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1. 发明专利

TWI670647B 色度調整系統、方法及其非暫態電腦可讀取媒體有权
简体标题：色度调整系统、方法及其非暂态电脑可读取媒体
公开(公告)号：TWI670647B
公开(公告)日：2019-09-01
申请号：TW107132847
申请日：2018-09-18
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORPORATION
发明人：陳淑宓 , CHEN, SHU MI , 黃文聰 , HUANG, WEN TSUNG , 劉楷 , LIU, KAI
IPC分类号： G06F3/147

2. 发明专利

TWI670708B 顏色偏移校正方法及裝置有权
简体标题：颜色偏移校正方法及设备
公开(公告)号：TWI670708B
公开(公告)日：2019-09-01
申请号：TW106138673
申请日：2017-11-08
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORPORATION
发明人：劉楷 , LIU, KAI , 黃文聰 , HUANG, WEN TSUNG
IPC分类号： G09G5/02

3. 发明专利

TW201919032A 顏色偏移校正方法及裝置审中-公开
简体标题：颜色偏移校正方法及设备
公开(公告)号：TW201919032A
公开(公告)日：2019-05-16
申请号：TW106138673
申请日：2017-11-08
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORPORATION
发明人：劉楷 , LIU, KAI , 黃文聰 , HUANG, WEN TSUNG
IPC分类号： G09G5/02
摘要：一種顏色偏移校正方法，用以對包含像素之影像畫面進行處理。像素之排列對應於貝爾色彩濾波陣列，並包含紅色像素、藍色像素、與紅色像素相關之第一綠色像素以及與藍色像素相關之第二綠色像素。顏色偏移校正方法包括：計算對應目標綠色像素的周邊區域內的第一及第二綠色像素之區域梯度變化；比較周邊區域內的第一及第二綠色像素間之亮度差距。當區域梯變化小於梯度門檻值且亮度差距超出亮度門檻範圍時，使目標綠色像素根據周邊區域內的第一及第二綠色像素進行像素偏移校正，以產生校正目標綠色像素。
简体摘要：一种颜色偏移校正方法，用以对包含像素之影像画面进行处理。像素之排列对应于贝尔色彩滤波数组，并包含红色像素、蓝色像素、与红色像素相关之第一绿色像素以及与蓝色像素相关之第二绿色像素。颜色偏移校正方法包括：计算对应目标绿色像素的周边区域内的第一及第二绿色像素之区域梯度变化；比较周边区域内的第一及第二绿色像素间之亮度差距。当区域梯变化小于梯度门槛值且亮度差距超出亮度门槛范围时，使目标绿色像素根据周边区域内的第一及第二绿色像素进行像素偏移校正，以产生校正目标绿色像素。

4. 发明专利

TWI542217B 像素值校正裝置與方法有权
简体标题：像素值校正设备与方法
公开(公告)号：TWI542217B
公开(公告)日：2016-07-11
申请号：TW103108840
申请日：2014-03-12
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORPORATION
发明人：陳世澤 , CHEN, SHIH TSE , 黃文聰 , HUANG, WEN TSUNG
IPC分类号： H04N5/335 , H04N9/04
CPC分类号： H04N9/045 , G06T3/4015 , H04N17/002 , H04N17/02

5. 发明专利

TW201536053A 像素值校正裝置與方法审中-公开
简体标题：像素值校正设备与方法
公开(公告)号：TW201536053A
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：TW103108840
申请日：2014-03-12
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORPORATION
发明人：陳世澤 , CHEN, SHIH TSE , 黃文聰 , HUANG, WEN TSUNG
IPC分类号： H04N5/335 , H04N9/04
CPC分类号： H04N9/045 , G06T3/4015 , H04N17/002 , H04N17/02
摘要：本發明揭露了一種像素值校正裝置，用來校正一目標像素之像素值，包含：一邊緣偵測單元，用來依據該目標像素之像素值與複數個鄰近像素之像素值產生複數個邊緣偵測值，其中該目標像素與該複數個鄰近像素同屬第一顏色，且該目標像素與該複數個鄰近像素之每一個均與第二顏色之複數個像素位處於一像素陣列之同一列；一加權值估計單元，耦接該邊緣偵測單元，用來依據該複數個邊緣偵測值與一預設演算規則產生複數個加權值，其中該複數個加權值對應複數個候選像素，且每該候選像素均與第三顏色之複數個像素位處於該像素陣列之同一列；一校正值產生單元，耦接該加權值估計單元，用來依據該目標像素之像素值、一部或全部該候選像素之像素值及其相對應的加權值產生一校正值；以及一校正單元，耦接該校正值產生單元，用來依據該目標像素之像素值以及該校正值產生該目標像素之一校正像素值。
简体摘要：本发明揭露了一种像素值校正设备，用来校正一目标像素之像素值，包含：一边缘侦测单元，用来依据该目标像素之像素值与复数个邻近像素之像素值产生复数个边缘侦测值，其中该目标像素与该复数个邻近像素同属第一颜色，且该目标像素与该复数个邻近像素之每一个均与第二颜色之复数个像素位处于一像素数组之同一列；一加权值估计单元，耦接该边缘侦测单元，用来依据该复数个边缘侦测值与一默认演算守则产生复数个加权值，其中该复数个加权值对应复数个候选像素，且每该候选像素均与第三颜色之复数个像素位处于该像素数组之同一列；一校正值产生单元，耦接该加权值估计单元，用来依据该目标像素之像素值、一部或全部该候选像素之像素值及其相对应的加权值产生一校正值；以及一校正单元，耦接该校正值产生单元，用来依据该目标像素之像素值以及该校正值产生该目标像素之一校正像素值。

6. 发明专利

TWI672957B 影像處理裝置及影像處理方法有权
简体标题：影像处理设备及影像处理方法
公开(公告)号：TWI672957B
公开(公告)日：2019-09-21
申请号：TW107111049
申请日：2018-03-29
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORPORATION
发明人：劉楷 , LIU, KAI , 黃文聰 , HUANG, WEN TSUNG , 顏士翔 , YEN, SHIH HSIANG
IPC分类号： H04N9/77 , H04N5/30 , H04N5/351

7. 发明专利

TWI689892B 基於前景影像的背景虛化方法與電子裝置有权
简体标题：基于前景影像的背景虚化方法与电子设备
公开(公告)号：TWI689892B
公开(公告)日：2020-04-01
申请号：TW107117002
申请日：2018-05-18
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：邱仲毅 , QIU, ZHONG YI , 黃文聰 , HUANG, WEN TSUNG , 劉楷 , LIU, KAI
IPC分类号： G06T5/50 , G06T7/55

8. 发明专利

TWI645720B 影像處理裝置及方法有权
简体标题：影像处理设备及方法
公开(公告)号：TWI645720B
公开(公告)日：2018-12-21
申请号：TW106108950
申请日：2017-03-17
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：黃文聰 , HUANG, WEN TSUNG
IPC分类号： H04N5/21 , H04N5/33

9. 发明专利

TWI638334B 前景影像提取的影像處理方法與電子裝置有权
简体标题：前景影像提取的影像处理方法与电子设备
公开(公告)号：TWI638334B
公开(公告)日：2018-10-11
申请号：TW106139501
申请日：2017-11-15
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：邱仲毅 , QIU, ZHONG YI , 黃文聰 , HUANG, WEN TSUNG , 劉楷 , LIU, KAI
IPC分类号： G06T11/60

10. 发明专利

TWI672608B 虹膜影像辨識裝置及其方法有权
简体标题：虹膜影像辨识设备及其方法
公开(公告)号：TWI672608B
公开(公告)日：2019-09-21
申请号：TW106104894
申请日：2017-02-15
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：劉楷 , LIU, KAI , 黃文聰 , HUANG, WEN TSUNG
IPC分类号： G06F21/32

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