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1. 发明专利

TW202014148A 放射線檢測器及放射線圖像攝影裝置审中-公开
简体标题：放射线检测器及放射线图像摄影设备
公开(公告)号：TW202014148A
公开(公告)日：2020-04-16
申请号：TW108120522
申请日：2019-06-13
申请人：日商富士軟片股份有限公司 , FUJIFILM CORPORATION
发明人：加藤宗貴 , KATO, MUNETAKA
IPC分类号： A61B6/00 , G01T1/20
摘要：本發明的放射線檢測器具有依序設置有如下之部分：基板，在像素區域形成有蓄積依據從放射線轉換之光而產生之電荷之複數個像素；轉換層，將放射線轉換為光；反射性黏著層，反射被轉換層轉換之光；及黏接層，覆蓋包括黏著層的端部至基板的表面之區域之區域。
简体摘要：本发明的放射线检测器具有依序设置有如下之部分：基板，在像素区域形成有蓄积依据从放射线转换之光而产生之电荷之复数个像素；转换层，将放射线转换为光；反射性黏着层，反射被转换层转换之光；及黏接层，覆盖包括黏着层的端部至基板的表面之区域之区域。

2. 发明专利

TW201831921A 放射線檢測器以及放射線圖像攝影裝置审中-公开
简体标题：放射线检测器以及放射线图像摄影设备
公开(公告)号：TW201831921A
公开(公告)日：2018-09-01
申请号：TW106145763
申请日：2017-12-26
申请人：日商富士軟片股份有限公司 , FUJIFILM CORPORATION
发明人：加藤宗貴 , KATO, MUNETAKA , 赤松圭一 , AKAMATSU, KEIICHI
IPC分类号： G01T1/167 , G01T1/24 , H01L27/14
摘要：本發明提供一種能夠得到高畫質的放射線圖像之放射線檢測器及放射線圖像攝影裝置。一種放射線檢測器，其具有依序設置有下述構件之部分：像素陣列，形成有複數個像素，該複數個像素積蓄根據由放射線轉換之光線而產生之電荷；轉換層，將放射線轉換成光線；光透射性黏著層，厚度為2 μm以上且7 μm以下；及反射層，使由轉換層轉換之光線反射到TFT基板。
简体摘要：本发明提供一种能够得到高画质的放射线图像之放射线检测器及放射线图像摄影设备。一种放射线检测器，其具有依序设置有下述构件之部分：像素数组，形成有复数个像素，该复数个像素积蓄根据由放射线转换之光线而产生之电荷；转换层，将放射线转换成光线；光透射性黏着层，厚度为2 μm以上且7 μm以下；及反射层，使由转换层转换之光线反射到TFT基板。

3. 发明专利

TW202026666A 放射線檢測器、放射線圖像攝影裝置及製造方法审中-公开
简体标题：放射线检测器、放射线图像摄影设备及制造方法
公开(公告)号：TW202026666A
公开(公告)日：2020-07-16
申请号：TW108134759
申请日：2019-09-26
申请人：日商富士軟片股份有限公司 , FUJIFILM CORPORATION
发明人：加藤宗貴 , KATO, MUNETAKA , 中津川晴康 , NAKATSUGAWA, HARUYASU
IPC分类号： G01T1/20 , A61B6/00
摘要：一種放射線檢測器，其具備：基板，在可撓性基材的像素區域上包括感測器部層，該感測器部層具有蓄積根據從放射線轉換之光產生之電荷之複數個像素；轉換層，設置於該基材的設置有該像素區域之面側，且將該放射線轉換為光；及固定構件，設置於比該轉換層更靠該基板側，且將該感測器部層固定於該基材。
简体摘要：一种放射线检测器，其具备：基板，在可挠性基材的像素区域上包括传感器部层，该传感器部层具有蓄积根据从放射线转换之光产生之电荷之复数个像素；转换层，设置于该基材的设置有该像素区域之面侧，且将该放射线转换为光；及固定构件，设置于比该转换层更靠该基板侧，且将该传感器部层固定于该基材。

4. 发明专利

TW201400091A 放射線影像檢測裝置及其製造方法审中-公开
简体标题：放射线影像检测设备及其制造方法
公开(公告)号：TW201400091A
公开(公告)日：2014-01-01
申请号：TW102122298
申请日：2013-06-24
申请人：富士軟片股份有限公司 , FUJIFILM CORPORATION
发明人：安西昭裕 , ANZAI, AKIHIRO , 加藤宗貴 , KATO, MUNETAKA
IPC分类号： A61B6/00
CPC分类号： G01T1/2006 , G01T1/202 , H01L27/14663 , H01L31/02322
摘要：本發明的課題是使感度提高，並且使重影降低。閃爍器具有包含鉈活化碘化銫的多個柱狀結晶，將X射線轉換為可見光並自柱狀結晶的前端部射出。光電轉換面板具有多個光電二極體，該光電二極體檢測自閃爍器射出的可見光並生成電荷且包含非晶矽。在將閃爍器的最大發光強度設為I1，將獲得該最大發光強度的波長設為WP，且將波長400 nm下的發光強度設為I2的情形時，滿足I2/I1≧0.1、及540 nm≦WP≦570 nm。
简体摘要：本发明的课题是使感度提高，并且使重影降低。闪烁器具有包含铊活化碘化铯的多个柱状结晶，将X射线转换为可见光并自柱状结晶的前端部射出。光电转换皮肤具有多个光电二极管，该光电二极管检测自闪烁器射出的可见光并生成电荷且包含非晶硅。在将闪烁器的最大发光强度设为I1，将获得该最大发光强度的波长设为WP，且将波长400 nm下的发光强度设为I2的情形时，满足I2/I1≧0.1、及540 nm≦WP≦570 nm。

5. 发明专利

TW201830053A 放射線檢測器及放射線圖像攝影裝置审中-公开
简体标题：放射线检测器及放射线图像摄影设备
公开(公告)号：TW201830053A
公开(公告)日：2018-08-16
申请号：TW106145731
申请日：2017-12-26
申请人：日商富士軟片股份有限公司 , FUJIFILM CORPORATION
发明人：加藤宗貴 , KATO, MUNETAKA , 赤松圭一 , AKAMATSU, KEIICHI
IPC分类号： G01T1/20
摘要：本發明提供一種能夠抑制反射層端部的剝離之放射線檢測器及放射線圖像攝影裝置。一種放射線檢測器，其具有依序設置有下述構件之部分：TFT基板；像素陣列，設置在TFT基板的像素區域，並形成有複數個像素，該複數個像素積蓄根據由放射線轉換之光線而產生之電荷；轉換層，將放射線轉換成光線；光透射性黏著層；反射層，反射由轉換層轉換之光線；及黏接層，至少覆蓋從反射層的端部到TFT基板的表面之區域。
简体摘要：本发明提供一种能够抑制反射层端部的剥离之放射线检测器及放射线图像摄影设备。一种放射线检测器，其具有依序设置有下述构件之部分：TFT基板；像素数组，设置在TFT基板的像素区域，并形成有复数个像素，该复数个像素积蓄根据由放射线转换之光线而产生之电荷；转换层，将放射线转换成光线；光透射性黏着层；反射层，反射由转换层转换之光线；及黏接层，至少覆盖从反射层的端部到TFT基板的表面之区域。

6. 发明专利

TW201349252A 放射線影像檢測裝置审中-公开
简体标题：放射线影像检测设备
公开(公告)号：TW201349252A
公开(公告)日：2013-12-01
申请号：TW102116803
申请日：2013-05-13
申请人：富士軟片股份有限公司 , FUJIFILM CORPORATION
发明人：加藤宗貴 , KATO, MUNETAKA , 園田慎一郎 , SONODA, SHINICHIRO , 山下清司 , YAMASHITA, SEIJI
IPC分类号： G21K4/00 , G01T1/20
CPC分类号： G01T1/2006 , G01T1/202
摘要：閃爍器20具有包含CsI：Tl的多個柱狀結晶31，且將X射線轉換為可見光並從柱狀結晶31的前端部31a射出。表面保護膜23包含聚對二甲苯，且覆蓋閃爍器20的表面，柱狀結晶31的前端部31a侵入該表面保護膜23。光電轉換面板21包含玻璃基板21a、及形成在玻璃基板21a上的元件部21b。元件部21b具有多個畫素，並且與柱狀結晶31的前端部31a對向配置，在各畫素的受光區域檢測從前端部31a射出並透射表面保護膜23的可見光並將該可見光轉換為電荷。為提高訊雜比，前端部31a向表面保護膜23的侵入量P與各畫素的受光區域的面積A設定為滿足0＜P/A≦1.4×103m-1的關係。
简体摘要：闪烁器20具有包含CsI：Tl的多个柱状结晶31，且将X射线转换为可见光并从柱状结晶31的前端部31a射出。表面保护膜23包含聚对二甲苯，且覆盖闪烁器20的表面，柱状结晶31的前端部31a侵入该表面保护膜23。光电转换皮肤21包含玻璃基板21a、及形成在玻璃基板21a上的组件部21b。组件部21b具有多个像素，并且与柱状结晶31的前端部31a对向配置，在各像素的受光区域检测从前端部31a射出并透射表面保护膜23的可见光并将该可见光转换为电荷。为提高信噪比，前端部31a向表面保护膜23的侵入量P与各像素的受光区域的面积A设置为满足0＜P/A≦1.4×103m-1的关系。

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