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1. 发明专利

TW201341813A 具有自我測試的像素陣列模組及其自我測試方法有权
简体标题：具有自我测试的像素数组模块及其自我测试方法
公开(公告)号：TW201341813A
公开(公告)日：2013-10-16
申请号：TW101112255
申请日：2012-04-06
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：謝志成 , HSIEH, CHIH CHENG , 葉尚府 , YEH, SON FU , 葉凱儀 , YEH, KA YI
IPC分类号： G01R31/02
CPC分类号： G01R31/3187 , G02F1/00 , G02F2001/136254 , H04N1/00 , H04N5/367 , H04N17/002 , H04N2101/00 , H04N2201/00
摘要：一種具有自我測試的像素陣列模組，包括一測試電路單元、多條測試訊號線以及一像素陣列。測試電路單元提供一測試功能。測試訊號線耦接在測試電路單元與像素陣列之間。像素陣列經由測試訊號線耦接至測試電路單元，並包括多個像素。各像素包括一電晶體。各電晶體具有一第一端及一第二端。對各像素而言，在一正常模式下，電晶體的一驅動訊號由其自身的第一端傳遞至第二端，以及在一測試模式下，電晶體的一測試訊號由其自身的第二端傳遞至第一端。另外，一種上述像素陣列模組的自我測試方法亦被提出。
简体摘要：一种具有自我测试的像素数组模块，包括一测试电路单元、多条测试信号线以及一像素数组。测试电路单元提供一测试功能。测试信号线耦接在测试电路单元与像素数组之间。像素数组经由测试信号线耦接至测试电路单元，并包括多个像素。各像素包括一晶体管。各晶体管具有一第一端及一第二端。对各像素而言，在一正常模式下，晶体管的一驱动信号由其自身的第一端传递至第二端，以及在一测试模式下，晶体管的一测试信号由其自身的第二端传递至第一端。另外，一种上述像素数组模块的自我测试方法亦被提出。

2. 发明专利

TW201423096A 中介層測試裝置及其方法审中-公开
简体标题：中介层测试设备及其方法
公开(公告)号：TW201423096A
公开(公告)日：2014-06-16
申请号：TW101146219
申请日：2012-12-07
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：葉凱儀 , YEH, KA YI , 錢睿宏 , CHIEN, JUI HUNG
IPC分类号： G01N25/72
CPC分类号： G01R31/309
摘要：實施例揭露一種中介層測試裝置，其包括有熱源、熱影像取得裝置以及比對裝置。熱源用以對中介層上之待測區域加熱。熱影像取得裝置用以取得加熱後之中介層之熱影像。比對裝置用以將熱影像與標準熱影像進行比對，以輸出比對結果。
简体摘要：实施例揭露一种中介层测试设备，其包括有热源、热影像取得设备以及比对设备。热源用以对中介层上之待测区域加热。热影像取得设备用以取得加热后之中介层之热影像。比对设备用以将热影像与标准热影像进行比对，以输出比对结果。

3. 发明专利

TWI620038B 曝光方法和系統以及雷射直接成像系統有权
简体标题：曝光方法和系统以及激光直接成像系统
公开(公告)号：TWI620038B
公开(公告)日：2018-04-01
申请号：TW106100812
申请日：2017-01-11
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：葉凱儀 , YEH, KA YI , 林俊隆 , LIN, CHUN LUNG , 曾紹崟 , TSENG, SHAU YIN
IPC分类号： G03F7/20 , H05K3/00
CPC分类号： G03F7/70383 , G02B26/124 , G02B26/127 , G03F7/70291 , G03F7/70425 , G03F7/70491

4. 发明专利

TWI457575B 具有自我測試的像素陣列模組及其自我測試方法有权
简体标题：具有自我测试的像素数组模块及其自我测试方法
公开(公告)号：TWI457575B
公开(公告)日：2014-10-21
申请号：TW101112255
申请日：2012-04-06
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：謝志成 , HSIEH, CHIH CHENG , 葉尚府 , YEH, SON FU , 葉凱儀 , YEH, KA YI
IPC分类号： G01R31/02
CPC分类号： G01R31/3187 , G02F1/00 , G02F2001/136254 , H04N1/00 , H04N5/367 , H04N17/002 , H04N2101/00 , H04N2201/00

5. 发明专利

TWI458347B 影像擷取裝置及其方法有权
简体标题：影像截取设备及其方法
公开(公告)号：TWI458347B
公开(公告)日：2014-10-21
申请号：TW099144834
申请日：2010-12-20
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：李仲琪 , LI, CHUNG CHI , 葉凱儀 , YEH, KA YI
IPC分类号： H04N5/335
CPC分类号： H04N5/37455 , H04N5/3572 , H04N5/378

6. 发明专利

TW201826032A 曝光方法和系統以及雷射直接成像系統审中-公开
简体标题：曝光方法和系统以及激光直接成像系统
公开(公告)号：TW201826032A
公开(公告)日：2018-07-16
申请号：TW106100812
申请日：2017-01-11
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：葉凱儀 , YEH, KA YI , 林俊隆 , LIN, CHUN LUNG , 曾紹崟 , TSENG, SHAU YIN
IPC分类号： G03F7/20 , H05K3/00
摘要：本揭露提供一種曝光方法。上述曝光方法應用於一無光罩微影處理。上述曝光方法之步驟包括，從一儲存裝置讀取一曝光檔案；根據上述曝光檔案，取得上述曝光檔案所包含之複數圖形所對應之複數座標資訊；根據上述複數座標資訊，產生一圖形資料；根據上述圖形資料以及一多面鏡組態，產生每一多面鏡或每一多面鏡組對應之掃描資料，其中相鄰之上述多面鏡或相鄰之上述多面鏡組之旋轉方向不相同；以及根據上述掃描資料，控制一光源進行曝光。
简体摘要：本揭露提供一种曝光方法。上述曝光方法应用于一无光罩微影处理。上述曝光方法之步骤包括，从一存储设备读取一曝光文档；根据上述曝光文档，取得上述曝光文档所包含之复数图形所对应之复数座标信息；根据上述复数座标信息，产生一图形数据；根据上述图形数据以及一多面镜组态，产生每一多面镜或每一多面镜组对应之扫描数据，其中相邻之上述多面镜或相邻之上述多面镜组之旋转方向不相同；以及根据上述扫描数据，控制一光源进行曝光。

7. 发明专利

TWI462265B 影像擷取裝置有权
简体标题：影像截取设备
公开(公告)号：TWI462265B
公开(公告)日：2014-11-21
申请号：TW099141521
申请日：2010-11-30
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：吳誠文 , WU, CHENG WEN , 蒯定明 , KWAI, DING MING , 李仲琪 , LI, CHUNG CHI , 葉凱儀 , YEH, KA YI
IPC分类号： H01L25/16 , H04N5/369
CPC分类号： H04N5/37455 , H01L27/14634 , H01L2224/48091 , H01L2224/48227 , H01L2924/00014

8. 发明专利

TWI424746B 影像感測器及其感測方法有权
简体标题：影像传感器及其传感方法
公开(公告)号：TWI424746B
公开(公告)日：2014-01-21
申请号：TW100104778
申请日：2011-02-14
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：謝志成 , HSIEH, CHIH CHENG , 葉尚府 , YEH, SHANG FU , 葉凱儀 , YEH, KA YI
IPC分类号： H04N5/374
CPC分类号： H01L27/14605 , H01L27/14641 , H01L27/14643

9. 发明专利

TW201222777A 影像擷取裝置 IMAGE CAPTURE DEVICE 审中-公开
简体标题：影像截取设备 IMAGE CAPTURE DEVICE
公开(公告)号：TW201222777A
公开(公告)日：2012-06-01
申请号：TW099141521
申请日：2010-11-30
申请人：財團法人工業技術研究院
发明人：吳誠文 , 蒯定明 , 李仲琪 , 葉凱儀
IPC分类号： H01L , H04N
CPC分类号： H04N5/37455 , H01L27/14634 , H01L2224/48091 , H01L2224/48227 , H01L2924/00014
摘要：一種影像擷取裝置包括：影像感測器陣列，其包含以二維(2-D)陣列排列的多個影像感測器；以及類比/數位轉換器(ADC)陣列，其包含以2-D陣列排列的多個ADC。所述影像感測器陣列劃分成多個子陣列，所述多個子陣列中之每一者包含至少兩個影像感測器。所述影像感測器陣列垂直地堆疊於所述ADC陣列上。每一ADC對應於一影像感測器子陣列，且經由耦接以對所述對應子陣列中之所述影像感測器所輸出的信號進行處理。
简体摘要：一种影像截取设备包括：影像传感器数组，其包含以二维(2-D)数组排列的多个影像传感器；以及模拟/数码转换器(ADC)数组，其包含以2-D数组排列的多个ADC。所述影像传感器数组划分成多个子数组，所述多个子数组中之每一者包含至少两个影像传感器。所述影像传感器数组垂直地堆栈于所述ADC数组上。每一ADC对应于一影像传感器子数组，且经由耦接以对所述对应子数组中之所述影像传感器所输出的信号进行处理。

10. 发明专利

TW201234852A 影像感測器及其感測方法 IMAGE SENSOR AND SENSING METHOD THEREOF 审中-公开
简体标题：影像传感器及其传感方法 IMAGE SENSOR AND SENSING METHOD THEREOF
公开(公告)号：TW201234852A
公开(公告)日：2012-08-16
申请号：TW100104778
申请日：2011-02-14
申请人：財團法人工業技術研究院
发明人：謝志成 , 葉尚府 , 葉凱儀
IPC分类号： H04N
CPC分类号： H01L27/14605 , H01L27/14641 , H01L27/14643
摘要：在此提供一種影像感測器,其包括像素陣列,像素陣列包括R�S個子像素陣列,子像素陣列包括P�Q個像素,每一像素包括感光二極體、第一電晶體、第二電晶體、第三電晶體、第四電晶體以及第五電晶體。其中,第二電晶體之閘極耦接至列控制訊號,第二電晶體之第二源/汲極耦接至行控制訊號。第三電晶體之閘極耦接至重置訊號,第三電晶體之第二源/汲極耦接至行電壓重置訊號。第五電晶體之閘極耦接至列選擇訊號。子像素陣列利用列控制訊號、行控制訊號、行電壓重置訊號及列選擇訊號以選擇輸出其中之一像素之感測訊號。
简体摘要：在此提供一种影像传感器,其包括像素数组,像素数组包括R�S个子像素数组,子像素数组包括P�Q个像素,每一像素包括感光二极管、第一晶体管、第二晶体管、第三晶体管、第四晶体管以及第五晶体管。其中,第二晶体管之闸极耦接至列控制信号,第二晶体管之第二源/汲极耦接至行控制信号。第三晶体管之闸极耦接至重置信号,第三晶体管之第二源/汲极耦接至行电压重置信号。第五晶体管之闸极耦接至列选择信号。子像素数组利用列控制信号、行控制信号、行电压重置信号及列选择信号以选择输出其中之一像素之传感信号。

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