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1. 发明专利

TWI407078B 微透鏡陣列表面輪廓檢測系統及其檢測方法有权
简体标题：微透镜数组表面轮廓检测系统及其检测方法
公开(公告)号：TWI407078B
公开(公告)日：2013-09-01
申请号：TW099118588
申请日：2010-06-08
申请人：國防部軍備局中山科學研究院 , CHUNG SHAN INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY, ARMAMENTS BUREAU, M. N. D
发明人：林宸生 , LIN, CHERN SHENG , 葉茂勳 , YEH, MAU SHIUN , 羅國豪 , LOH, GUO-HAO , 張勛愷 , CHANG, HSUN KAI , 傅書賢 , FU, SHU HSIEN
IPC分类号： G01B9/023 , G06T7/60

2. 发明专利

TW201314171A 透鏡起伏高度檢測方法及其檢測系統审中-公开
简体标题：透镜起伏高度检测方法及其检测系统
公开(公告)号：TW201314171A
公开(公告)日：2013-04-01
申请号：TW100135419
申请日：2011-09-30
申请人：國防部軍備局中山科學研究院 , CHUNG SHAN INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY, ARMAMENTS BUREAU, M. N. D
发明人：林宸生 , LIN, CHERN SHENG , 葉茂勳 , YEH, MAU SHIUN , 楊士緯 , YANG, SHIH WEI , 傅書賢 , FU, SHU HSIEN
IPC分类号： G01B11/02 , G01B11/30
摘要：本發明係揭露一種透鏡起伏高度檢測方法及其檢測系統，其包含下列步驟：開啟光源模組以發射光源至待測透鏡；開啟影像擷取模組擷取待測透鏡的干涉影像或干涉條紋；藉由處理模組搜尋干涉條紋中央之清晰干涉條紋或干涉條紋最外圈之邊緣點；並藉由處理模組計算至少一封閉區域；透過處理模組計算初始位置、待測透鏡之中心位置、透鏡直徑、至少一亮紋座標、至少一暗紋座標或複數條干涉條紋之極亮紋與極暗紋。
简体摘要：本发明系揭露一种透镜起伏高度检测方法及其检测系统，其包含下列步骤：打开光源模块以发射光源至待测透镜；打开影像截取模块截取待测透镜的干涉影像或干涉条纹；借由处理模块搜索干涉条纹中央之清晰干涉条纹或干涉条纹最外圈之边缘点；并借由处理模块计算至少一封闭区域；透过处理模块计算初始位置、待测透镜之中心位置、透镜直径、至少一亮纹座标、至少一暗纹座标或复数条干涉条纹之极亮纹与极暗纹。

3. 发明专利

TWI369898B 動態影像之自動化偵測方法有权
简体标题：动态影像之自动化侦测方法
公开(公告)号：TWI369898B
公开(公告)日：2012-08-01
申请号：TW097124476
申请日：2008-06-30
申请人：國防部軍備局中山科學研究院
发明人：林宸生 , 葉茂勳 , 吳俊旻 , 陳佳澤
IPC分类号： H04N
摘要：本發明係為一種動態影像之自動化偵測方法，其係包括：[1]準備步驟、[2]校正步驟、[3]影像擷取步驟、及[4]模糊影像還原步驟，藉前述步驟，將一待測物件置於一傳送裝置上並等速移動，利用一影像擷取單元以一預定之影像擷取速度擷取待測物件相關之複數影像，並將複數影像中之模糊圖像加以復原改善至一理想清晰圖像，因此，本發明兼具高速檢測及提高產品良率等優點及功效。
简体摘要：本发明系为一种动态影像之自动化侦测方法，其系包括：[1]准备步骤、[2]校正步骤、[3]影像截取步骤、及[4]模煳影像还原步骤，藉前述步骤，将一待测对象置于一发送设备上并等速移动，利用一影像截取单元以一预定之影像截取速度截取待测对象相关之复数影像，并将复数影像中之模煳图像加以复原改善至一理想清晰图像，因此，本发明兼具高速检测及提高产品良率等优点及功效。

4. 发明专利

TW201144753A 微透鏡陣列表面輪廓檢測系統及其檢測方法审中-公开
简体标题：微透镜数组表面轮廓检测系统及其检测方法
公开(公告)号：TW201144753A
公开(公告)日：2011-12-16
申请号：TW099118588
申请日：2010-06-08
申请人：國防部軍備局中山科學研究院
发明人：林宸生 , 葉茂勳 , 羅國豪 , 張勛愷 , 傅書賢
IPC分类号： G01B , G06T
摘要：本發明係提供一種微透鏡陣列表面輪廓檢測系統及其檢測方法,其系統係包含可微調式置放定位部、光學取像模組、光學干涉模組、中央控制部及影像處理運算模組;其中該影像處理運算模組係藉以對影像資料進行多種影像處理作業;其特點主要在於該影像處理運算模組,是透過圖形分割與面積識別的方法找出每個圓環的中心位置,而微透鏡陣列影像基底之判斷是根據圖形分割與面積識別的方法而自動找出整個微透鏡陣列干涉影像的背景,復根據實際中心圓環面積與理想中心圓環面積之比例判斷所述干涉條紋中心圓環相位角變化量,並根據實際第1區段之圓環條紋的亮度値變化量與理想第1區段之圓環條紋的亮度値變化量之比例,來判斷干涉條紋最外側基底處之圓環條紋相位角變化量,面積比例法及亮度比例法均可自由切換,選擇精確度較高之方法使用,接著找出每一區段亮度曲線之極大與極小値,分別對應到區段相位角從0度至180度時之亮度變化,再求出區段中點素之間所對應的微透鏡表面高度差;藉此,本發明能夠精確搜尋到透鏡的干涉條紋,並且精準判斷干涉條紋最內及最外的圓環相位角,達到大幅提昇微透鏡陣列表面輪廓檢測精準度與品質之優點與進步性。
简体摘要：本发明系提供一种微透镜数组表面轮廓检测系统及其检测方法,其系统系包含可微调式置放定位部、光学取像模块、光学干涉模块、中央控制部及影像处理运算模块;其中该影像处理运算模块系借以对影像数据进行多种影像处理作业;其特点主要在于该影像处理运算模块,是透过图形分割与面积识别的方法找出每个圆环的中心位置,而微透镜数组影像基底之判断是根据图形分割与面积识别的方法而自动找出整个微透镜数组干涉影像的背景,复根据实际中心圆环面积与理想中心圆环面积之比例判断所述干涉条纹中心圆环相位角变化量,并根据实际第1区段之圆环条纹的亮度値变化量与理想第1区段之圆环条纹的亮度値变化量之比例,来判断干涉条纹最外侧基底处之圆环条纹相位角变化量,面积比例法及亮度比例法均可自由切换,选择精确度较高之方法使用,接着找出每一区段亮度曲线之极大与极小値,分别对应到区段相位角从0度至180度时之亮度变化,再求出区段中点素之间所对应的微透镜表面高度差;借此,本发明能够精确搜索到透镜的干涉条纹,并且精准判断干涉条纹最内及最外的圆环相位角,达到大幅提升微透镜数组表面轮廓检测精准度与品质之优点与进步性。

5. 发明专利

TWI315480B 以生物或物品特徵位置資訊追蹤之影像密碼鎖系統有权
简体标题：以生物或物品特征位置信息追踪之影像密码锁系统
公开(公告)号：TWI315480B
公开(公告)日：2009-10-01
申请号：TW094107616
申请日：2005-03-14
申请人：國防部軍備局中山科學研究院
发明人：林宸生 , 葉茂勳 , 游承峰 , 王俊強 , 林添根
IPC分类号： G06F , A61B
摘要：本發明係為一種以生物或物品特徵位置資訊追蹤之影像密碼鎖系統，其包括一用以讀取一動態影像資料的攝影裝置，此動態影像資料之一預定攝影範圍被設為一全區影像；此全區影像具有一中央區、複數個特定密碼區，而一目標物則藉由一顯示裝置對應顯示一目標物影像；再透過一影像處理裝置的目標物中心點計算模組、目標物移動確認模組、密碼顯示模組及一密碼確認裝置等等，進行計算該動態影像資料中之目標物影像的中心點之座標、編寫目標物影像之移動位置所構成的密碼、顯示密碼及確認密碼等等的步驟，如此兼具可避免任何接觸、新穎的密碼輸入方式以及有效的防盜功能等等的效益。
简体摘要：本发明系为一种以生物或物品特征位置信息追踪之影像密码锁系统，其包括一用以读取一动态影像数据的摄影设备，此动态影像数据之一预定摄影范围被设为一全区影像；此全区影像具有一中央区、复数个特定密码区，而一目标物则借由一显示设备对应显示一目标物影像；再透过一影像处理设备的目标物中心点计算模块、目标物移动确认模块、密码显示模块及一密码确认设备等等，进行计算该动态影像数据中之目标物影像的中心点之座标、编写目标物影像之移动位置所构成的密码、显示密码及确认密码等等的步骤，如此兼具可避免任何接触、新颖的密码输入方式以及有效的防盗功能等等的效益。

6. 发明专利

TWI315393B 線段投影光柵量測之光場補償方法及裝置有权
简体标题：线段投影光栅量测之光场补偿方法及设备
公开(公告)号：TWI315393B
公开(公告)日：2009-10-01
申请号：TW096105403
申请日：2007-02-14
申请人：國防部軍備局中山科學研究院
发明人：林宸生 , 葉茂勳 , 李志法 , 林嘉毫 , 周永芳 , 張偉正
IPC分类号： G01B
摘要：本發明係為一種線段投影光柵量測之光場補償方法及裝置，藉由下述步驟：一．準備步驟、二．無光柵影像產生步驟、三．有光柵影像產生步驟、四．影像結合補償步驟、五．投影暨擷取影像步驟、六．三維輪廓分析暨重建步驟以及七．完成步驟；以一影像處理裝置、一投影裝置及一攝影裝置相互配合，先後對預定之無光柵/有光柵影像進行影像處理/影像補償；而可以擷取一清楚明確之影像，對一待測工件進行三維輪廓量測與重整，如此兼顧具有光場補償功能以及可以線段投影法簡單算出待測工件之高度等功效。
简体摘要：本发明系为一种线段投影光栅量测之光场补偿方法及设备，借由下述步骤：一．准备步骤、二．无光栅影像产生步骤、三．有光栅影像产生步骤、四．影像结合补偿步骤、五．投影暨截取影像步骤、六．三维轮廓分析暨重建步骤以及七．完成步骤；以一影像处理设备、一投影设备及一摄影设备相互配合，先后对预定之无光栅/有光栅影像进行影像处理/影像补偿；而可以截取一清楚明确之影像，对一待测工件进行三维轮廓量测与重整，如此兼顾具有光场补偿功能以及可以线段投影法简单算出待测工件之高度等功效。

7. 发明专利

TW201205066A 光學鏡頭像質之自動化檢測系統审中-公开
简体标题：光学镜头像质之自动化检测系统
公开(公告)号：TW201205066A
公开(公告)日：2012-02-01
申请号：TW099125002
申请日：2010-07-29
申请人：國防部軍備局中山科學研究院
发明人：林宸生 , 葉茂勳 , 吳俊旻 , 何振維
IPC分类号： G01N
摘要：本發明係為一種光學鏡頭像質之自動化檢測系統，其包括一中央控制部及一影像處理部；透過中央控制部選擇預定之檢測模式，而使中央控制部的輸出部朝影像處理部的透鏡部、屏幕及影像擷取裝置照射預定之光學影像；控制影像處理部的滑軌部帶動屏幕與影像擷取裝置同步的相對透鏡部作前後移動，並讓影像擷取裝置擷取可供測量的光學影像，回傳至中央控制部，由其計算部配合內建公式，自動測量計算出相關光學影像之球面像差、場曲、畸變、調制函數之數據，藉此，使本案達到具有自動測量裝置動作快速，以及數位裝置具精密度及可靠度等優點及功效。
简体摘要：本发明系为一种光学镜头像质之自动化检测系统，其包括一中央控制部及一影像处理部；透过中央控制部选择预定之检测模式，而使中央控制部的输出部朝影像处理部的透镜部、屏幕及影像截取设备照射预定之光学影像；控制影像处理部的滑轨部带动屏幕与影像截取设备同步的相对透镜部作前后移动，并让影像截取设备截取可供测量的光学影像，回传至中央控制部，由其计算部配合内置公式，自动测量计算出相关光学影像之球面像差、场曲、畸变、调制函数之数据，借此，使本案达到具有自动测量设备动作快速，以及数码设备具精密度及可靠度等优点及功效。

8. 发明专利

TWI328110B 高精度色像差及畸變像差之自動量測系統及量測方法有权
简体标题：高精度色像差及畸变像差之自动量测系统及量测方法
公开(公告)号：TWI328110B
公开(公告)日：2010-08-01
申请号：TW096105404
申请日：2007-02-14
申请人：國防部軍備局中山科學研究院
发明人：林宸生 , 葉茂勳 , 李志法 , 張書綺 , 吳國彰 , 黃國埼
IPC分类号： G01M
摘要：本發明係為一種高精度色像差及畸變像差之自動量測系統及量測方法，其包括一光源發出一平行之有色光束；此光束穿透一透光控制部後，在一半透明螢幕上產生一四角影像；一計算裝置接收此四角影像，運算出其中心點/旋轉角度，用以提昇調整一手機透鏡之色像差及畸變像差的精度，其量測方法包括：一．色像差量測步驟，及二．畸變像差量測步驟，如此兼具自動化半透明螢幕位移快速、影像擷取裝置確認成像相當準確、透光控制部調整光束透光狀態之精度高，及電腦計算色像差及畸變像差之精度高等優點。
简体摘要：本发明系为一种高精度色像差及畸变像差之自动量测系统及量测方法，其包括一光源发出一平行之有色光束；此光束穿透一透光控制部后，在一半透明屏幕上产生一四角影像；一计算设备接收此四角影像，运算出其中心点/旋转角度，用以提升调整一手机透镜之色像差及畸变像差的精度，其量测方法包括：一．色像差量测步骤，及二．畸变像差量测步骤，如此兼具自动化半透明屏幕位移快速、影像截取设备确认成像相当准确、透光控制部调整光束透光状态之精度高，及电脑计算色像差及畸变像差之精度高等优点。

9. 发明专利

TW201002052A 動態影像之自動化偵測系統及方法审中-公开
简体标题：动态影像之自动化侦测系统及方法
公开(公告)号：TW201002052A
公开(公告)日：2010-01-01
申请号：TW097124476
申请日：2008-06-30
申请人：國防部軍備局中山科學研究院
发明人：林宸生 , 葉茂勳 , 吳俊旻 , 陳佳澤
IPC分类号： H04N
摘要：本發明係為一種動態影像之自動化偵測系統及方法，其方法部分係包括：[1]準備步驟、[2]校正步驟、[3]影像擷取步驟、及[4]模糊影像還原步驟，藉前述步驟，將一待測物件置於一傳送裝置上並等速移動，利用一影像擷取單元以一預定之影像擷取速度擷取待測物件相關之複數影像，並將複數影像中之模糊圖像加以復原改善至一理想清晰圖像，因此，本發明兼具高速檢測及提高產品良率等優點及功效。
简体摘要：本发明系为一种动态影像之自动化侦测系统及方法，其方法部分系包括：[1]准备步骤、[2]校正步骤、[3]影像截取步骤、及[4]模煳影像还原步骤，藉前述步骤，将一待测对象置于一发送设备上并等速移动，利用一影像截取单元以一预定之影像截取速度截取待测对象相关之复数影像，并将复数影像中之模煳图像加以复原改善至一理想清晰图像，因此，本发明兼具高速检测及提高产品良率等优点及功效。

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