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1. 发明专利

TWI594577B 振盪頻率產生電路及控制方法有权
简体标题：振荡频率产生电路及控制方法
公开(公告)号：TWI594577B
公开(公告)日：2017-08-01
申请号：TW105101123
申请日：2016-01-14
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORPORATION
发明人：張哲維 , CHANG, CHE WEI
IPC分类号： H03L7/08 , H03L7/099
CPC分类号： H03L1/023 , H03B5/04 , H03B5/124 , H03B5/1243 , H03B5/1253 , H03B5/1265 , H03B5/1293 , H03B2200/004 , H03L1/026 , H03L7/099 , H03L2207/06

2. 发明专利

TW201725864A 振盪頻率產生電路及控制方法审中-公开
简体标题：振荡频率产生电路及控制方法
公开(公告)号：TW201725864A
公开(公告)日：2017-07-16
申请号：TW105101123
申请日：2016-01-14
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORPORATION
发明人：張哲維 , CHANG, CHE WEI
IPC分类号： H03L7/08 , H03L7/099
CPC分类号： H03L1/023 , H03B5/04 , H03B5/124 , H03B5/1243 , H03B5/1253 , H03B5/1265 , H03B5/1293 , H03B2200/004 , H03L1/026 , H03L7/099 , H03L2207/06
摘要：電子裝置包含壓控振盪器以及偏壓電路。壓控振盪器包含變容器，壓控振盪器在第一溫度下輸出振盪頻率。偏壓電路耦接變容器，偏壓電路在第一溫度下提供第一偏壓至變容器，在第二溫度下提供第二偏壓至變容器，其中變容器具有第一溫度係數，偏壓電路根據第一溫度係數之量值以及第二溫度係數之量值產生第一偏壓以及第二偏壓。
简体摘要：电子设备包含压控振荡器以及偏压电路。压控振荡器包含变容器，压控振荡器在第一温度下输出振荡频率。偏压电路耦接变容器，偏压电路在第一温度下提供第一偏压至变容器，在第二温度下提供第二偏压至变容器，其中变容器具有第一温度系数，偏压电路根据第一温度系数之量值以及第二温度系数之量值产生第一偏压以及第二偏压。

3. 发明专利

TWI517596B 前饋式三角積分調變器有权
简体标题：前馈式三角积分调制器
公开(公告)号：TWI517596B
公开(公告)日：2016-01-11
申请号：TW102125774
申请日：2013-07-18
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：張哲維 , CHANG, CHE WEI
IPC分类号： H03M3/02
CPC分类号： H03M3/30 , H03M3/00 , H03M3/37 , H03M3/426 , H03M3/446

4. 发明专利

TWI435201B 產生啟動重置訊號之訊號產生裝置有权
简体标题：产生启动重置信号之信号产生设备
公开(公告)号：TWI435201B
公开(公告)日：2014-04-21
申请号：TW100107506
申请日：2011-03-07
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：林志政 , LIN, CHIH CHENG , 林見儒 , LIN, JIAN RU , 張哲維 , CHANG, CHE WEI
IPC分类号： G05F3/22 , G06F1/24
CPC分类号： H03K17/22 , H03K17/223

5. 发明专利

TWI500261B 阻抗校正裝置與方法有权
简体标题：阻抗校正设备与方法
公开(公告)号：TWI500261B
公开(公告)日：2015-09-11
申请号：TW101107781
申请日：2012-03-07
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：張哲維 , CHANG, CHE WEI , 詹政邦 , CHAN, CHENG PANG , 林見儒 , LIN, JIAN RU
IPC分类号： H03H11/28 , G01R27/00
CPC分类号： H03K19/0005

6. 发明专利

TW201505381A 前饋式三角積分調變器审中-公开
简体标题：前馈式三角积分调制器
公开(公告)号：TW201505381A
公开(公告)日：2015-02-01
申请号：TW102125774
申请日：2013-07-18
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：張哲維 , CHANG, CHE WEI
IPC分类号： H03M3/02
CPC分类号： H03M3/30 , H03M3/00 , H03M3/37 , H03M3/426 , H03M3/446
摘要：前饋式三角積分調變器包含一連續漸進式類比數位轉換器、一數位類比轉換器、N個積分器、一第一加法器、一第二加法器及一最佳零點產生單元，其中N是一正整數。該N個積分器的每一積分器的輸出端耦接該連續漸進式類比數位轉換器；該數位類比轉換器耦接在該第一加法器與該連續漸進式類比數位轉換器之間；該第一加法器耦接該N個積分器的一第一積分器的輸入端；該第二加法器耦接於該N個積分器的一第K積分器之輸入端，其中K為小於N之正整數；該最佳零點產生單元耦接該第二加法器與該N個積分器的一第K+1積分器的輸出端之間。
简体摘要：前馈式三角积分调制器包含一连续渐进式模拟数码转换器、一数码模拟转换器、N个积分器、一第一加法器、一第二加法器及一最佳零点产生单元，其中N是一正整数。该N个积分器的每一积分器的输出端耦接该连续渐进式模拟数码转换器；该数码模拟转换器耦接在该第一加法器与该连续渐进式模拟数码转换器之间；该第一加法器耦接该N个积分器的一第一积分器的输入端；该第二加法器耦接于该N个积分器的一第K积分器之输入端，其中K为小于N之正整数；该最佳零点产生单元耦接该第二加法器与该N个积分器的一第K+1积分器的输出端之间。

7. 发明专利

TW201338406A 阻抗校正裝置與方法审中-公开
简体标题：阻抗校正设备与方法
公开(公告)号：TW201338406A
公开(公告)日：2013-09-16
申请号：TW101107781
申请日：2012-03-07
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：張哲維 , CHANG, CHE WEI , 詹政邦 , CHAN, CHENG PANG , 林見儒 , LIN, JIAN RU
IPC分类号： H03H11/28 , G01R27/00
CPC分类号： H03K19/0005
摘要：一種阻抗校正裝置包含：可變阻抗、運算調整器、類比數位轉換器與控制器。運算調整器接收第一類比訊號與第二類比訊號並進行差值運算而產生一輸出電壓。類比數位轉換器根據輸出電壓產生一調整碼。控制器耦接類比數位轉換器與可變阻抗，並且依據調整碼來調整可變阻抗之電阻值。
简体摘要：一种阻抗校正设备包含：可变阻抗、运算调整器、模拟数码转换器与控制器。运算调整器接收第一模拟信号与第二模拟信号并进行差值运算而产生一输出电压。模拟数码转换器根据输出电压产生一调整码。控制器耦接模拟数码转换器与可变阻抗，并且依据调整码来调整可变阻抗之电阻值。

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