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    • 5. 发明专利
    • 光電半導體晶片
    • 光电半导体芯片
    • TW201314957A
    • 2013-04-01
    • TW101127429
    • 2012-07-30
    • 歐斯朗奧托半導體股份有限公司OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
    • 唐格林 伊瓦TANGRING, IVAR史密特 沃夫甘SCHMID, WOLFGANG
    • H01L33/36
    • H01L33/62H01L33/145H01L33/20H01L33/38H01L33/405H01L2224/48463
    • 在光電半導體晶片(1)之至少一實施形式中,包括半導體層序列(2),其具有至少一活性層(20)。此外,半導體晶片(1)具有一上側接觸結構(3),其位於該半導體層序列(2)之輻射主側(23)上;以及一下側接觸結構(4),其位於半導體層序列(2)之與該輻射主側(23)相對向的下側(24)上。又,該半導體晶片(1)包括至少二個溝槽(5),其由該輻射主側(23)而延伸到達該下側(24)。在該輻射主側(23)之俯視圖中觀看時,該上側接觸結構(3)和該下側接觸結構(4)互相隔開而配置著。同樣,在該輻射主側(23)之俯視圖中觀看時,所述溝槽(5)位在該上側接觸結構(3)和該下側接觸結構(4)之間。
    • 在光电半导体芯片(1)之至少一实施形式中,包括半导体层串行(2),其具有至少一活性层(20)。此外,半导体芯片(1)具有一上侧接触结构(3),其位于该半导体层串行(2)之辐射主侧(23)上;以及一下侧接触结构(4),其位于半导体层串行(2)之与该辐射主侧(23)相对向的下侧(24)上。又,该半导体芯片(1)包括至少二个沟槽(5),其由该辐射主侧(23)而延伸到达该下侧(24)。在该辐射主侧(23)之俯视图中观看时,该上侧接触结构(3)和该下侧接触结构(4)互相隔开而配置着。同样,在该辐射主侧(23)之俯视图中观看时,所述沟槽(5)位在该上侧接触结构(3)和该下侧接触结构(4)之间。