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2. 发明专利

TW201415153A 自動對焦系統與自動對焦方法审中-公开
简体标题：自动对焦系统与自动对焦方法
公开(公告)号：TW201415153A
公开(公告)日：2014-04-16
申请号：TW101136168
申请日：2012-10-01
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：賴皇文 , LAI, HUANG WEN , 郭世炫 , KUO, SHIH HSUAN , 張樂融 , CHANG, LEH RONG
IPC分类号： G03B13/18 , G03B13/36
CPC分类号： G03B13/36 , G02B7/38
摘要：一種自動對焦系統包括：高度偵測模組用以在Z軸方向輸出複數偵測光，每個偵測光具有不同焦距和相異波長，使得在Z軸方向上產生色散範圍；影像偵測模組用以擷取聚焦位置的影像；位移單元用以在Z軸方向移動待測物，待測物具有外層表面和內層表面；處理單元根據高度偵測模組所接收的反射光譜中的能量尖峰的數量，判斷外層表面和內層表面是否在色散範圍，使得當外層表面和內層表面在色散範圍時，根據能量峰值所對應的反射波長計算出內層表面與聚焦位置之間的實際距離，以便根據實際距離藉由移位單元將內層表面移動至聚焦位置。
简体摘要：一种自动对焦系统包括：高度侦测模块用以在Z轴方向输出复数侦测光，每个侦测光具有不同焦距和相异波长，使得在Z轴方向上产生色散范围；影像侦测模块用以截取聚焦位置的影像；位移单元用以在Z轴方向移动待测物，待测物具有外层表面和内层表面；处理单元根据高度侦测模块所接收的反射光谱中的能量尖峰的数量，判断外层表面和内层表面是否在色散范围，使得当外层表面和内层表面在色散范围时，根据能量峰值所对应的反射波长计算出内层表面与聚焦位置之间的实际距离，以便根据实际距离借由移位单元将内层表面移动至聚焦位置。

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