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1. 发明专利

TWI670931B 可量測傳送端鏡像抑制比的傳送電路有权
简体标题：可量测发送端镜像抑制比的发送电路
公开(公告)号：TWI670931B
公开(公告)日：2019-09-01
申请号：TW107129085
申请日：2018-08-21
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：張元碩 , CHANG, YUAN-SHUO , 高子銘 , KAO, TZU-MING
IPC分类号： H03D7/18

2. 发明专利

TW202023203A 用於特徵化發送器之非線性失真的方法、相關發送器及其特徵化電路审中-公开
简体标题：用于特征化发送器之非线性失真的方法、相关发送器及其特征化电路
公开(公告)号：TW202023203A
公开(公告)日：2020-06-16
申请号：TW108123352
申请日：2019-07-03
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：張元碩 , CHANG, YUAN-SHUO , 鄭歆霖 , CHENG, SHIN-LIN
IPC分类号： H03M1/10 , H04B15/02
摘要：本發明提供一種用於特徵化一發送器之非線性失真的方法、相關發送器及其特徵化電路，其中該方法包含：利用該發送器中之一發送鏈電路依據一測試訊號產生一輸出訊號；利用該發送器中之一回送電路依據該輸出訊號產生一回送訊號；依據該回送訊號的複數個回送樣本計算該測試訊號的複數個測試樣本所分別對應的複數個失真指標，其中該複數個測試樣本分別對應於該複數個回送樣本；依據該複數個測試樣本的功率將該複數個失真指標分成多個群組；計算該多個群組中之每一群組中的失真指標的平均值；以及依據該平均值來特徵化該發送器之非線性失真。
简体摘要：本发明提供一种用于特征化一发送器之非线性失真的方法、相关发送器及其特征化电路，其中该方法包含：利用该发送器中之一发送链电路依据一测试信号产生一输出信号；利用该发送器中之一回送电路依据该输出信号产生一回送信号；依据该回送信号的复数个回送样本计算该测试信号的复数个测试样本所分别对应的复数个失真指针，其中该复数个测试样本分别对应于该复数个回送样本；依据该复数个测试样本的功率将该复数个失真指针分成多个群组；计算该多个群组中之每一群组中的失真指针的平均值；以及依据该平均值来特征化该发送器之非线性失真。

3. 发明专利

TWI666897B 處理訊號干擾的裝置及方法有权
简体标题：处理信号干扰的设备及方法
公开(公告)号：TWI666897B
公开(公告)日：2019-07-21
申请号：TW107106561
申请日：2018-02-27
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：王晉良 , WANG, CHIN-LIANG , 詹閔超 , JAN, MIN-CHAU , 王文山 , WANG, WEN-SHAN , 張元碩 , CHANG, YUAN-SHUO , 王吳祺 , WANG, WU-CHI , 林盈熙 , LIN, YING-HSI
IPC分类号： H04L25/08 , H04L25/00 , H04L1/00

4. 发明专利

TWI681636B 用於特徵化發送器之非線性失真的方法、相關發送器及其特徵化電路有权
简体标题：用于特征化发送器之非线性失真的方法、相关发送器及其特征化电路
公开(公告)号：TWI681636B
公开(公告)日：2020-01-01
申请号：TW108123352
申请日：2019-07-03
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：張元碩 , CHANG, YUAN-SHUO , 鄭歆霖 , CHENG, SHIN-LIN
IPC分类号： H03M1/10 , H04B15/02

5. 发明专利

TWI677198B 可依據信號干擾比決定是否捨棄同相/正交相不匹配補償參數的接收電路有权
简体标题：可依据信号干扰比决定是否舍弃同相/正交相不匹配补偿参数的接收电路
公开(公告)号：TWI677198B
公开(公告)日：2019-11-11
申请号：TW107128898
申请日：2018-08-17
申请人：瑞昱半導體股份有限公司 , REALTEK SEMICONDUCTOR CORP.
发明人：張元碩 , CHANG, YUAN-SHUO , 高子銘 , KAO, TZU-MING
IPC分类号： H04B1/10 , H04B1/18

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