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    • 3. 发明专利
    • 氮化物紅色螢光體及其製造方法 RED NITRIDE PHOSPHOR AND PRODUCTION METHOD THEREOF
    • 氮化物红色萤光体及其制造方法 RED NITRIDE PHOSPHOR AND PRODUCTION METHOD THEREOF
    • TWI374927B
    • 2012-10-21
    • TW095103528
    • 2006-01-27
    • 宇部興產股份有限公司
    • 坂田信一山尾猛山田哲夫
    • C09KH01L
    • C09K11/0883C01B21/0602C01P2002/54C01P2002/72C01P2002/77C01P2002/84C01P2006/60C09K11/7728
    • 一種構成螢光體之結晶相係單斜晶系之以銪所激活的CaAlSiN3之紅色螢光體,該紅色螢光體係於未粉碎的狀態下,以雷射繞射/散射式粒度分布測定法測得之平均粒子徑為10μm以下,且以Eu所激活之CaAlSiN3粉末。又,本發明之發光裝置包含藍色發光元件、及將該藍色發光元件發出之藍色光變換為紅色光之前述紅色螢光體與變換為黃色光之黃色螢光體。以Eu所激活之CaAlSiN3粉末之製造方法,係在含氮環境中,以1400~2000℃鍛燒原料粉末者,而前述原料粉末係含有氮化鈣、氮化鋁、氮化矽、及相對於氮化鈣、氮化鋁、氮化矽合計100重量份含有0.01~10重量份之氮化銪作為銪者,且其中前述氮化鈣、氮化鋁、氮化矽之組成係在以連接第1圖之組成圖中下列四點A~D,即,(氮化鈣、氮化鋁、氮化矽)之莫耳比係下列比例之4點:A點:(10:70:20)B點:(10:65:25)C點:(70:23:7)D點:(70:22:8)之直線所圍範圍內者。
    • 一种构成萤光体之结晶相系单斜晶系之以铕所激活的CaAlSiN3之红色萤光体,该红色萤光体系于未粉碎的状态下,以激光绕射/散射式粒度分布测定法测得之平均粒子径为10μm以下,且以Eu所激活之CaAlSiN3粉末。又,本发明之发光设备包含蓝色发光组件、及将该蓝色发光组件发出之蓝色光变换为红色光之前述红色萤光体与变换为黄色光之黄色萤光体。以Eu所激活之CaAlSiN3粉末之制造方法,系在含氮环境中,以1400~2000℃锻烧原料粉末者,而前述原料粉末系含有氮化钙、氮化铝、氮化硅、及相对于氮化钙、氮化铝、氮化硅合计100重量份含有0.01~10重量份之氮化铕作为铕者,且其中前述氮化钙、氮化铝、氮化硅之组成系在以连接第1图之组成图中下列四点A~D,即,(氮化钙、氮化铝、氮化硅)之莫耳比系下列比例之4点:A点:(10:70:20)B点:(10:65:25)C点:(70:23:7)D点:(70:22:8)之直线所围范围内者。
    • 9. 发明专利
    • 含有鋰之α-賽隆(α-sialon)系螢光體與其製造方法、照明器具及影像顯示裝置
    • 含有锂之α-赛隆(α-sialon)系萤光体与其制造方法、照明器具及影像显示设备
    • TW201016828A
    • 2010-05-01
    • TW098127112
    • 2009-08-12
    • 宇部興產股份有限公司
    • 坂田信一小田浩酒井拓馬
    • C09KH01L
    • C09K11/7728C09K11/0883C09K11/7734H01L33/502Y02B20/181
    • 本發明的目的係為提供一種螢光強度高,而且可以與藍色LED組合以製作晝白色或日光色的白色發光二極體之發出螢光色的螢光體,並提供一種以一般式:LixEuySi12-(m+n)Al(m+n)On+δN16-n-δ(式中,如果將Eu的平均價數表示為a,則x+ya+δ=m;0.45≦x<1.2,0.001≦y≦0.2,0.9≦m≦2.5,0.5≦n≦2.4,δ>0。)表示之含有鋰的α-賽隆系螢光體。利用圖像解析掃描型電子顯微鏡照片計測得之一次粒子的平均縱橫比在2以下,平均粒徑Dparticle為1μm以上3.0μm以下;由圖像解析掃描型電子顯微鏡照片計測得之一次粒子的縱橫比在3以下,短軸長度可以大於3μm。
    • 本发明的目的系为提供一种萤光强度高,而且可以与蓝色LED组合以制作昼白色或日光色的白色发光二极管之发出萤光色的萤光体,并提供一种以一般式:LixEuySi12-(m+n)Al(m+n)On+δN16-n-δ(式中,如果将Eu的平均价数表示为a,则x+ya+δ=m;0.45≦x<1.2,0.001≦y≦0.2,0.9≦m≦2.5,0.5≦n≦2.4,δ>0。)表示之含有锂的α-赛隆系萤光体。利用图像解析扫描型电子显微镜照片计测得之一次粒子的平均纵横比在2以下,平均粒径Dparticle为1μm以上3.0μm以下;由图像解析扫描型电子显微镜照片计测得之一次粒子的纵横比在3以下,短轴长度可以大于3μm。