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    • 2. 发明专利
    • 打線接合裝置以及打線接合方法
    • 打线接合设备以及打线接合方法
    • TW201829108A
    • 2018-08-16
    • TW106143294
    • 2017-12-11
    • 日商新川股份有限公司SHINKAWA LTD.
    • 関根直希SEKINE, NAOKI田中清貴TANAKA, KIYOTAKA田村一成TAMURA, KAZUNARI長島康雄NAGASHIMA, YASUO
    • B23K20/00B23K31/12H01L21/60
    • 本發明提供一種可高精度地檢測出以基板側為主要因素的接合狀態的不良的接合裝置及接合方法。打線接合裝置1包括:毛細管33,相對於半導體晶片的電極即襯墊101而上下驅動,將自前端延伸出來的金屬線W按壓至襯墊101;高度測定元件53,對自毛細管33延伸出來的金屬線W與襯墊101的接觸進行檢測,測定自將金屬線W按壓至襯墊101的接觸高度算起的移動量;以及不良檢測元件54,包含已預先設定自金屬線W與襯墊101接觸至接合完成為止的期間的接合定時器55,當在接合定時器55的期間內移動量未達規定值時將金屬線W與襯墊101的接合狀態判斷為不良。
    • 本发明提供一种可高精度地检测出以基板侧为主要因素的接合状态的不良的接合设备及接合方法。打线接合设备1包括:毛细管33,相对于半导体芯片的电极即衬垫101而上下驱动,将自前端延伸出来的金属线W按压至衬垫101;高度测定组件53,对自毛细管33延伸出来的金属线W与衬垫101的接触进行检测,测定自将金属线W按压至衬垫101的接触高度算起的移动量;以及不良检测组件54,包含已预先设置自金属线W与衬垫101接触至接合完成为止的期间的接合定时器55,当在接合定时器55的期间内移动量未达规定值时将金属线W与衬垫101的接合状态判断为不良。