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1. 发明专利

TW201738551A 透明板表面檢查裝置、透明板表面檢查方法、及玻璃板之製造方法审中-公开
简体标题：透明板表面检查设备、透明板表面检查方法、及玻璃板之制造方法
公开(公告)号：TW201738551A
公开(公告)日：2017-11-01
申请号：TW106107004
申请日：2017-03-03
申请人：旭硝子股份有限公司 , ASAHI GLASS COMPANY, LIMITED
发明人：木村友紀 , KIMURA, TOMONORI , 有田祐介 , ARITA, YUSUKE , 池野田稔 , IKENOTA, MINORU , 東山明弘 , HIGASHIYAMA, AKIHIRO , 北山大介 , KITAYAMA, DAISUKE
IPC分类号： G01N21/17 , G01N21/956 , G06T7/40 , C03B29/00
摘要：本發明提供一種檢查精度提高之透明板表面檢查裝置。本發明之透明板表面檢查裝置係檢查透明板之主表面之透明板表面檢查裝置，且具有包含條紋圖案之光源、設置於來自上述光源之光於上述主表面反射後之前方之線感測器相機、及將所拍攝之上述條紋圖案之圖像進行圖像處理之圖像處理裝置，且上述線感測器相機具有包含排列於特定方向上之複數個像素之攝像元件、及將上述條紋圖案於上述攝像元件上成像之透鏡，上述光源及上述攝像元件係兩者均配置於上述主表面之單側，且分別與上述主表面傾斜地對向，且配置於上述特定方向之一端之上述像素之上述主表面中之攝像點之面積(S1)與配置於上述特定方向之另一端之上述像素之上述主表面中之攝像點之面積(S2(S2＞S1))之比(S1/S2)為0.20以上。
简体摘要：本发明提供一种检查精度提高之透明板表面检查设备。本发明之透明板表面检查设备系检查透明板之主表面之透明板表面检查设备，且具有包含条纹图案之光源、设置于来自上述光源之光于上述主表面反射后之前方之线传感器相机、及将所拍摄之上述条纹图案之图像进行图像处理之图像处理设备，且上述线传感器相机具有包含排列于特定方向上之复数个像素之摄像组件、及将上述条纹图案于上述摄像组件上成像之透镜，上述光源及上述摄像组件系两者均配置于上述主表面之单侧，且分别与上述主表面倾斜地对向，且配置于上述特定方向之一端之上述像素之上述主表面中之摄像点之面积(S1)与配置于上述特定方向之另一端之上述像素之上述主表面中之摄像点之面积(S2(S2＞S1))之比(S1/S2)为0.20以上。

2. 发明专利

TW201443424A 透明板狀體表面檢查用攝像系統审中-公开
简体标题：透明板状体表面检查用摄像系统
公开(公告)号：TW201443424A
公开(公告)日：2014-11-16
申请号：TW103105529
申请日：2014-02-19
申请人：旭硝子股份有限公司 , ASAHI GLASS COMPANY, LIMITED
发明人：木村友紀 , KIMURA, TOMONORI , 金子靜則 , KANEKO, SHIZUNORI , 有田祐介 , ARITA, YUSUKE
IPC分类号： G01N21/896
CPC分类号： G01B11/2522 , G01B11/245 , G01B11/306 , G01N21/896
摘要：本發明提供一種透明板狀體表面檢查用攝像系統，該透明板狀體表面檢查用攝像系統係於線感測器照相機之光線路徑中心所在之平面垂直於透明板狀體、且使該平面與透明板狀體之搬送方向既不平行亦不垂直之情形時，可一面利用正面側之面之反射光之路徑與背面側之面之反射光之路徑依存於板厚分離之現象，一面抑制用以將水層設置於透明板狀體之背面側之機構之數量增加。光源1係基於玻璃板71未產生歪曲之條件，配置於自線感測器照相機2朝向視場5之光線路徑於玻璃板71經反射之延長方向上。光源1之條紋圖案之照射面之朝向係以沿著玻璃板71之行進方向投射該照射面之結果成為線段之方式決定。又，該照射面上成為條紋圖案之暗部之線與玻璃板71之搬送方向平行。
简体摘要：本发明提供一种透明板状体表面检查用摄像系统，该透明板状体表面检查用摄像系统系于线传感器照相机之光线路径中心所在之平面垂直于透明板状体、且使该平面与透明板状体之搬送方向既不平行亦不垂直之情形时，可一面利用正面侧之面之反射光之路径与背面侧之面之反射光之路径依存于板厚分离之现象，一面抑制用以将水层设置于透明板状体之背面侧之机构之数量增加。光源1系基于玻璃板71未产生歪曲之条件，配置于自线传感器照相机2朝向视场5之光线路径于玻璃板71经反射之延长方向上。光源1之条纹图案之照射面之朝向系以沿着玻璃板71之行进方向投射该照射面之结果成为线段之方式决定。又，该照射面上成为条纹图案之暗部之线与玻璃板71之搬送方向平行。

3. 发明专利

TW201412456A 板狀體之研磨方法及板狀體之研磨裝置审中-公开
简体标题：板状体之研磨方法及板状体之研磨设备
公开(公告)号：TW201412456A
公开(公告)日：2014-04-01
申请号：TW102110123
申请日：2013-03-21
申请人：旭硝子股份有限公司 , ASAHI GLASS COMPANY, LIMITED
发明人：竹尾隆史 , TAKEO, TAKAFUMI , 廣江晉一 , HIROE, SHINICHI , 濱田裕介 , HAMADA, YUSUKE , 木村友紀 , KIMURA, TOMONORI
IPC分类号： B24B37/013
CPC分类号： B24B37/04 , B24B49/04
摘要：本發明係關於一種板狀體之研磨方法，其包括：平坦度測定步驟，係對板狀體之被研磨面之平坦度進行測定；及研磨步驟，係對已測定平坦度之上述板狀體之被研磨面進行研磨，且係相對性地按壓上述板狀體之被研磨面與研磨具，並且使上述板狀體之被研磨面與研磨具相對性地旋轉而藉由上述研磨具研磨上述板狀體之被研磨面；且基於在上述平坦度測定步驟中所測定之上述板狀體之被研磨面之平坦度，而變更上述研磨步驟之研磨條件。
简体摘要：本发明系关于一种板状体之研磨方法，其包括：平坦度测定步骤，系对板状体之被研磨面之平坦度进行测定；及研磨步骤，系对已测定平坦度之上述板状体之被研磨面进行研磨，且系相对性地按压上述板状体之被研磨面与研磨具，并且使上述板状体之被研磨面与研磨具相对性地旋转而借由上述研磨具研磨上述板状体之被研磨面；且基于在上述平坦度测定步骤中所测定之上述板状体之被研磨面之平坦度，而变更上述研磨步骤之研磨条件。

4. 发明专利

TW201730128A 玻璃板、及玻璃板之製造方法审中-公开
简体标题：玻璃板、及玻璃板之制造方法
公开(公告)号：TW201730128A
公开(公告)日：2017-09-01
申请号：TW106101805
申请日：2017-01-19
申请人：旭硝子股份有限公司 , ASAHI GLASS COMPANY, LIMITED
发明人：勝呂昭男 , SUGURO, AKIO , 木村友紀 , KIMURA, TOMONORI , 村上敏英 , MURAKAMI, TOSHIHIDE
IPC分类号： C03C19/00 , B24B7/24
CPC分类号： Y02P40/57
摘要：本發明提供一種可飛躍性地提高研磨性之玻璃板。本發明之玻璃板之特徵在於，其係厚度為0.75 mm以下之玻璃板，且第1主面與第2主面中之至少一者係起伏曲線之十點平均高度為0.2 μm以下，且起伏波長10 mm之起伏強度相對於起伏波長20 mm之起伏強度之比為0.20以上。
简体摘要：本发明提供一种可飞跃性地提高研磨性之玻璃板。本发明之玻璃板之特征在于，其系厚度为0.75 mm以下之玻璃板，且第1主面与第2主面中之至少一者系起伏曲线之十点平均高度为0.2 μm以下，且起伏波长10 mm之起伏强度相对于起伏波长20 mm之起伏强度之比为0.20以上。

5. 发明专利

TWI490479B 玻璃基板端面之評估方法、玻璃基板端面之加工方法、及玻璃基板有权
简体标题：玻璃基板端面之评估方法、玻璃基板端面之加工方法、及玻璃基板
公开(公告)号：TWI490479B
公开(公告)日：2015-07-01
申请号：TW100106539
申请日：2011-02-25
申请人：旭硝子股份有限公司 , ASAHI GLASS COMPANY, LIMITED
发明人：宮本幹大 , MIYAMOTO, MIKIO , 鳥井秀晴 , TORII, HIDEHARU , 木村友紀 , KIMURA, TOMONORI
IPC分类号： G01N21/896 , G01N23/04 , G06T7/00 , H01L21/304 , G02F1/1333
CPC分类号： C03C19/00 , B24B9/10 , B24B49/10 , B24B49/12 , G01N21/95 , G01N21/9503 , G01N2021/9513 , G06T7/40 , Y10T428/24777

6. 发明专利

TW201221901A 表面形狀之評價方法及表面形狀之評價裝置审中-公开
简体标题：表面形状之评价方法及表面形状之评价设备
公开(公告)号：TW201221901A
公开(公告)日：2012-06-01
申请号：TW100124646
申请日：2011-07-12
申请人：旭硝子股份有限公司
发明人：尊田嘉之 , 大音仁昭 , 加藤宗壽 , 城山厚 , 有田祐介 , 木村友紀
IPC分类号： G01B , G01N
摘要：本發明係關於一種表面形狀之評價方法,其係將具有週期性之明暗之圖案照射至被評價物體之第1表面上,接受於上述第1表面上反射之圖案而獲得受光圖像,為檢測受光圖像之明暗週期相對於照射於上述第1表面上之圖案之明暗週期的偏移,將受光圖像之與照射於上述第1表面上之圖案之明暗週期對應的區域之明暗信號平均化,並基於經平均化之信號對上述第1表面之表面形狀進行評價者,且於與上述第1表面對向之第2表面上,配置抑制到達該第2表面上之光之反射的反射抑制層。
简体摘要：本发明系关于一种表面形状之评价方法,其系将具有周期性之明暗之图案照射至被评价物体之第1表面上,接受于上述第1表面上反射之图案而获得受光图像,为检测受光图像之明暗周期相对于照射于上述第1表面上之图案之明暗周期的偏移,将受光图像之与照射于上述第1表面上之图案之明暗周期对应的区域之明暗信号平均化,并基于经平均化之信号对上述第1表面之表面形状进行评价者,且于与上述第1表面对向之第2表面上,配置抑制到达该第2表面上之光之反射的反射抑制层。

7. 发明专利

TW201231959A 玻璃基板端面之評估方法、玻璃基板端面之加工方法、及玻璃基板审中-公开
简体标题：玻璃基板端面之评估方法、玻璃基板端面之加工方法、及玻璃基板
公开(公告)号：TW201231959A
公开(公告)日：2012-08-01
申请号：TW100106539
申请日：2011-02-25
申请人：旭硝子股份有限公司
发明人：宮本幹大 , 鳥井秀晴 , 木村友紀
IPC分类号： G01N , G06T , H01L , G02F
CPC分类号： C03C19/00 , B24B9/10 , B24B49/10 , B24B49/12 , G01N21/95 , G01N21/9503 , G01N2021/9513 , G06T7/40 , Y10T428/24777
摘要：本發明提供一種可準確評估玻璃基板端面之性狀的玻璃基板端面之評估方法、基於該評估方法之玻璃基板端面之加工方法、以及根據該加工方法可減少玻璃基板端面之塵埃附著之玻璃基板，進而提供一種可根據該加工方法於倒角面中防止燒傷、碎屑、缺損等缺點之產生的玻璃基板。根據本發明，對藉由雷射顯微鏡14攝像之端面Z之圖像進行黑白二值化處理，將存在於端面之凹部識別為白圖像，將端面之鏡面識別為黑圖像，繼而根據白圖像之面積相對於黑圖像之面積之比率評估玻璃基板端面之性狀。根據該評估方法，與精度之可靠性依賴於存在於端面Z之凹部之大小的先前之利用觸針式粗糙度計之評估方法相比較，可更準確地評估玻璃基板G之端面Z之性狀。
简体摘要：本发明提供一种可准确评估玻璃基板端面之性状的玻璃基板端面之评估方法、基于该评估方法之玻璃基板端面之加工方法、以及根据该加工方法可减少玻璃基板端面之尘埃附着之玻璃基板，进而提供一种可根据该加工方法于倒角面中防止烧伤、碎屑、缺损等缺点之产生的玻璃基板。根据本发明，对借由激光显微镜14摄像之端面Z之图像进行黑白二值化处理，将存在于端面之凹部识别为白图像，将端面之镜面识别为黑图像，继而根据白图像之面积相对于黑图像之面积之比率评估玻璃基板端面之性状。根据该评估方法，与精度之可靠性依赖于存在于端面Z之凹部之大小的先前之利用触针式粗糙度计之评估方法相比较，可更准确地评估玻璃基板G之端面Z之性状。

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