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    • 1. 发明专利
    • 光檢測裝置、光電裝置與電子機器及光劣化修正方法 OPTICAL DETECTION DEVICE, ELECTRO-OPTICAL DEVICE, ELECTRONIC APPARATUS, AND OPTICAL DEGRADATION CORRECTION METHOD
    • 光检测设备、光电设备与电子机器及光劣化修正方法 OPTICAL DETECTION DEVICE, ELECTRO-OPTICAL DEVICE, ELECTRONIC APPARATUS, AND OPTICAL DEGRADATION CORRECTION METHOD
    • TW200945311A
    • 2009-11-01
    • TW098108900
    • 2009-03-19
    • 愛普生映像元器件有限公司
    • 平林幸哉國森隆志
    • G09GG01J
    • G09G3/3648G01J1/0228G01J1/32G02F1/133371G02F2201/58G02F2203/09G09G3/3406G09G2320/043G09G2320/0626G09G2360/145
    • 本發明提供一種降低實現光劣化修正功能所需的成本,並謀求提升檢測精密度之光檢測裝置,該光檢測裝置係具備有:光感測器部,係具有光檢測用電晶體,並輸出與照射於該光檢測用電晶體的照射光量對應之信號;臨限值電壓檢測部,係具有與光檢測用電晶體鄰接配置且以與光檢測用電晶體同一製程形成的臨限值檢測用電晶體,並檢測該臨限值檢測用電晶體的臨限值電壓;感測器輸出值產生部,係以光感測器部的輸出信號為依據,產生關於照射光量的感測器輸出值;修正係數決定部,係根據用以修正起因於光檢測用電晶體的光劣化的感測器輸出值的變化之修正係數與前述臨限值電壓之對應關係,決定與臨限值電壓檢測部所檢測出的臨限值電壓對應的修正係數;以及修正處理部,係根據修正係數決定部所決定的修正係數,修正感測器輸出值。
    • 本发明提供一种降低实现光劣化修正功能所需的成本,并谋求提升检测精密度之光检测设备,该光检测设备系具备有:光传感器部,系具有光检测用晶体管,并输出与照射于该光检测用晶体管的照射光量对应之信号;临限值电压检测部,系具有与光检测用晶体管邻接配置且以与光检测用晶体管同一制程形成的临限值检测用晶体管,并检测该临限值检测用晶体管的临限值电压;传感器输出值产生部,系以光传感器部的输出信号为依据,产生关于照射光量的传感器输出值;修正系数决定部,系根据用以修正起因于光检测用晶体管的光劣化的传感器输出值的变化之修正系数与前述临限值电压之对应关系,决定与临限值电压检测部所检测出的临限值电压对应的修正系数;以及修正处理部,系根据修正系数决定部所决定的修正系数,修正传感器输出值。