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1. 发明专利

TW201706841A 診斷程式、診斷方法及半導體裝置审中-公开
简体标题：诊断进程、诊断方法及半导体设备
公开(公告)号：TW201706841A
公开(公告)日：2017-02-16
申请号：TW105101714
申请日：2016-01-20
申请人：瑞薩電子股份有限公司 , RENESAS ELECTRONICS CORPORATION
发明人：山手章弘 , YAMATE, AKIHIRO , 多木良孝 , TAKI, YOSHITAKA
IPC分类号： G06F11/10 , G06F11/22 , G06F11/263 , G11C29/00
CPC分类号： G06F11/1076 , G06F11/1016 , G11C11/417 , G11C29/52 , G11C2029/0411
摘要：本發明的課題是在附ECC的記憶體中，在冗長位元的生成不使用位址資訊，且不進行記憶體的改寫，提升有關該記憶體的位址電路的故障檢測率。其解決手段，記憶體是將彼此相異的位址的資料及附加於該資料的冗長位元予以儲存於共有同一的選擇訊號配線(例如字元線或列線)之複數的記憶格，輸出對應於所被指定的位址之讀出資料，ECC解碼器對於該讀出資料進行錯誤檢測。當藉由ECC解碼器來檢測出錯誤時，藉由與選擇被檢測出該錯誤的讀出資料之選擇訊號配線同樣的選擇訊號配線來選擇，對與該讀出資料的位址不同的1個或複數的位址進行存取，評價對於該讀出資料之錯誤檢測的結果，藉此進行記憶體的故障診斷。
简体摘要：本发明的课题是在附ECC的内存中，在冗长比特的生成不使用位址信息，且不进行内存的改写，提升有关该内存的位址电路的故障检测率。其解决手段，内存是将彼此相异的位址的数据及附加于该数据的冗长比特予以存储于共有同一的选择信号配线(例如字符线或列线)之复数的记忆格，输出对应于所被指定的位址之读出数据，ECC译码器对于该读出数据进行错误检测。当借由ECC译码器来检测出错误时，借由与选择被检测出该错误的读出数据之选择信号配线同样的选择信号配线来选择，对与该读出数据的位址不同的1个或复数的位址进行存取，评价对于该读出数据之错误检测的结果，借此进行内存的故障诊断。

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