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1. 发明专利

TW201141772A 分類機之取放裝置审中-公开
简体标题：分类机之取放设备
公开(公告)号：TW201141772A
公开(公告)日：2011-12-01
申请号：TW099115671
申请日：2010-05-17
申请人：惠特科技股份有限公司 , 財團法人精密機械研究發展中心
发明人：徐秋田 , 廖茂欽 , 鄧博文
IPC分类号： B65G , H01L
摘要：一種分類機取放裝置包含可分別沿一第一方向與一第二方向移動的一待分類盤與一已分類盤，已分類盤沿第一方向與待分類盤間隔設置，一取放臂組沿第一方向設置於待分類盤與已分類盤中間，取放臂組包括二彼此呈180度設置的取放臂，其中一取放臂位於待分類盤上方吸取半導體元件時，另一取放臂位於已分類盤上方同步放置半導體元件，有效提高取放效率。
简体摘要：一种分类机取放设备包含可分别沿一第一方向与一第二方向移动的一待分类盘与一已分类盘，已分类盘沿第一方向与待分类盘间隔设置，一取放臂组沿第一方向设置于待分类盘与已分类盘中间，取放臂组包括二彼此呈180度设置的取放臂，其中一取放臂位于待分类盘上方吸取半导体组件时，另一取放臂位于已分类盘上方同步放置半导体组件，有效提高取放效率。

2. 实用新型

TWM489371U 主動式多針點測裝置无效
简体标题：主动式多针点测设备
公开(公告)号：TWM489371U
公开(公告)日：2014-11-01
申请号：TW103210208
申请日：2014-06-10
申请人：惠特科技股份有限公司
发明人：洪育民 , 鄧博文 , 黃瑞隆
IPC分类号： H01L21/66 , G01R31/28

3. 发明专利

TW201028703A 太陽能晶片檢測機失效
简体标题：太阳能芯片检测机
公开(公告)号：TW201028703A
公开(公告)日：2010-08-01
申请号：TW098102518
申请日：2009-01-22
申请人：惠特科技股份有限公司
发明人：周家文 , 陳政偉 , 邱融資 , 鄧博文
IPC分类号： G01R
摘要：一種太陽能晶片檢測機，包含一可設置多數太陽能晶片的承載單元、一用於輸出一光源的照明單元，及一檢測單元。每一個對應到該光源的太陽能晶片可從本身的電極輸出一電源。該檢測單元包括多數針座、多數分別設置於該等針座的探針，及一電連接於該等探針的檢測主機，該等針座是至少兩個一組並劃分成多數組，每一組針座分別對應於該等太陽能晶片的其中一者，所有針座與該承載表面可相對移動而使該等探針與對應的電極遠離或接觸，該檢測主機是經由該等探針接觸對應的電極時，測得多數電源並對應分析出多數筆電源資料。
简体摘要：一种太阳能芯片检测机，包含一可设置多数太阳能芯片的承载单元、一用于输出一光源的照明单元，及一检测单元。每一个对应到该光源的太阳能芯片可从本身的电极输出一电源。该检测单元包括多数针座、多数分别设置于该等针座的探针，及一电连接于该等探针的检测主机，该等针座是至少两个一组并划分成多数组，每一组针座分别对应于该等太阳能芯片的其中一者，所有针座与该承载表面可相对移动而使该等探针与对应的电极远离或接触，该检测主机是经由该等探针接触对应的电极时，测得多数电源并对应分析出多数笔电源数据。

4. 实用新型

TWM588798U 測試結構及包括複數該測試結構之探針裝置有权
简体标题：测试结构及包括复数该测试结构之探针设备
公开(公告)号：TWM588798U
公开(公告)日：2020-01-01
申请号：TW108207933
申请日：2019-06-21
申请人：惠特科技股份有限公司
发明人：鄧博文 , 李孟潔 , 詹前偉
IPC分类号： G01R1/067 , H01L21/66

5. 实用新型

TWM540383U 點墨機有权
简体标题：点墨机
公开(公告)号：TWM540383U
公开(公告)日：2017-04-21
申请号：TW105218804
申请日：2016-12-09
申请人：惠特科技股份有限公司
发明人：洪育民 , 鄧博文 , 吳子成
IPC分类号： H01L21/66

6. 发明专利

TWI388857B 太陽能晶片檢測機失效
简体标题：太阳能芯片检测机
公开(公告)号：TWI388857B
公开(公告)日：2013-03-11
申请号：TW098102518
申请日：2009-01-22
申请人：惠特科技股份有限公司
发明人：周家文 , 陳政偉 , 邱融資 , 鄧博文
IPC分类号： G01R31/26 , G01R1/067

7. 发明专利

TW201232685A 點測方法及其裝置审中-公开
简体标题：点测方法及其设备
公开(公告)号：TW201232685A
公开(公告)日：2012-08-01
申请号：TW100102310
申请日：2011-01-21
申请人：惠特科技股份有限公司
发明人：賴允晉 , 徐秋田 , 鄧博文
IPC分类号： H01L , G01R
摘要：一種點測方法,用於量測一晶圓,該點測方法包含以下步驟:(A)製備一光學觀測單元及至少一量測單元,該光學觀測單元的一鏡頭具有一對應於該晶圓的視野範圍,每一量測單元包括一能安裝一探針的探針座;(B)使用該光學觀測單元掃瞄該晶圓,同時使該探針座移動,讓該探針在該光學觀測單元的掃瞄過程中離開該視野範圍。藉此,透過該探針座能移動避開該視野範圍的設計,就不需要多個光學觀測單元,並能夠減少該晶圓的移動行程及對準工作,使得移動該晶圓的相關機構能較精簡,該點測裝置整體的製造成本及佔地面積都能達到降低的功效。
简体摘要：一种点测方法,用于量测一晶圆,该点测方法包含以下步骤:(A)制备一光学观测单元及至少一量测单元,该光学观测单元的一镜头具有一对应于该晶圆的视野范围,每一量测单元包括一能安装一探针的探针座;(B)使用该光学观测单元扫瞄该晶圆,同时使该探针座移动,让该探针在该光学观测单元的扫瞄过程中离开该视野范围。借此,透过该探针座能移动避开该视野范围的设计,就不需要多个光学观测单元,并能够减少该晶圆的移动行程及对准工作,使得移动该晶圆的相关机构能较精简,该点测设备整体的制造成本及占地面积都能达到降低的功效。

8. 发明专利

TW201115124A 承載盤及利用該承載盤之光參數量測方法审中-公开
简体标题：承载盘及利用该承载盘之光参数量测方法
公开(公告)号：TW201115124A
公开(公告)日：2011-05-01
申请号：TW098135247
申请日：2009-10-19
申请人：廣鎵光電股份有限公司 , 惠特科技股份有限公司
发明人：溫偉值 , 蔣智偉 , 王泰鈞 , 黃翊彰 , 鄧博文
IPC分类号： G01J
摘要：一種承載盤，適用於承載至少一發光源，該承載盤包含一本體及一反射件，該反射件安裝於該本體與該發光源之間以反射該發光源所產生的光線，使用時，該反射件可將該發光源朝該反射件發射的光朝反方向反射，以提高後續量測該發光源的發光量時的準確性。
简体摘要：一种承载盘，适用于承载至少一发光源，该承载盘包含一本体及一反射件，该反射件安装于该本体与该发光源之间以反射该发光源所产生的光线，使用时，该反射件可将该发光源朝该反射件发射的光朝反方向反射，以提高后续量测该发光源的发光量时的准确性。

9. 实用新型

TWM461144U 探針清潔裝置有权
简体标题：探针清洁设备
公开(公告)号：TWM461144U
公开(公告)日：2013-09-01
申请号：TW102205884
申请日：2013-03-29
申请人：惠特科技股份有限公司 , FITTECH CO., LTD.
发明人：鄧博文
IPC分类号： H01L21/66

10. 实用新型

TWM461053U 防止探針沾黏髒污之裝置有权
简体标题：防止探针沾黏脏污之设备
公开(公告)号：TWM461053U
公开(公告)日：2013-09-01
申请号：TW102205638
申请日：2013-03-27
申请人：惠特科技股份有限公司 , FITTECH CO., LTD.
发明人：張建凡 , 徐秋田 , 鄧博文
IPC分类号： G01R1/067 , B08B1/00

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