENG-ZHI , 饒金剛 , RAO, JIN-GANG
IPC分类号： G06F17/50
CPC分类号： G01B21/04

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