专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

TW202011130A 製造程序監視裝置审中-公开
简体标题：制造进程监视设备
公开(公告)号：TW202011130A
公开(公告)日：2020-03-16
申请号：TW107137542
申请日：2018-10-24
申请人：日商東芝三菱電機產業系統股份有限公司 , TOSHIBA MITSUBISHI-ELECTRIC INDUSTRIAL SYSTEMS CORPORATION
发明人：手知幸 , TEZUKA, TOMOYUKI , 井波治樹 , INAMI, HARUKI , 亀山渉 , KAMEYAMA, WATARU , 菅沼睦 , SUGANUMA, MUTSUMI
IPC分类号： G05B19/4063
摘要：本發明的目的在於提供不需要用以判定異常的臨限值就能夠判定製造程序的異常的製造程序監視裝置。本發明的製造程序監視裝置係具備：資料轉換部，係對製造設備的程序資料進行轉換；特徵量分析部，係根據特徵量的資訊，對所轉換出的資料進行分析；資料復原部，係根據特徵量的資訊與所分析出的結果的資訊，依複數個類別的各個類別，將資料復原；類似度演算部，係根據進行分析時所使用的資料與復原而得的資料，演算複數個類別的各個類別的類似度；類別判定部，係根據複數個類別的各個類別的類似度，判定資料的類別；類別分類部，係對程序資料所屬的類別進行分類；及程序狀態診斷部，係根據所判定出的類別與所分類的類別之比較結果，診斷製造程序的狀態。
简体摘要：本发明的目的在于提供不需要用以判定异常的临限值就能够判定制造进程的异常的制造进程监视设备。本发明的制造进程监视设备系具备：数据转换部，系对制造设备的进程数据进行转换；特征量分析部，系根据特征量的信息，对所转换出的数据进行分析；数据复原部，系根据特征量的信息与所分析出的结果的信息，依复数个类别的各个类别，将数据复原；类似度演算部，系根据进行分析时所使用的数据与复原而得的数据，演算复数个类别的各个类别的类似度；类别判定部，系根据复数个类别的各个类别的类似度，判定数据的类别；类别分类部，系对进程数据所属的类别进行分类；及进程状态诊断部，系根据所判定出的类别与所分类的类别之比较结果，诊断制造进程的状态。

2. 发明专利

TWI675270B 製造程序監視裝置有权
简体标题：制造进程监视设备
公开(公告)号：TWI675270B
公开(公告)日：2019-10-21
申请号：TW107137542
申请日：2018-10-24
申请人：日商東芝三菱電機產業系統股份有限公司 , TOSHIBA MITSUBISHI-ELECTRIC INDUSTRIAL SYSTEMS CORPORATION
发明人：手知幸 , TEZUKA, TOMOYUKI , 井波治樹 , INAMI, HARUKI , 亀山渉 , KAMEYAMA, WATARU , 菅沼睦 , SUGANUMA, MUTSUMI
IPC分类号： G05B19/4063

3. 发明专利

TW201732476A 製造設備之異常診斷裝置审中-公开
简体标题：制造设备之异常诊断设备
公开(公告)号：TW201732476A
公开(公告)日：2017-09-16
申请号：TW105117947
申请日：2016-06-07
申请人：東芝三菱電機產業系統股份有限公司 , TOSHIBA MITSUBISHI-ELECTRIC INDUSTRIAL SYSTEMS CORPORATION
发明人：手知幸 , TEZUKA, TOMOYUKI , 篠永裕之 , SHINONAGA, HIROYUKI , 亀山渉 , KAMEYAMA, WATARU , 菅沼睦 , SUGANUMA, MUTSUMI , 永島元貴 , NAGASHIMA, MOTOKI
IPC分类号： G05B19/408 , G05B19/4065 , B21B38/00
CPC分类号： G05B19/418 , G05B23/02 , Y02P90/02
摘要：本發明提供可進行製造設備異常的診斷而無關於製造設備之狀態的一種製造設備之異常診斷裝置。製造設備之異常診斷裝置具備：特徵量記憶部，記憶有掌握了製造設備的運作狀態的特徵量資訊；數據變換部，將前述製造設備的運轉數據、或至少包含設於前述製造設備的測定裝置的測定數據等資料加以變換；特徵量分析部，根據記憶於前述特徵量記憶部的特徵量資訊將前述數據變換部所變換的數據進行分析；數據復原部，根據記憶於前述特徵量記憶部的特徵量資訊及藉前述特徵量分析部所分析的結果資訊將數據復原；異常度計算部，根據藉前述特徵量分析部分析時所使用的數據及藉前述數據復原部所復原的數據來計算異常度；及異常診斷部，根據藉前述異常度計算部所計算的異常度來進行異常診斷。
简体摘要：本发明提供可进行制造设备异常的诊断而无关于制造设备之状态的一种制造设备之异常诊断设备。制造设备之异常诊断设备具备：特征量记忆部，记忆有掌握了制造设备的运作状态的特征量信息；数据变换部，将前述制造设备的运转数据、或至少包含设于前述制造设备的测定设备的测定数据等数据加以变换；特征量分析部，根据记忆于前述特征量记忆部的特征量信息将前述数据变换部所变换的数据进行分析；数据复原部，根据记忆于前述特征量记忆部的特征量信息及藉前述特征量分析部所分析的结果信息将数据复原；异常度计算部，根据藉前述特征量分析部分析时所使用的数据及藉前述数据复原部所复原的数据来计算异常度；及异常诊断部，根据藉前述异常度计算部所计算的异常度来进行异常诊断。

4. 发明专利

TW201732475A 製造設備診斷支援裝置及製造設備診斷支援方法审中-公开
简体标题：制造设备诊断支持设备及制造设备诊断支持方法
公开(公告)号：TW201732475A
公开(公告)日：2017-09-16
申请号：TW105117535
申请日：2016-06-03
申请人：東芝三菱電機產業系統股份有限公司 , TOSHIBA MITSUBISHI-ELECTRIC INDUSTRIAL SYSTEMS CORPORATION
发明人：手知幸 , TEZUKA, TOMOYUKI
IPC分类号： G05B19/408 , G05B19/4065 , B21B38/00
CPC分类号： G05B23/02
摘要：本發明之製造設備診斷支援裝置係連接在經常或間歇性地收集且記錄設置有至少2個以上類似的裝置之製造設備內的各裝置的運轉資料之資料收集裝置，且藉由解析已記錄在資料收集裝置之資料來支援製造設備的診斷。本製造設備診斷支援裝置具備：從已記錄在資料收集裝置之資料抽出使用於診斷的資料之功能；按各個類似的裝置之同種類的資料將所抽出之資料予以分組之功能；對被分組之資料演算用以在群組內進行診斷之特徵量之功能；將所演算的特徵量記憶到記憶裝置之功能；以及以群組單位將新演算出之特徵量與記憶裝置所記憶之過去的特徵量予以比較，且根據其比較結果來檢測異常之功能。
简体摘要：本发明之制造设备诊断支持设备系连接在经常或间歇性地收集且记录设置有至少2个以上类似的设备之制造设备内的各设备的运转数据之数据收集设备，且借由解析已记录在数据收集设备之数据来支持制造设备的诊断。本制造设备诊断支持设备具备：从已记录在数据收集设备之数据抽出使用于诊断的数据之功能；按各个类似的设备之同种类的数据将所抽出之数据予以分组之功能；对被分组之数据演算用以在群组内进行诊断之特征量之功能；将所演算的特征量记忆到记忆设备之功能；以及以群组单位将新演算出之特征量与记忆设备所记忆之过去的特征量予以比较，且根据其比较结果来检测异常之功能。

5. 发明专利

TWI645275B 製造設備之異常診斷裝置有权
简体标题：制造设备之异常诊断设备
公开(公告)号：TWI645275B
公开(公告)日：2018-12-21
申请号：TW105117947
申请日：2016-06-07
申请人：日商東芝三菱電機產業系統股份有限公司 , TOSHIBA MITSUBISHI-ELECTRIC INDUSTRIAL SYSTEMS CORPORATION
发明人：手知幸 , TEZUKA, TOMOYUKI , 篠永裕之 , SHINONAGA, HIROYUKI , 亀山渉 , KAMEYAMA, WATARU , 菅沼睦 , SUGANUMA, MUTSUMI , 永島元貴 , NAGASHIMA, MOTOKI
IPC分类号： G05B19/408 , G05B19/4065 , B21B38/00

6. 发明专利

TWI615694B 製造設備診斷支援裝置及製造設備診斷支援方法有权
简体标题：制造设备诊断支持设备及制造设备诊断支持方法
公开(公告)号：TWI615694B
公开(公告)日：2018-02-21
申请号：TW105117535
申请日：2016-06-03
申请人：東芝三菱電機產業系統股份有限公司 , TOSHIBA MITSUBISHI-ELECTRIC INDUSTRIAL SYSTEMS CORPORATION
发明人：手知幸 , TEZUKA, TOMOYUKI
IPC分类号： G05B19/408 , G05B19/4065 , B21B38/00
CPC分类号： G05B23/02

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式