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1. 发明专利

TWI579524B 光學檢測裝置有权
简体标题：光学检测设备
公开(公告)号：TWI579524B
公开(公告)日：2017-04-21
申请号：TW105105291
申请日：2016-02-23
申请人：德律科技股份有限公司 , TEST RESEARCH, INC.
发明人：王湧鋒 , WANG, YEONG FENG
IPC分类号： G01B11/06 , G01N21/17
CPC分类号： G06T7/0006 , G02B5/20 , G02B21/0016 , G02B21/084 , G02B27/1006 , G02B27/141 , G06T2207/30148 , H04N5/2254 , H04N5/2256

2. 发明专利

TWI596318B 光學測量系統以及光學成像系統有权
简体标题：光学测量系统以及光学成像系统
公开(公告)号：TWI596318B
公开(公告)日：2017-08-21
申请号：TW105100922
申请日：2016-01-13
申请人：德律科技股份有限公司 , TEST RESEARCH, INC.
发明人：王湧鋒 , WANG, YEONG FENG , 余良彬 , YU, LIANG PIN
IPC分类号： G01B11/00 , G01N21/17

3. 发明专利

TW201725356A 光學測量系統以及光學成像系統审中-公开
简体标题：光学测量系统以及光学成像系统
公开(公告)号：TW201725356A
公开(公告)日：2017-07-16
申请号：TW105100922
申请日：2016-01-13
申请人：德律科技股份有限公司 , TEST RESEARCH, INC.
发明人：王湧鋒 , WANG, YEONG FENG , 余良彬 , YU, LIANG PIN
IPC分类号： G01B11/00 , G01N21/17
摘要：一種光學測量系統包含透鏡模組、光源模組以及感光元件。透鏡模組包含第一透鏡組件以及第二透鏡組件。第一透鏡組件設置於第二透鏡組件與物側之間，且第一透鏡組件與第二透鏡組件共同具有光軸。光源模組設置於第一透鏡組件與第二透鏡組件之間，其中光源模組具有開口，光軸穿過開口，光源模組用以經第一透鏡組件朝向物側發出光線。感光元件位於透鏡模組相對物側的一側，其中感光元件用以接收來自物側經透鏡模組與光源模組之開口之物體光線。
简体摘要：一种光学测量系统包含透镜模块、光源模块以及感光组件。透镜模块包含第一透镜组件以及第二透镜组件。第一透镜组件设置于第二透镜组件与物侧之间，且第一透镜组件与第二透镜组件共同具有光轴。光源模块设置于第一透镜组件与第二透镜组件之间，其中光源模块具有开口，光轴穿过开口，光源模块用以经第一透镜组件朝向物侧发出光线。感光组件位于透镜模块相对物侧的一侧，其中感光组件用以接收来自物侧经透镜模块与光源模块之开口之物体光线。

4. 发明专利

TWI620929B 檢測待測目標物的檢測裝置與方法有权
简体标题：检测待测目标物的检测设备与方法
公开(公告)号：TWI620929B
公开(公告)日：2018-04-11
申请号：TW104133298
申请日：2015-10-08
申请人：德律科技股份有限公司 , TEST RESEARCH, INC.
发明人：王湧鋒 , WANG, YEONG FENG , 溫光溥 , WEN, KUANG PU
IPC分类号： G01N21/84
CPC分类号： H04N5/2354 , G01N21/8806 , G01N2021/8845 , G01N2201/061 , G06T7/0004 , G06T2207/30141 , H04N5/2256

5. 发明专利

TW201723419A 光學檢測裝置审中-公开
简体标题：光学检测设备
公开(公告)号：TW201723419A
公开(公告)日：2017-07-01
申请号：TW105105291
申请日：2016-02-23
申请人：德律科技股份有限公司 , TEST RESEARCH, INC.
发明人：王湧鋒 , WANG, YEONG FENG
IPC分类号： G01B11/06 , G01N21/17
CPC分类号： G06T7/0006 , G02B5/20 , G02B21/0016 , G02B21/084 , G02B27/1006 , G02B27/141 , G06T2207/30148 , H04N5/2254 , H04N5/2256
摘要：一種光學檢測裝置包含分光鏡、第一光源與第一影像擷取裝置。分光鏡具有相對之第一側與第二側。分光鏡讓第一光束穿透並反射第二光束，且第二光束之波長不同於第一光束之波長。第一光源置於分光鏡之第一側，用以提供第一光束以穿透分光鏡。第一影像擷取裝置置於分光鏡之第二側，用以偵測自分光鏡反射之第二光束。
简体摘要：一种光学检测设备包含分光镜、第一光源与第一影像截取设备。分光镜具有相对之第一侧与第二侧。分光镜让第一光束穿透并反射第二光束，且第二光束之波长不同于第一光束之波长。第一光源置于分光镜之第一侧，用以提供第一光束以穿透分光镜。第一影像截取设备置于分光镜之第二侧，用以侦测自分光镜反射之第二光束。

6. 发明专利

TW201702581A 檢測待測目標物的檢測裝置與方法审中-公开
简体标题：检测待测目标物的检测设备与方法
公开(公告)号：TW201702581A
公开(公告)日：2017-01-16
申请号：TW104133298
申请日：2015-10-08
申请人：德律科技股份有限公司 , TEST RESEARCH, INC.
发明人：王湧鋒 , WANG, YEONG FENG , 溫光溥 , WEN, KUANG PU
IPC分类号： G01N21/84
CPC分类号： H04N5/2354 , G01N21/8806 , G01N2021/8845 , G01N2201/061 , G06T7/0004 , G06T2207/30141 , H04N5/2256
摘要：一種檢測裝置，用以檢測待測目標物，並包含：單色影像擷取模組、照明模組及控制模組。單色影像擷取模組設置於待測目標物上方，以將光軸對準於待測目標物。照明模組各包含具不同顏色的發光元件。控制模組控制照明模組依不同的顏色以及不同的照明角度的順序產生複數照明光線，以進一步控制單色影像擷取模組依序擷取複數單色影像，單色影像各對應於照明光線其中之一的照明。其中控制模組根據單色影像對待測目標物進行檢測。
简体摘要：一种检测设备，用以检测待测目标物，并包含：单色影像截取模块、照明模块及控制模块。单色影像截取模块设置于待测目标物上方，以将光轴对准于待测目标物。照明模块各包含具不同颜色的发光组件。控制模块控制照明模块依不同的颜色以及不同的照明角度的顺序产生复数照明光线，以进一步控制单色影像截取模块依序截取复数单色影像，单色影像各对应于照明光线其中之一的照明。其中控制模块根据单色影像对待测目标物进行检测。

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