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1. 发明专利

TW201837439A 光檢測裝置审中-公开
简体标题：光检测设备
公开(公告)号：TW201837439A
公开(公告)日：2018-10-16
申请号：TW107106569
申请日：2018-02-27
申请人：日商濱松赫德尼古斯股份有限公司 , HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
发明人：笠原隆 , KASAHARA, TAKASHI , 柴山勝己 , SHIBAYAMA, KATSUMI , 廣瀬真樹 , HIROSE, MASAKI , 川合敏光 , KAWAI, TOSHIMITSU , 大山泰生 , OYAMA, HIROKI , 蔵本有未 , KURAMOTO, YUMI
IPC分类号： G01J3/50 , G01J3/51 , G01J3/02
摘要：本發明之光檢測裝置具備：封裝體，其設置有窗部；法布裡-珀羅干涉濾光片，其在封裝體內，使自窗部入射之光透過；及光檢測器，其在封裝體內，檢測已透過法布裡-珀羅干涉濾光片之光。法布裡-珀羅干涉濾光片具有：基板，其具有窗部側之第1表面及光檢測器側之第2表面；第1層構造體，其配置於第1表面，設置有第1鏡部及第2鏡部；及透鏡部，其一體地設置於第2表面側，且將已透過第1鏡部及第2鏡部之光集光於光檢測器。
简体摘要：本发明之光检测设备具备：封装体，其设置有窗部；法布里-珀罗干涉滤光片，其在封装体内，使自窗部入射之光透过；及光检测器，其在封装体内，检测已透过法布里-珀罗干涉滤光片之光。法布里-珀罗干涉滤光片具有：基板，其具有窗部侧之第1表面及光检测器侧之第2表面；第1层构造体，其配置于第1表面，设置有第1镜部及第2镜部；及透镜部，其一体地设置于第2表面侧，且将已透过第1镜部及第2镜部之光集光于光检测器。

2. 发明专利

TW202022332A 光檢測裝置审中-公开
简体标题：光检测设备
公开(公告)号：TW202022332A
公开(公告)日：2020-06-16
申请号：TW108134765
申请日：2019-09-26
申请人：日商濱松赫德尼古斯股份有限公司 , HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
发明人：大山泰生 , OYAMA, HIROKI , 柴山勝己 , SHIBAYAMA, KATSUMI , 笠原隆 , KASAHARA, TAKASHI , 廣瀬真樹 , HIROSE, MASAKI , 川合敏光 , KAWAI, TOSHIMITSU , 蔵本有未 , KURAMOTO, YUMI
IPC分类号： G01J3/26 , G02B5/28 , G02B7/00 , G01J3/02
摘要：本揭示之分光感測器具備：配線基板，其具有主面；光檢測器，其配置於配線基板之主面上；法布里-珀羅干涉濾波器；間隔件，其設置於配線基板之主面上，以使法布里-珀羅干涉濾波器與光檢測器分隔之方式支持法布里-珀羅干涉濾波器；及底座，其連接於接地電位；且於法布里-珀羅干涉濾波器與底座之間，形成有電阻小於自法布里-珀羅干涉濾波器經由間隔件及配線基板到達光檢測器之任意之第1電流路徑的第2電流路徑。
简体摘要：本揭示之分光传感器具备：配线基板，其具有主面；光检测器，其配置于配线基板之主面上；法布里-珀罗干涉滤波器；间隔件，其设置于配线基板之主面上，以使法布里-珀罗干涉滤波器与光检测器分隔之方式支持法布里-珀罗干涉滤波器；及底座，其连接于接地电位；且于法布里-珀罗干涉滤波器与底座之间，形成有电阻小于自法布里-珀罗干涉滤波器经由间隔件及配线基板到达光检测器之任意之第1电流路径的第2电流路径。

3. 发明专利

TW201837504A 光檢測裝置审中-公开
简体标题：光检测设备
公开(公告)号：TW201837504A
公开(公告)日：2018-10-16
申请号：TW107108249
申请日：2018-03-12
申请人：日商濱松赫德尼古斯股份有限公司 , HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
发明人：廣瀬真樹 , HIROSE, MASAKI , 柴山勝己 , SHIBAYAMA, KATSUMI , 笠原隆 , KASAHARA, TAKASHI , 川合敏光 , KAWAI, TOSHIMITSU , 大山泰生 , OYAMA, HIROKI , 蔵本有未 , KURAMOTO, YUMI
IPC分类号： G02B5/28 , G02B27/00
摘要：本發明之光檢測裝置具備：封裝體，其形成有使光入射之開口；光透過部，其以將開口封閉之方式配置於封裝體之內表面；法布里-珀羅干涉濾光片，其配置於封裝體內，使已透過光透過部之光透過；及光檢測器，其配置於封裝體內，檢測已透過法布里-珀羅干涉濾光片之光。光透過部係包含以下而一體地構成：帶通濾光片，其配置於封裝體內，使入射至法布里-珀羅干涉濾光片之光透過；及透鏡部，其將入射至法布里-珀羅干涉濾光片之光聚光。
简体摘要：本发明之光检测设备具备：封装体，其形成有使光入射之开口；光透过部，其以将开口封闭之方式配置于封装体之内表面；法布里-珀罗干涉滤光片，其配置于封装体内，使已透过光透过部之光透过；及光检测器，其配置于封装体内，检测已透过法布里-珀罗干涉滤光片之光。光透过部系包含以下而一体地构成：带通滤光片，其配置于封装体内，使入射至法布里-珀罗干涉滤光片之光透过；及透镜部，其将入射至法布里-珀罗干涉滤光片之光聚光。

4. 发明专利

TW202026604A 法布立-培若干涉濾波器审中-公开
简体标题：法布立-培若干涉滤波器
公开(公告)号：TW202026604A
公开(公告)日：2020-07-16
申请号：TW108135440
申请日：2019-10-01
申请人：日商濱松赫德尼古斯股份有限公司 , HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
发明人：笠原隆 , KASAHARA, TAKASHI , 柴山勝己 , SHIBAYAMA, KATSUMI , 廣瀬真樹 , HIROSE, MASAKI , 大山泰生 , OYAMA, HIROKI , 蔵本有未 , KURAMOTO, YUMI
IPC分类号： G01J3/26 , G02B26/00 , G02B5/28
摘要：本發明之法布立-培若干涉濾波器具備：基板，其具有第1表面；第1積層體，其具有配置於第1表面之第1鏡部；第2積層體，其具有於相對於第1鏡部與基板相反側介隔空隙而與第1鏡部對向之第2鏡部；中間層，其具有於第1積層體與第2積層體之間劃定空隙的劃定部；第1電極，其形成於構成第1積層體之第1層；及第2電極，其形成於構成第2積層體之第2層，並與第1電極對向。中間層進而具有：被覆部，其被覆構成第1積層體之層中包含第1層之複數層的外緣；及延伸部，其沿著平行於第1表面之方向自被覆部向外側延伸。第2積層體以藉由被覆部被覆形成於劃定部與延伸部之間之階差面、及延伸部之外端面之方式延伸。
简体摘要：本发明之法布立-培若干涉滤波器具备：基板，其具有第1表面；第1积层体，其具有配置于第1表面之第1镜部；第2积层体，其具有于相对于第1镜部与基板相反侧介隔空隙而与第1镜部对向之第2镜部；中间层，其具有于第1积层体与第2积层体之间划定空隙的划定部；第1电极，其形成于构成第1积层体之第1层；及第2电极，其形成于构成第2积层体之第2层，并与第1电极对向。中间层进而具有：被覆部，其被覆构成第1积层体之层中包含第1层之复数层的外缘；及延伸部，其沿着平行于第1表面之方向自被覆部向外侧延伸。第2积层体以借由被覆部被覆形成于划定部与延伸部之间之阶差面、及延伸部之外端面之方式延伸。

5. 发明专利

TW201907199A 光測量控制程式、光測量系統及光測量方法审中-公开
简体标题：光测量控制进程、光测量系统及光测量方法
公开(公告)号：TW201907199A
公开(公告)日：2019-02-16
申请号：TW107114623
申请日：2018-04-30
申请人：日商濱松赫德尼古斯股份有限公司 , HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
发明人：笠原隆 , KASAHARA, TAKASHI , 柴山勝己 , SHIBAYAMA, KATSUMI , 廣瀬真樹 , HIROSE, MASAKI , 川合敏光 , KAWAI, TOSHIMITSU , 大山泰生 , OYAMA, HIROKI , 蔵本有未 , KURAMOTO, YUMI
IPC分类号： G02B26/00
摘要：本發明之光測量控制程式係於包含法布里-佩洛干涉濾光器及光檢測器之光檢測裝置中，藉由取得自光檢測器輸出之電信號而使電腦執行對成為測量對象之光進行測量之處理的光測量控制程式；上述法布里-佩洛干涉濾光器具有介隔空隙而彼此對向之一對鏡面部，且一對鏡面部間之距離對應於一對鏡面部間產生之電位差而變化；上述光檢測器檢測透過法布里-佩洛干涉濾光器之光；且該光測量控制程式係使電腦作為以下兩者發揮功能：電壓控制部，其於開始電信號之取得前，將一對鏡面部間產生之電位差控制為階段性增加至達到與測量對象之光之波長對應之設定電位差；及信號取得部，其於電壓控制部於一對鏡面部間產生設定電位差之狀態下取得電信號。
简体摘要：本发明之光测量控制进程系于包含法布里-佩洛干涉滤光器及光检测器之光检测设备中，借由取得自光检测器输出之电信号而使电脑运行对成为测量对象之光进行测量之处理的光测量控制进程；上述法布里-佩洛干涉滤光器具有介隔空隙而彼此对向之一对镜面部，且一对镜面部间之距离对应于一对镜面部间产生之电位差而变化；上述光检测器检测透过法布里-佩洛干涉滤光器之光；且该光测量控制进程系使电脑作为以下两者发挥功能：电压控制部，其于开始电信号之取得前，将一对镜面部间产生之电位差控制为阶段性增加至达到与测量对象之光之波长对应之设置电位差；及信号取得部，其于电压控制部于一对镜面部间产生设置电位差之状态下取得电信号。

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