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1. 发明专利

TWI570399B 可校正光源之檢測系統及其光源校正方法有权
简体标题：可校正光源之检测系统及其光源校正方法
公开(公告)号：TWI570399B
公开(公告)日：2017-02-11
申请号：TW103142200
申请日：2014-12-04
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：翁義龍 , WENG, YILUNG , 朱建勳 , CHU, CHIENHSUN
IPC分类号： G01N21/00
CPC分类号： H04N5/2256 , H04N5/2354 , H04N17/002

2. 发明专利

TW201812707A 抗雜訊之立體掃描系統审中-公开
简体标题：抗噪声之三維扫描系统
公开(公告)号：TW201812707A
公开(公告)日：2018-04-01
申请号：TW105128097
申请日：2016-08-31
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：蔡政廷 , TSAI, CHENG TING , 翁義龍 , WENG, YI LUNG
IPC分类号： G06T17/00 , H04N1/04
摘要：一種立體掃描系統包含偏振平行線光源、遠心影像擷取裝置與第一偏振元件。偏振平行線光源提供偏振線光束至待測面。偏振線光束之擴散角度小於10度。遠心影像擷取裝置用以擷取待測面上之偏振線光束。第一偏振元件置於遠心影像擷取裝置與待測面之間。偏振線光束之偏振態與第一偏振元件之偏振態實質正交。
简体摘要：一种三維扫描系统包含偏振平行线光源、远心影像截取设备与第一偏振组件。偏振平行线光源提供偏振线光束至待测面。偏振线光束之扩散角度小于10度。远心影像截取设备用以截取待测面上之偏振线光束。第一偏振组件置于远心影像截取设备与待测面之间。偏振线光束之偏振态与第一偏振组件之偏振态实质正交。

3. 发明专利

TWI445944B 太陽能電池晶片分色之方法有权
简体标题：太阳能电池芯片分色之方法
公开(公告)号：TWI445944B
公开(公告)日：2014-07-21
申请号：TW101102449
申请日：2012-01-20
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：蘇怡禎 , SU, YI CHEN , 翁義龍 , WENG, YI LUNG , 楊欣泰 , YANG, HSIN TAI
IPC分类号： G01N21/27

4. 发明专利

TW201520596A 多邊形鏡腔結構及其製造方法审中-公开
简体标题：多边形镜腔结构及其制造方法
公开(公告)号：TW201520596A
公开(公告)日：2015-06-01
申请号：TW102142139
申请日：2013-11-19
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：李泓錫 , 張添登 , 翁義龍
IPC分类号： G02B17/06 , G02B27/14
摘要：本發明為一種多邊形鏡腔結構及其製造方法，其結構係由複數單邊鏡組裝而成，每一單邊鏡皆包含邊框、反射鏡及黏膠層，邊框之一端凸出設置第一抵接部，另一端則設置第二抵接部，反射鏡設置於邊框之內面，黏膠層設置於邊框與反射鏡之間；將單邊鏡組裝為多邊形鏡腔結構時，反射鏡朝向內側，並使每一單邊鏡之第一抵接部之頂面與相鄰單邊鏡之第二抵接部接合；製作時，透過治具分別支撐邊框與反射鏡以使邊框與反射鏡間維持空隙，將黏膠注入並使其流動填滿空隙且自然凝固，可避免內部產生應力導致反射鏡變形，進而影響鏡面平整度與光學均勻性。
简体摘要：本发明为一种多边形镜腔结构及其制造方法，其结构系由复数单边镜组装而成，每一单边镜皆包含边框、反射镜及黏胶层，边框之一端凸出设置第一抵接部，另一端则设置第二抵接部，反射镜设置于边框之内面，黏胶层设置于边框与反射镜之间；将单边镜组装为多边形镜腔结构时，反射镜朝向内侧，并使每一单边镜之第一抵接部之顶面与相邻单边镜之第二抵接部接合；制作时，透过治具分别支撑边框与反射镜以使边框与反射镜间维持空隙，将黏胶注入并使其流动填满空隙且自然凝固，可避免内部产生应力导致反射镜变形，进而影响镜面平整度与光学均匀性。

5. 发明专利

TWI454689B 光學檢測系統有权
简体标题：光学检测系统
公开(公告)号：TWI454689B
公开(公告)日：2014-10-01
申请号：TW100149532
申请日：2011-12-29
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：李明翰 , 胡哲郕 , 翁義龍
IPC分类号： G01N21/88 , G01J3/50 , H01L31/18
CPC分类号： G01N21/95 , G01N2021/8816 , H04N2209/044

6. 发明专利

TWI428573B 模擬發光二極體光源混光狀態之檢測方法有权
简体标题：仿真发光二极管光源混光状态之检测方法
公开(公告)号：TWI428573B
公开(公告)日：2014-03-01
申请号：TW099145871
申请日：2010-12-24
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：翁義龍 , 楊欣泰 , 李明翰
IPC分类号： G01J1/42

7. 发明专利

TWI426246B 二維光學檢測之平場校正方法有权
简体标题：二维光学检测之平场校正方法
公开(公告)号：TWI426246B
公开(公告)日：2014-02-11
申请号：TW099139920
申请日：2010-11-19
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：翁義龍 , 楊欣泰 , 黃俊霖 , 胡哲郕
IPC分类号： G01J1/16

8. 发明专利

TWI420903B 拖曳亮影現象補正方法有权
简体标题：拖曳亮影现象补正方法
公开(公告)号：TWI420903B
公开(公告)日：2013-12-21
申请号：TW099131963
申请日：2010-09-21
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：翁義龍 , 楊欣泰 , 王遵義 , 張志交
IPC分类号： H04N5/30

9. 发明专利

TW201621297A 可校正光源之檢測系統及其光源校正方法审中-公开
简体标题：可校正光源之检测系统及其光源校正方法
公开(公告)号：TW201621297A
公开(公告)日：2016-06-16
申请号：TW103142200
申请日：2014-12-04
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：翁義龍 , WENG, YILUNG , 朱建勳 , CHU, CHIENHSUN
IPC分类号： G01N21/00
CPC分类号： H04N5/2256 , H04N5/2354 , H04N17/002
摘要：揭露一種檢測系統之光源校正方法。檢測系統包含光源、影像擷取裝置以及控制器。光源具有照射區域，影像擷取裝置具有擷取視野。光源校正方法包含調整擷取視野於照射區域之內。輪流開啟光源之複數個發光單元。影像擷取裝置於每一發光單元開啟時擷取一校正影像，以取得複數個校正影像。根據校正影像之亮度分布，控制器分別調整發光單元之發光亮度，以補償影像擷取裝置之暗角效應，使得擷取視野內的檢測影像具有特定之亮度分布。
简体摘要：揭露一种检测系统之光源校正方法。检测系统包含光源、影像截取设备以及控制器。光源具有照射区域，影像截取设备具有截取视野。光源校正方法包含调整截取视野于照射区域之内。轮流打开光源之复数个发光单元。影像截取设备于每一发光单元打开时截取一校正影像，以取得复数个校正影像。根据校正影像之亮度分布，控制器分别调整发光单元之发光亮度，以补偿影像截取设备之暗角效应，使得截取视野内的检测影像具有特定之亮度分布。

10. 发明专利

TWI479134B 二維式時序型色度計檢測方法及該色度計有权
简体标题：二维式时序型色度计检测方法及该色度计
公开(公告)号：TWI479134B
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：TW102115067
申请日：2013-04-26
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：楊蘭昇 , 翁義龍
IPC分类号： G01J3/46 , G01J3/10

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