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1. 发明专利

TW202011026A 分析方法、分析裝置及程式审中-公开
简体标题：分析方法、分析设备及进程
公开(公告)号：TW202011026A
公开(公告)日：2020-03-16
申请号：TW108130484
申请日：2019-08-26
申请人：日商島津製作所股份有限公司 , SHIMADZU CORPORATION
发明人：村田匡 , MURATA, TASUKU , 藤田慎二郎 , FUJITA, SHINJIRO
IPC分类号： G01N27/62 , H01J49/02 , H01J49/10 , H01J49/26
摘要：分析方法是使配置於分析裝置的離子化部的試樣在與溶劑接觸的狀態下離子化而進行分析的分析方法，所述分析方法包括：第一質量分析，使未與試樣接觸的溶劑附著於探針之後，進行附著於探針的溶劑的質量分析，獲取第一測定資料；第二質量分析，繼第一質量分析之後進行，使溶劑中的試樣附著於探針，或使附著於探針的試樣與溶劑接觸之後，進行附著於探針的溶劑及試樣的質量分析，獲取第二測定資料；以及基於第一測定資料及第二測定資料，生成與試樣相對應的測定資料。
简体摘要：分析方法是使配置于分析设备的离子化部的试样在与溶剂接触的状态下离子化而进行分析的分析方法，所述分析方法包括：第一质量分析，使未与试样接触的溶剂附着于探针之后，进行附着于探针的溶剂的质量分析，获取第一测定数据；第二质量分析，继第一质量分析之后进行，使溶剂中的试样附着于探针，或使附着于探针的试样与溶剂接触之后，进行附着于探针的溶剂及试样的质量分析，获取第二测定数据；以及基于第一测定数据及第二测定数据，生成与试样相对应的测定数据。

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