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    • 4. 发明专利
    • 非及閘瑕疵管理之裝置,方法以及系統 APPARATUS, METHOD, AND SYSTEM OF NAND DEFECT MANAGEMENT
    • 非及闸瑕疵管理之设备,方法以及系统 APPARATUS, METHOD, AND SYSTEM OF NAND DEFECT MANAGEMENT
    • TWI377575B
    • 2012-11-21
    • TW097106681
    • 2008-02-26
    • 美光科技公司
    • 麥可 莫瑞
    • G11CG06F
    • G11C29/04G06F12/0246G06F2212/7201G11C29/08G11C29/76
    • 本發明的各種具體實施例包括包含一含有一記憶體器件之裝置的裝置、方法、及系統,該記憶體器件可被組態成包含一基本抹除區塊群的複數個抹除區塊群,其中,該複數個抹除區塊群之每一者各包括複數個抹除區塊,每一抹除區塊各係由該複數個抹除區塊內獨特的匹配獨特複數個抹除區塊號碼來識別並且橫跨該複數個抹除區塊群來進行匹配;以及一映射表,其被耦合至該複數個抹除區塊群,用以儲存至少一群位址號碼,該至少一群位址號碼對應於用以識別該基本抹除區塊群中之一無瑕疵抹除區塊的該匹配獨特複數個抹除區塊號碼之一者,以及對應於用以識別除該基本抹除區塊群外的該複數個抹除區塊群之每一者中之一單個無瑕疵抹除區塊的該匹配獨特複數個抹除區塊號碼中之數者。
    • 本发明的各种具体实施例包括包含一含有一内存器件之设备的设备、方法、及系统,该内存器件可被组态成包含一基本抹除区块群的复数个抹除区块群,其中,该复数个抹除区块群之每一者各包括复数个抹除区块,每一抹除区块各系由该复数个抹除区块内独特的匹配独特复数个抹除区块号码来识别并且横跨该复数个抹除区块群来进行匹配;以及一映射表,其被耦合至该复数个抹除区块群,用以存储至少一群位址号码,该至少一群位址号码对应于用以识别该基本抹除区块群中之一无瑕疵抹除区块的该匹配独特复数个抹除区块号码之一者,以及对应于用以识别除该基本抹除区块群外的该复数个抹除区块群之每一者中之一单个无瑕疵抹除区块的该匹配独特复数个抹除区块号码中之数者。