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1. 发明专利

TWI386638B 薄膜光學檢測裝置有权
简体标题：薄膜光学检测设备
公开(公告)号：TWI386638B
公开(公告)日：2013-02-21
申请号：TW097140979
申请日：2008-10-24
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE , 明志科技大學 , MINGCHI UNIVERSITY OF TECHNOLOGY
发明人：吳駿逸 , WU, CHUN I , 王浩偉 , WANG, HAU WEI , 謝易辰 , HSIEH, YI CHEN , 莊凱評 , CHUANG, KAI PING , 楊富翔 , YANG, FU SHIANG
IPC分类号： G01N21/17 , G01N21/88 , G01B11/06 , G01N21/41

2. 发明专利

TW201017150A 薄膜光學檢測裝置 THIN FILM OPTICAL INSPECTION APPARATUS 审中-公开
简体标题：薄膜光学检测设备 THIN FILM OPTICAL INSPECTION APPARATUS
公开(公告)号：TW201017150A
公开(公告)日：2010-05-01
申请号：TW097140979
申请日：2008-10-24
申请人：財團法人工業技術研究院 , 明志科技大學
发明人：吳駿逸 , 王浩偉 , 謝易辰 , 莊凱評 , 楊富翔
IPC分类号： G01N , G01B
摘要：一種薄膜光學檢測裝置，適於檢測一薄膜製品，此薄膜光學檢測裝置至少包括多波長光源、分光準直模組、多通道極化旋轉模組、多通道相位延遲模組、合光準直模組、偏極化模組以及影像光譜儀。多波長光源提供具有多個波段之光束至分光準直模組，而分光準直模組適於將光束分為多個具有對應波段之次光束。多通道極化旋轉模組適於分別調整這些次光束偏振之方位角，而多通道相位延遲模組適於分別調整這些次光束之相位延遲量或是相位延遲的方位角。合光準直模組適於將這些次光束合為聚合光束後入射薄膜製品，而偏極化模組適於檢偏限制聚合光束不同偏振態之穿透量，且影像光譜儀適於接收聚合光束呈多波長影像。
简体摘要：一种薄膜光学检测设备，适于检测一薄膜制品，此薄膜光学检测设备至少包括多波长光源、分光准直模块、多信道极化旋转模块、多信道相位延迟模块、合光准直模块、偏极化模块以及影像光谱仪。多波长光源提供具有多个波段之光束至分光准直模块，而分光准直模块适于将光束分为多个具有对应波段之次光束。多信道极化旋转模块适于分别调整这些次光束偏振之方位角，而多信道相位延迟模块适于分别调整这些次光束之相位延迟量或是相位延迟的方位角。合光准直模块适于将这些次光束合为聚合光束后入射薄膜制品，而偏极化模块适于检偏限制聚合光束不同偏振态之穿透量，且影像光谱仪适于接收聚合光束呈多波长影像。

3. 发明专利

TWI602435B 影像感測器以及影像感測方法有权
简体标题：影像传感器以及影像传感方法
公开(公告)号：TWI602435B
公开(公告)日：2017-10-11
申请号：TW105139247
申请日：2016-11-29
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：林雁容 , LIN, YAN-RUNG , 嚴沛文 , YEN, PEI-WEN , 樓修成 , LOU, SIOU-CHENG , 莊凱評 , CHUANG, KAI-PING
IPC分类号： H04N5/335 , H01L27/146
CPC分类号： H04N5/347 , H04N5/3532 , H04N5/374

4. 发明专利

TW201623960A 估算碳水化合物含量之系統以及方法审中-公开
简体标题：估算碳水化合物含量之系统以及方法
公开(公告)号：TW201623960A
公开(公告)日：2016-07-01
申请号：TW103145951
申请日：2014-12-27
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：曹思漢 , TZAO, SZU HAN , 藍永松 , LAN, YUNG SUNG , 林雁容 , LIN, YAN RUNG , 張奇偉 , CHANG, CHIR WEEI , 賴才雅 , LAI, TSAI YA , 莊凱評 , CHUANG, KAI PING , 宋新岳 , SUNG, HSIN YUEH
IPC分类号： G01N33/02 , G06K9/62
摘要：本發明提供一種估算碳水化合物含量的系統以及方法。上述估算碳水化合物含量之方法包括如下步驟：擷取待測物的影像資料，上述影像資料包含光場數據以及待測物身分辨識數據；根據上述待測物身分辨識數據在資料庫進行比對而取得上述待測物的身分；根據上述光場數據估算上述待測物的體積；以及利用上述待測物的身分取得上述待測物的碳水化合物換算數據，並利用上述待測物的碳水化合物換算數據以及上述待測物的體積而計算出上述待測物的碳水化合物含量。
简体摘要：本发明提供一种估算碳水化合物含量的系统以及方法。上述估算碳水化合物含量之方法包括如下步骤：截取待测物的影像数据，上述影像数据报含光场数据以及待测物身分辨识数据；根据上述待测物身分辨识数据在数据库进行比对而取得上述待测物的身分；根据上述光场数据估算上述待测物的体积；以及利用上述待测物的身分取得上述待测物的碳水化合物换算数据，并利用上述待测物的碳水化合物换算数据以及上述待测物的体积而计算出上述待测物的碳水化合物含量。

5. 发明专利

TWI426248B 光譜量測系統與光譜量測方法有权
简体标题：光谱量测系统与光谱量测方法
公开(公告)号：TWI426248B
公开(公告)日：2014-02-11
申请号：TW100141748
申请日：2011-11-16
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：楊富程 , YANG, FU CHENG , 莊凱評 , CHUANG, KAI PING
IPC分类号： G01J3/12 , G01J3/18

6. 发明专利

TW201321727A 光譜量測系統與光譜量測方法审中-公开
简体标题：光谱量测系统与光谱量测方法
公开(公告)号：TW201321727A
公开(公告)日：2013-06-01
申请号：TW100141748
申请日：2011-11-16
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：楊富程 , YANG, FU CHENG , 莊凱評 , CHUANG, KAI PING
IPC分类号： G01J3/12 , G01J3/18
摘要：一種光譜量測系統，包括：一第一無聚焦模組，用以接收一待測物所發出的一入射光，使得入射光平行於一系統法線；一第一光柵，用以將不同波長的入射光繞射成不同的出射角度；一第二無聚焦模組，從第一光柵所輸出的入射光中篩選出一特定波長，使得第一光柵只輸出具有特定波長的一繞射光；一第二光柵，用以消除繞射光的光程差；以及一第三無聚焦模組，用以接收從第二光柵所輸出之繞射光，以便輸出與系統法線平行之一單色光。
简体摘要：一种光谱量测系统，包括：一第一无聚焦模块，用以接收一待测物所发出的一入射光，使得入射光平行于一系统法线；一第一光栅，用以将不同波长的入射光绕射成不同的出射角度；一第二无聚焦模块，从第一光栅所输出的入射光中筛选出一特定波长，使得第一光栅只输出具有特定波长的一绕射光；一第二光栅，用以消除绕射光的光程差；以及一第三无聚焦模块，用以接收从第二光栅所输出之绕射光，以便输出与系统法线平行之一单色光。

7. 发明专利

TWI542864B 異向性量測系統、異向性量測方法及其校正方法有权
简体标题：异向性量测系统、异向性量测方法及其校正方法
公开(公告)号：TWI542864B
公开(公告)日：2016-07-21
申请号：TW103146326
申请日：2014-12-30
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：謝易辰 , HSIEH, YI CHEN , 劉志祥 , LIU, CHIH SHANG , 莊凱評 , CHUANG, KAI PING , 楊富程 , YANG, FU CHENG , 魏祥鈞 , WEI, HSIANG CHUN , 林友崧 , LIN, YEOU SUNG
IPC分类号： G01N21/21 , G01M11/02

8. 发明专利

TWI467141B 量測裝置以及量測方法有权
简体标题：量测设备以及量测方法
公开(公告)号：TWI467141B
公开(公告)日：2015-01-01
申请号：TW101148229
申请日：2012-12-19
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：卓嘉弘 , CHO, CHIA HUNG , 莊凱評 , CHUANG, KAI PING , 劉志祥 , LIU, CHIH SHANG , 謝易辰 , HSIEH, YI CHEN , 周森益 , CHOU, SEN YIH , 蔡偉雄 , TSAI, WEI HSIUNG
IPC分类号： G01J3/02 , G01J3/28

9. 发明专利

TW201425886A 量測裝置以及量測方法审中-公开
简体标题：量测设备以及量测方法
公开(公告)号：TW201425886A
公开(公告)日：2014-07-01
申请号：TW101148229
申请日：2012-12-19
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：卓嘉弘 , CHO, CHIA HUNG , 莊凱評 , CHUANG, KAI PING , 劉志祥 , LIU, CHIH SHANG , 謝易辰 , HSIEH, YI CHEN , 周森益 , CHOU, SEN YIH , 蔡偉雄 , TSAI, WEI HSIUNG
IPC分类号： G01J3/02 , G01J3/28
摘要：本揭露提供一種量測裝置，包括一導電探針卡、一光學接收模組、一分光模組以及一資料處理模組。導電探針卡係放置於該晶圓之至少一發光裝置之上，以驅動該至少一發光裝置，使該至少一發光裝置發出一入射光並穿過該導電探針卡；光學接收模組，用以接收穿過該導電探針卡之該入射光；分光模組將入射光轉換為光譜信號；以及資料處理模組依據光譜信號計算出一光學參數。
简体摘要：本揭露提供一种量测设备，包括一导电探针卡、一光学接收模块、一分光模块以及一数据处理模块。导电探针卡系放置于该晶圆之至少一发光设备之上，以驱动该至少一发光设备，使该至少一发光设备发出一入射光并穿过该导电探针卡；光学接收模块，用以接收穿过该导电探针卡之该入射光；分光模块将入射光转换为光谱信号；以及数据处理模块依据光谱信号计算出一光学参数。

10. 发明专利

TW201735332A 影像感測器及其製造方法审中-公开
简体标题：影像传感器及其制造方法
公开(公告)号：TW201735332A
公开(公告)日：2017-10-01
申请号：TW105137886
申请日：2016-11-18
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：嚴沛文 , YEN, PEI WEN , 林雁容 , LIN, YAN RUNG , 莊凱評 , CHUANG, KAI PING , 游勝閔 , YU, SHENG MIN
IPC分类号： H01L27/146
摘要：本揭露內容係提供一種影像感測器及其製造方法。影像感測器包括一畫素感測電路、一畫素電極以及一光電轉換層。畫素感測電路對應至少相鄰的一第一畫素區和一第二畫素區。畫素電極設置於畫素感測電路上，畫素電極對應第一畫素區和第二畫素區，畫素電極包括一第一電極和一第二電極且電性連接至畫素感測電路，其中第一電極與第二電極係為共平面，第一電極與第二電極具有不同極性，且位於第一畫素區中的第一電極或第二電極相鄰於位於第二畫素區中具有相同極性的第一電極或第二電極。光電轉換層設置於畫素感測電路及畫素電極上，其中光電轉換層包括一感光層及一載子傳輸層，感光層位於載子傳輸層上，載子傳輸層位於畫素電極及感光層之間。
简体摘要：本揭露内容系提供一种影像传感器及其制造方法。影像传感器包括一像素传感电路、一像素电极以及一光电转换层。像素传感电路对应至少相邻的一第一像素区和一第二像素区。像素电极设置于像素传感电路上，像素电极对应第一像素区和第二像素区，像素电极包括一第一电极和一第二电极且电性连接至像素传感电路，其中第一电极与第二电极系为共平面，第一电极与第二电极具有不同极性，且位于第一像素区中的第一电极或第二电极相邻于位于第二像素区中具有相同极性的第一电极或第二电极。光电转换层设置于像素传感电路及像素电极上，其中光电转换层包括一感光层及一载子传输层，感光层位于载子传输层上，载子传输层位于像素电极及感光层之间。

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