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1. 发明专利

TWI434059B 光學式測距感測器及電子機器有权
简体标题：光学式测距传感器及电子机器
公开(公告)号：TWI434059B
公开(公告)日：2014-04-11
申请号：TW099145381
申请日：2010-12-22
申请人：夏普股份有限公司 , SHARP KABUSHIKI KAISHA , 原相科技股份有限公司 , PIXART IMAGING INC.
发明人：山口陽史 , YAMAGUCHI, AKIFUMI , 和田秀夫 , WADA, HIDEO , 久保勝 , KUBO, MASARU , 呂志宏 , LU, CHIH HUNG
IPC分类号： G01S17/08 , G01B11/00
CPC分类号： G01C3/085

2. 发明专利

TW201140111A 光學式測距感測器及電子機器 OPTICAL RANGING SENSOR AND ELECTRONIC EQUIPMENT 审中-公开
简体标题：光学式测距传感器及电子机器 OPTICAL RANGING SENSOR AND ELECTRONIC EQUIPMENT
公开(公告)号：TW201140111A
公开(公告)日：2011-11-16
申请号：TW099145381
申请日：2010-12-22
申请人：夏普股份有限公司 , 原相科技股份有限公司
发明人：山口陽史 , 和田秀夫 , 久保勝 , 呂志宏
IPC分类号： G01S , G01B
CPC分类号： G01C3/085
摘要：本發明之光學式測距感測器具備:對被測定物體照射光束之發光部;形成由上述被測定物反射之上述光束之反射光之光點之受光部;及處理來自上述受光部之輸出信號,而檢測至上述被測定物體之距離之處理電路部。上述受光部包含有效受光部,其係被測定物體於上述發光部之光軸方向移動時在上述光點位置所移動之方向即第1方向及與該第1方向正交之第2方向上,成矩陣狀配置有複數之受光單元。上述有效受光部之上述第2方向之尺寸為上述光點之半徑以上且直徑以下。
简体摘要：本发明之光学式测距传感器具备:对被测定物体照射光束之发光部;形成由上述被测定物反射之上述光束之反射光之光点之受光部;及处理来自上述受光部之输出信号,而检测至上述被测定物体之距离之处理电路部。上述受光部包含有效受光部,其系被测定物体于上述发光部之光轴方向移动时在上述光点位置所移动之方向即第1方向及与该第1方向正交之第2方向上,成矩阵状配置有复数之受光单元。上述有效受光部之上述第2方向之尺寸为上述光点之半径以上且直径以下。

3. 发明专利

TW202030472A 微粒子檢測感測器以及微粒子檢測裝置审中-公开
简体标题：微粒子检测传感器以及微粒子检测设备
公开(公告)号：TW202030472A
公开(公告)日：2020-08-16
申请号：TW108143517
申请日：2019-11-28
申请人：日商夏普股份有限公司 , SHARP KABUSHIKI KAISHA
发明人：増田佳史 , MASUDA, YOSHIFUMI , 山口陽史 , YAMAGUCHI, AKIFUMI
IPC分类号： G01N21/53 , G01N15/06
摘要：微粒子檢測感測器(1)包括：透光樹脂(5)，將發光元件(3)以及受光元件(6)密封；及反射面(7)，設置在透光樹脂(5)，將從發光元件(3)射出的輸出光(8)朝向受光視野範圍(10)反射。
简体摘要：微粒子检测传感器(1)包括：透光树脂(5)，将发光组件(3)以及受光组件(6)密封；及反射面(7)，设置在透光树脂(5)，将从发光组件(3)射出的输出光(8)朝向受光视野范围(10)反射。

4. 发明专利

TWI424144B 光學式檢測裝置及電子機器有权
简体标题：光学式检测设备及电子机器
公开(公告)号：TWI424144B
公开(公告)日：2014-01-21
申请号：TW099126809
申请日：2010-08-11
申请人：夏普股份有限公司 , SHARP KABUSHIKI KAISHA
发明人：和田秀夫 , WADA, HIDEO , 山口陽史 , YAMAGUCHI, AKIFUMI , 久保勝 , KUBO, MASARU
IPC分类号： G01B11/00 , G06T1/00
CPC分类号： G06F3/011 , G06F3/0304

5. 发明专利

TW201139971A 光學式檢測裝置及電子機器 OPTICAL DETECTION DEVICE AND ELECTRONIC EQUIPMENT 审中-公开
简体标题：光学式检测设备及电子机器 OPTICAL DETECTION DEVICE AND ELECTRONIC EQUIPMENT
公开(公告)号：TW201139971A
公开(公告)日：2011-11-16
申请号：TW099126809
申请日：2010-08-11
申请人：夏普股份有限公司
发明人：和田秀夫 , 山口陽史 , 久保勝
IPC分类号： G01B , G06T
CPC分类号： G06F3/011 , G06F3/0304
摘要：本發明之光學式檢測裝置包括:發光元件(2),其係區域感測器;發光透鏡部(4a),其將自發光元件(2)出射之光束照射至測定對象物(20);受光透鏡部(5a),其使來自測定對象物(20)之反射光聚光;受光元件(3),其檢測藉由受光透鏡部(5a)所聚光之來自測定對象物(20)之反射光;及訊號處理部(7),其處理來自受光元件(3)之受光訊號。上述訊號處理部(7)基於來自受光元件(3)之受光訊號,根據受光元件(3)上之光點位置或者光點形狀之至少一者,檢測xy座標平面上之測定對象物(20)之x座標或者y座標之至少一者。
简体摘要：本发明之光学式检测设备包括:发光组件(2),其系区域传感器;发光透镜部(4a),其将自发光组件(2)出射之光束照射至测定对象物(20);受光透镜部(5a),其使来自测定对象物(20)之反射光聚光;受光组件(3),其检测借由受光透镜部(5a)所聚光之来自测定对象物(20)之反射光;及信号处理部(7),其处理来自受光组件(3)之受光信号。上述信号处理部(7)基于来自受光组件(3)之受光信号,根据受光组件(3)上之光点位置或者光点形状之至少一者,检测xy座标平面上之测定对象物(20)之x座标或者y座标之至少一者。

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