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    • 3. 发明专利
    • 具有一半步級解析度之晶載校正電路及方法
    • 具有一半步级分辨率之晶载校正电路及方法
    • TW202011699A
    • 2020-03-16
    • TW108127917
    • 2019-08-06
    • 美商格芯(美國)集成電路科技有限公司GLOBALFOUNDRIES US INC.
    • 杭特史羅德 艾瑞克HUNT-SCHROEDER, ERIC費爾德 約翰AFIFIELD, JOHN A.
    • H03M1/12
    • 本文揭露的是一種校正電路和方法。該電路包括:DAC,其輸出類比參數並且包括輸出參數調整電路系統;比較器,其接收參考參數和該類比參數;以及控制電路(具有選擇邏輯),其連接至回授迴路中的該比較器和DAC。在校正模式期間,該類比參數的量度在一個方向被調整½ DAC步級,並且使用該回授迴路以實施二元搜尋校正程序。在運作模式期間,該類比參數的該量度在相對方向被調整½ DAC步級。該選擇邏輯選擇由該校正程序所識別的該DAC步級或下一個較高DAC步級作為最終DAC步級。該控制電路輸出對應於該最終DAC步級的最終DAC代碼,並且該DAC基於該最終DAC代碼而產生經校正的參數。
    • 本文揭露的是一种校正电路和方法。该电路包括:DAC,其输出模拟参数并且包括输出参数调整电路系统;比较器,其接收参考参数和该模拟参数;以及控制电路(具有选择逻辑),其连接至回授回路中的该比较器和DAC。在校正模式期间,该模拟参数的量度在一个方向被调整½ DAC步级,并且使用该回授回路以实施二元搜索校正进程。在运作模式期间,该模拟参数的该量度在相对方向被调整½ DAC步级。该选择逻辑选择由该校正进程所识别的该DAC步级或下一个较高DAC步级作为最终DAC步级。该控制电路输出对应于该最终DAC步级的最终DAC代码,并且该DAC基于该最终DAC代码而产生经校正的参数。