专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

TWI483802B 雷射加工裝置及其方法有权
简体标题：激光加工设备及其方法
公开(公告)号：TWI483802B
公开(公告)日：2015-05-11
申请号：TW101147470
申请日：2012-12-14
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：張光博 , CHANG, KUANG PO , 郭靜男 , KUO, CHING NAN , 王淑儀 , WANG, SHU YI , 王俊凱 , WANG, CHUAN KAI , 鄭中緯 , CHENG, CHUNG WEI , 簡志維 , CHIEN, CHIH WEI
IPC分类号： B23K26/36 , B23K26/06

2. 发明专利

TWI570056B 具有表面結構之模具及其製作方法有权
简体标题：具有表面结构之模具及其制作方法
公开(公告)号：TWI570056B
公开(公告)日：2017-02-11
申请号：TW103143323
申请日：2014-12-11
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：林岑盈 , LIN, CEN YING , 王淑儀 , WANG, SHU YI , 吳秉翰 , WU, PING HAN , 劉松河 , LIU, SUNG HO
IPC分类号： B82Y40/00 , B82Y10/00

3. 发明专利

TW201620821A 具有表面結構之模具及其製作方法审中-公开
简体标题：具有表面结构之模具及其制作方法
公开(公告)号：TW201620821A
公开(公告)日：2016-06-16
申请号：TW103143323
申请日：2014-12-11
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：林岑盈 , LIN, CEN YING , 王淑儀 , WANG, SHU YI , 吳秉翰 , WU, PING HAN , 劉松河 , LIU, SUNG HO
IPC分类号： B82Y40/00 , B82Y10/00
摘要：一種具有表面結構之模具的製作方法，其包含有：提供一模具本體；以及一奈米結構與一微米結構係形成該模具本體的一面，該奈米結構係覆蓋該微米結構。以及提供一種具有表面結構之模具。
简体摘要：一种具有表面结构之模具的制作方法，其包含有：提供一模具本体；以及一奈米结构与一微米结构系形成该模具本体的一面，该奈米结构系覆盖该微米结构。以及提供一种具有表面结构之模具。

4. 发明专利

TW201326791A 光譜檢測裝置及光譜檢測方法审中-公开
简体标题：光谱检测设备及光谱检测方法
公开(公告)号：TW201326791A
公开(公告)日：2013-07-01
申请号：TW100147224
申请日：2011-12-19
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：張光博 , CHANG, KUANG PO , 王淑儀 , WANG, SHU YI
IPC分类号： G01N21/25
CPC分类号： G01J3/2889 , G01J3/0224 , G01J3/4406 , G01J3/443 , G01N21/718
摘要：一種光譜檢測裝置，包括一雷射裝置、一分光裝置、一光學光閘、一第一偏光元件、一第二偏光元件及一光分析裝置。雷射裝置用以提供一雷射光束。分光裝置用以將雷射光束分離為一第一光束與一第二光束，第二光束係傳送至一樣本以產生一光譜訊號。光學光閘設置於光分析裝置與樣本之間，第一光束係用以驅動光學光閘。第一偏光元件設置於樣本與光學光閘之間，第二偏光元件設置於光學光閘與光分析裝置之間。光分析裝置用以接收光譜訊號，其中當光學光閘被驅動而於一預定時間區間開啟時，光譜訊號係通過第一偏光元件、光學光閘與第二偏光元件而傳送至該光分析裝置。
简体摘要：一种光谱检测设备，包括一激光设备、一分光设备、一光学光闸、一第一偏光组件、一第二偏光组件及一光分析设备。激光设备用以提供一激光光束。分光设备用以将激光光束分离为一第一光束与一第二光束，第二光束系发送至一样本以产生一光谱信号。光学光闸设置于光分析设备与样本之间，第一光束系用以驱动光学光闸。第一偏光组件设置于样本与光学光闸之间，第二偏光组件设置于光学光闸与光分析设备之间。光分析设备用以接收光谱信号，其中当光学光闸被驱动而于一预定时间区间打开时，光谱信号系通过第一偏光组件、光学光闸与第二偏光组件而发送至该光分析设备。

5. 发明专利

TWI624350B 粉體成型方法及其裝置有权
简体标题：粉体成型方法及其设备
公开(公告)号：TWI624350B
公开(公告)日：2018-05-21
申请号：TW102140774
申请日：2013-11-08
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：鄭中緯 , CHENG, CHUNG WEI , 張光博 , CHANG, KUANG PO , 林岑盈 , LIN, CEN YING , 王淑儀 , WANG, SHU YI
IPC分类号： B29C67/00

6. 发明专利

TW201422353A 雷射加工裝置及其方法审中-公开
简体标题：激光加工设备及其方法
公开(公告)号：TW201422353A
公开(公告)日：2014-06-16
申请号：TW101147470
申请日：2012-12-14
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：張光博 , CHANG, KUANG PO , 郭靜男 , KUO, CHING NAN , 王淑儀 , WANG, SHU YI , 王俊凱 , WANG, CHUAN KAI , 鄭中緯 , CHENG, CHUNG WEI , 簡志維 , CHIEN, CHIH WEI
IPC分类号： B23K26/36 , B23K26/06
摘要：一種雷射加工方法，其包含有：一切割光束係移除一多層材料之反射層，而該切割光束係使該多層材料之透明層中形成有一焦點，該焦點為複數個；以及該些焦點係於該透明層中形成有一加工區域。
简体摘要：一种激光加工方法，其包含有：一切割光束系移除一多层材料之反射层，而该切割光束系使该多层材料之透明层中形成有一焦点，该焦点为复数个；以及该些焦点系于该透明层中形成有一加工区域。

7. 发明专利

TW201518070A 粉體成型方法及其裝置审中-公开
简体标题：粉体成型方法及其设备
公开(公告)号：TW201518070A
公开(公告)日：2015-05-16
申请号：TW102140774
申请日：2013-11-08
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：鄭中緯 , CHENG, CHUNG WEI , 張光博 , CHANG, KUANG PO , 林岑盈 , LIN, CEN YING , 王淑儀 , WANG, SHU YI
IPC分类号： B29C67/04
CPC分类号： B29C67/0077 , B22F3/1017 , B22F3/1055 , B22F2003/1056 , B29C64/153 , Y02P10/295
摘要：一種粉體成型方法，其包括有下列步驟：提供一移動載台設置於一基座上，移動載台可在基座上作移動。提供一粉體於移動載台上。提供一雷射光束入射至粉體以形成一預處理粉體。提供一能量束入射至預處理粉體作一成型處理。此外，更提出一種粉體成型裝置，其包括一基座、一移動載台、一粉體供給單元以及一能量系統。移動載台設置於基座上，並可在基座上作移動。粉體供給單元係提供一粉體於移動載台上。能量系統具有一雷射源及一能量源，雷射源係提供一雷射光束先入射至粉體以形成一預處理粉體，能量源係提供一能量束再入射至預處理粉體作一成型處理。
简体摘要：一种粉体成型方法，其包括有下列步骤：提供一移动载台设置于一基座上，移动载台可在基座上作移动。提供一粉体于移动载台上。提供一激光光束入射至粉体以形成一预处理粉体。提供一能量束入射至预处理粉体作一成型处理。此外，更提出一种粉体成型设备，其包括一基座、一移动载台、一粉体供给单元以及一能量系统。移动载台设置于基座上，并可在基座上作移动。粉体供给单元系提供一粉体于移动载台上。能量系统具有一激光源及一能量源，激光源系提供一激光光束先入射至粉体以形成一预处理粉体，能量源系提供一能量束再入射至预处理粉体作一成型处理。

8. 发明专利

TWI456184B 光譜檢測裝置及光譜檢測方法有权
简体标题：光谱检测设备及光谱检测方法
公开(公告)号：TWI456184B
公开(公告)日：2014-10-11
申请号：TW100147224
申请日：2011-12-19
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：張光博 , CHANG, KUANG PO , 王淑儀 , WANG, SHU YI
IPC分类号： G01N21/25
CPC分类号： G01J3/2889 , G01J3/0224 , G01J3/4406 , G01J3/443 , G01N21/718

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式