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1. 发明专利

TW201439500A 發光模組檢測裝置以及發光模組檢測方法审中-公开
简体标题：发光模块检测设备以及发光模块检测方法
公开(公告)号：TW201439500A
公开(公告)日：2014-10-16
申请号：TW102112648
申请日：2013-04-10
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：李明翰 , LEE, MING HAN
IPC分类号： G01B11/27 , G01M11/02
摘要：本發明揭露一種發光模組檢測裝置，用來檢測包含有基板、發光元件及透鏡的發光模組，其中發光元件與透鏡均設置在基板上且發光模組檢測裝置是用來檢測發光元件是否位於透鏡的中心位置。發光模組檢測裝置包含光源、第一攝像單元以及第二攝像單元。光源發出光線照射透鏡及發光元件，接著第一攝像單元以及第二攝像單元分別從第一側向以及第二側向對透鏡與發光元件擷取第一影像及第二影像，其中第一側向與第二側向間具有不為零的夾角。透過第一影像、第二影像以及夾角，可計算出發光元件與透鏡中心位置的偏差。
简体摘要：本发明揭露一种发光模块检测设备，用来检测包含有基板、发光组件及透镜的发光模块，其中发光组件与透镜均设置在基板上且发光模块检测设备是用来检测发光组件是否位于透镜的中心位置。发光模块检测设备包含光源、第一摄像单元以及第二摄像单元。光源发出光线照射透镜及发光组件，接着第一摄像单元以及第二摄像单元分别从第一侧向以及第二侧向对透镜与发光组件截取第一影像及第二影像，其中第一侧向与第二侧向间具有不为零的夹角。透过第一影像、第二影像以及夹角，可计算出发光组件与透镜中心位置的偏差。

2. 发明专利

TW201326798A 光學檢測系統审中-公开
简体标题：光学检测系统
公开(公告)号：TW201326798A
公开(公告)日：2013-07-01
申请号：TW100149532
申请日：2011-12-29
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：李明翰 , 胡哲郕 , 翁義龍
IPC分类号： G01N21/88 , G01J3/50 , H01L31/18
CPC分类号： G01N21/95 , G01N2021/8816 , H04N2209/044
摘要：本發明揭露一種光學檢測系統，係用以檢測太陽能電池晶片之表面，此系統包含殼體、控制裝置、及設置於殼體中之取像裝置與發光裝置。發光裝置係用以提供單色光源至殼體內之太陽能電池晶片上，取像裝置則可對太陽能電池晶片進行取像。控制裝置電連接取像裝置以及發光裝置，用來控制光學檢測系統進行太陽能電池晶片表面之缺陷檢測與顏色檢測程序。透過取像裝置、發光裝置與控制裝置間的互相溝通，可因應不同的太陽能晶片檢測程序而取得不同解析度的影像，並能透過單色感光陣列取像以降低誤差。
简体摘要：本发明揭露一种光学检测系统，系用以检测太阳能电池芯片之表面，此系统包含壳体、控制设备、及设置于壳体中之取像设备与发光设备。发光设备系用以提供单色光源至壳体内之太阳能电池芯片上，取像设备则可对太阳能电池芯片进行取像。控制设备电连接取像设备以及发光设备，用来控制光学检测系统进行太阳能电池芯片表面之缺陷检测与颜色检测进程。透过取像设备、发光设备与控制设备间的互相沟通，可因应不同的太阳能芯片检测进程而取得不同分辨率的影像，并能透过单色感光数组取像以降低误差。

3. 发明专利

TWI490446B 發光模組檢測裝置以及發光模組檢測方法有权
简体标题：发光模块检测设备以及发光模块检测方法
公开(公告)号：TWI490446B
公开(公告)日：2015-07-01
申请号：TW102112648
申请日：2013-04-10
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：李明翰 , LEE, MING HAN
IPC分类号： G01B11/27 , G01M11/02

4. 发明专利

TWI454689B 光學檢測系統有权
简体标题：光学检测系统
公开(公告)号：TWI454689B
公开(公告)日：2014-10-01
申请号：TW100149532
申请日：2011-12-29
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：李明翰 , 胡哲郕 , 翁義龍
IPC分类号： G01N21/88 , G01J3/50 , H01L31/18
CPC分类号： G01N21/95 , G01N2021/8816 , H04N2209/044

5. 发明专利

TWI428573B 模擬發光二極體光源混光狀態之檢測方法有权
简体标题：仿真发光二极管光源混光状态之检测方法
公开(公告)号：TWI428573B
公开(公告)日：2014-03-01
申请号：TW099145871
申请日：2010-12-24
申请人：致茂電子股份有限公司 , CHROMA ATE INC.
发明人：翁義龍 , 楊欣泰 , 李明翰
IPC分类号： G01J1/42

6. 发明专利

TW201226865A 模擬發光二極體光源混光狀態之檢測方法审中-公开
简体标题：仿真发光二极管光源混光状态之检测方法
公开(公告)号：TW201226865A
公开(公告)日：2012-07-01
申请号：TW099145871
申请日：2010-12-24
申请人：致茂電子股份有限公司
发明人：翁義龍 , 楊欣泰 , 李明翰
IPC分类号： G01J
摘要：一種模擬發光二極體(Light Emitting Diode；以下簡稱「LED」)光源混光狀態之檢測方法，係在無擴散片的狀態下對複數個LED燈條所包含之複數個LED單元共同擷取一共同檢測影像；偵測共同檢測影像中各LED單元之一座標與對應該座標之一光強度資料；將一標準擴散光場場型套用於各LED單元，以計算出各LED單元之一光擴散狀態模擬影像；藉由該等光擴散狀態模擬影像，計算出各LED燈條之一混光狀態光強度資料。
简体摘要：一种仿真发光二极管(Light Emitting Diode；以下简称“LED”)光源混光状态之检测方法，系在无扩散片的状态下对复数个LED灯条所包含之复数个LED单元共同截取一共同检测影像；侦测共同检测影像中各LED单元之一座标与对应该座标之一光强度数据；将一标准扩散光场场型套用于各LED单元，以计算出各LED单元之一光扩散状态仿真影像；借由该等光扩散状态仿真影像，计算出各LED灯条之一混光状态光强度数据。

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