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    • 3. 发明专利
    • 製造碳化矽單結晶之高純度碳化矽原料粉末的製造方法及單結晶
    • 制造碳化硅单结晶之高纯度碳化硅原料粉末的制造方法及单结晶
    • TW364894B
    • 1999-07-21
    • TW084110302
    • 1995-10-03
    • 普利司通股份有限公司
    • 金本正洙遠藤忍橋本誠夫
    • C01B
    • C30B29/36C01B32/956C01P2004/61C01P2006/80C30B23/00
    • 一種製造碳化矽單結晶之高純度碳化矽粉末的製造方法,其特徵在於:以自高純度之四烷氧基矽烷、四烷氧基矽烷聚合體、氧化矽中選取1種以上作為矽源,且,以分子內含有氧並可藉加熱殘留碳之高純度有機化合物作為碳源;尚包含如下步驟:於非氧化性環境下加熱燒結一由該矽源與碳源均質混合而得之混合物,而得到碳化矽粉末之碳化矽生成步驟;以及,將所得到之碳化矽粉末保持於1700℃以上2000℃以下之溫度,在該溫度之保持中,至少進行2000℃~2100℃之溫度下的加熱處理5~20分鐘之後處理步驟;藉由前述2步驟,得到平均粒徑為10μm~500μm各不純物元素之含量為0.5ppm以下之碳化矽粉末。
    • 一种制造碳化硅单结晶之高纯度碳化硅粉末的制造方法,其特征在于:以自高纯度之四烷氧基硅烷、四烷氧基硅烷聚合体、氧化硅中选取1种以上作为硅源,且,以分子内含有氧并可藉加热残留碳之高纯度有机化合物作为碳源;尚包含如下步骤:于非氧化性环境下加热烧结一由该硅源与碳源均质混合而得之混合物,而得到碳化硅粉末之碳化硅生成步骤;以及,将所得到之碳化硅粉末保持于1700℃以上2000℃以下之温度,在该温度之保持中,至少进行2000℃~2100℃之温度下的加热处理5~20分钟之后处理步骤;借由前述2步骤,得到平均粒径为10μm~500μm各不纯物元素之含量为0.5ppm以下之碳化硅粉末。