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1. 发明专利

TWI416073B 移動攝影機對路景影像的處理方法及系統有权
简体标题：移动摄影机对路景影像的处理方法及系统
公开(公告)号：TWI416073B
公开(公告)日：2013-11-21
申请号：TW098138903
申请日：2009-11-16
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：石明于 , SHIH, MING YU , 張立光 , JANG, LIH GUONG , 莊仁輝 , CHUANG, JEN HUI , 粘金重 , NIEN, CHIN CHUNG , 談肖虎 , TAN, HSIAO HU , 鄭陳嶔 , CHENG, CHEN CHIN , 謝錫興 , HSIEH, SHYI SHING
IPC分类号： G01C21/26 , G08G1/0962
CPC分类号： G06K9/00791

2. 发明专利

TWI570387B 影像測距系統、光源模組及影像感測模組有权
简体标题：影像测距系统、光源模块及影像传感模块
公开(公告)号：TWI570387B
公开(公告)日：2017-02-11
申请号：TW104136882
申请日：2015-11-09
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：林俊廷 , LIN, CHUN TING , 鄭陳嶔 , CHENG, CHEN CHIN
IPC分类号： G01C3/08 , G01C17/08 , G06F3/01
CPC分类号： G01S17/08 , G01S7/4814 , G01S17/89 , G06F3/017

3. 发明专利

TWI497040B 檢測裝置有权
简体标题：检测设备
公开(公告)号：TWI497040B
公开(公告)日：2015-08-21
申请号：TW103145307
申请日：2014-12-24
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：陳鑾英 , CHEN, LUAN YING , 鄭陳嶔 , CHENG, CHEN CHIN , 陳于堂 , CHEN, YU TANG , 陳奕均 , CHEN, YI JIUN , 彭耀祈 , PENG, YAO CHI , 林晃巖 , LIN, HOANG YAN
IPC分类号： G01J11/00

4. 发明专利

TW201716745A 影像測距系統、光源模組及影像感測模組审中-公开
简体标题：影像测距系统、光源模块及影像传感模块
公开(公告)号：TW201716745A
公开(公告)日：2017-05-16
申请号：TW104136882
申请日：2015-11-09
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：林俊廷 , LIN, CHUN TING , 鄭陳嶔 , CHENG, CHEN CHIN
IPC分类号： G01C3/08 , G01C17/08 , G06F3/01
CPC分类号： G01S17/08 , G01S7/4814 , G01S17/89 , G06F3/017
摘要：一種影像測距系統包含至少一光源模組與至少一影像感測模組；光源模組包括光源晶片與光源鏡頭，光源晶片發射一光訊號，訊號通過光源鏡頭而後射向物體，由物體反射產生反射訊號，光訊號之強度分布I1與光訊號的出射角度θ之關係為I1=1/cos7θ；影像感測模組包括影像感測元件與影像感測鏡頭，反射訊號以相同於光訊號的出射角度θ入射於影像感測鏡頭，並於影像感測元件形成物體之影像，影像之成像高度h1與影像感測鏡頭之焦距f的比值(h1/f)正比於sinθ。
简体摘要：一种影像测距系统包含至少一光源模块与至少一影像传感模块；光源模块包括光源芯片与光源镜头，光源芯片发射一光信号，信号通过光源镜头而后射向物体，由物体反射产生反射信号，光信号之强度分布I1与光信号的出射角度θ之关系为I1=1/cos7θ；影像传感模块包括影像传感组件与影像传感镜头，反射信号以相同于光信号的出射角度θ入射于影像传感镜头，并于影像传感组件形成物体之影像，影像之成像高度h1与影像传感镜头之焦距f的比值(h1/f)正比于sinθ。

5. 发明专利

TW201541672A 光源模組审中-公开
简体标题：光源模块
公开(公告)号：TW201541672A
公开(公告)日：2015-11-01
申请号：TW103115341
申请日：2014-04-29
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：廖啓宏 , LIAO, CHI HUNG , 鄭陳嶔 , CHENG, CHEN CHIN
IPC分类号： H01L33/58 , H01L33/60
摘要：一種光源模組，包含一光源、一蝙蝠翼光型光學膜及一眩光控光膜。光源包含至少一發光元件，具有一出光面。蝙蝠翼光型光學膜具有一第一微結構層與一第二微結構層，分別設置在蝙蝠翼光型光學膜相對的一第一表面與一第二表面，其中第一表面係面向發光元件之出光面。第一微結構層包括多個第一稜鏡類結構，且第二微結構層包括多個柱狀透鏡。眩光控光膜具有一第三微結構層，設置在眩光控光膜的一第三表面，其中第三表面係背對於發光元件之出光面，第三微結構層包括多個第二稜鏡類結構，且蝙蝠翼光型光學膜設置在光源與眩光控光膜之間。
简体摘要：一种光源模块，包含一光源、一蝙蝠翼光型光学膜及一眩光控光膜。光源包含至少一发光组件，具有一出光面。蝙蝠翼光型光学膜具有一第一微结构层与一第二微结构层，分别设置在蝙蝠翼光型光学膜相对的一第一表面与一第二表面，其中第一表面系面向发光组件之出光面。第一微结构层包括多个第一棱镜类结构，且第二微结构层包括多个柱状透镜。眩光控光膜具有一第三微结构层，设置在眩光控光膜的一第三表面，其中第三表面系背对于发光组件之出光面，第三微结构层包括多个第二棱镜类结构，且蝙蝠翼光型光学膜设置在光源与眩光控光膜之间。

6. 发明专利

TWI562408B 光源模組有权
简体标题：光源模块
公开(公告)号：TWI562408B
公开(公告)日：2016-12-11
申请号：TW103115341
申请日：2014-04-29
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：廖啓宏 , LIAO, CHI HUNG , 鄭陳嶔 , CHENG, CHEN CHIN
IPC分类号： H01L33/58 , H01L33/60

7. 发明专利

TW201538936A 檢測裝置审中-公开
简体标题：检测设备
公开(公告)号：TW201538936A
公开(公告)日：2015-10-16
申请号：TW103145307
申请日：2014-12-24
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：陳鑾英 , CHEN, LUAN YING , 鄭陳嶔 , CHENG, CHEN CHIN , 陳于堂 , CHEN, YU TANG , 陳奕均 , CHEN, YI JIUN , 彭耀祈 , PENG, YAO CHI , 林晃巖 , LIN, HOANG YAN
IPC分类号： G01J11/00
摘要：一種檢測裝置，包括一均光元件、多個檢測電極及一感光元件。均光元件具有一腔室，腔室具有一入光口及一出光口，入光口小於出光口。形成腔室之一內表面定義有一反射區及一散射區。內表面具有一中心軸及一最短曲線。最短曲線以中心軸為旋轉軸旋轉360度而形成內表面。最短曲線上的各點位置至一基準點之距離為r。最短曲線上的各點位置至基準點之連線與一基準線之夾角為φ。最短曲線與基準線及基準點之間的關係符合arctan((Rout-y0)/(L+z0))-θr≦φ≦arctan((Rin-y0)/z0)-θr及r=2f/(1-cosφ)之條件。檢測電極設置於入光口，感光元件設置於出光口。
简体摘要：一种检测设备，包括一均光组件、多个检测电极及一感光组件。均光组件具有一腔室，腔室具有一入光口及一出光口，入光口小于出光口。形成腔室之一内表面定义有一反射区及一散射区。内表面具有一中心轴及一最短曲线。最短曲线以中心轴为旋转轴旋转360度而形成内表面。最短曲在线的各点位置至一基准点之距离为r。最短曲在线的各点位置至基准点之连接与一基准线之夹角为φ。最短曲线与基准线及基准点之间的关系符合arctan((Rout-y0)/(L+z0))-θr≦φ≦arctan((Rin-y0)/z0)-θr及r=2f/(1-cosφ)之条件。检测电极设置于入光口，感光组件设置于出光口。

8. 发明专利

TWI468650B 光學檢測系統及其光學檢測裝置有权
简体标题：光学检测系统及其光学检测设备
公开(公告)号：TWI468650B
公开(公告)日：2015-01-11
申请号：TW101133839
申请日：2012-09-14
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：鄭陳嶔 , CHENG, CHEN CHIN , 林建憲 , LIN, JIAN SHIAN , 周敏傑 , CHOUJ, MIN CHIEH , 陳于堂 , CHEN, YU TANG
IPC分类号： G01J1/04
CPC分类号： G01J1/0204 , G01J1/0271 , G01J1/0422 , G01J2001/0481 , G01J2001/4252

9. 发明专利

TW201411101A 光學檢測系統及其光學檢測裝置审中-公开
简体标题：光学检测系统及其光学检测设备
公开(公告)号：TW201411101A
公开(公告)日：2014-03-16
申请号：TW101133839
申请日：2012-09-14
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：鄭陳嶔 , CHENG, CHEN CHIN , 林建憲 , LIN, JIAN SHIAN , 周敏傑 , CHOUJ, MIN CHIEH , 陳于堂 , CHEN, YU TANG
IPC分类号： G01J1/04
CPC分类号： G01J1/0204 , G01J1/0271 , G01J1/0422 , G01J2001/0481 , G01J2001/4252
摘要：一種光學檢測裝置，包含一殼體、一反射層及一集光透鏡組。殼體內部具有一檢測腔室以及連通檢測腔室的一通道，殼體上具有一開口連通此通道。反射層佈設於檢測腔室的一內壁面。集光透鏡組設置於通道內，光學檢測裝置用以供一光束由開口進入通道內，光束穿過集光透鏡組而射入檢測腔室。
简体摘要：一种光学检测设备，包含一壳体、一反射层及一集光透镜组。壳体内部具有一检测腔室以及连通检测腔室的一信道，壳体上具有一开口连通此信道。反射层布设于检测腔室的一内壁面。集光透镜组设置于信道内，光学检测设备用以供一光束由开口进入信道内，光束穿过集光透镜组而射入检测腔室。

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