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1. 发明专利

TWI315393B 線段投影光柵量測之光場補償方法及裝置有权
简体标题：线段投影光栅量测之光场补偿方法及设备
公开(公告)号：TWI315393B
公开(公告)日：2009-10-01
申请号：TW096105403
申请日：2007-02-14
申请人：國防部軍備局中山科學研究院
发明人：林宸生 , 葉茂勳 , 李志法 , 林嘉毫 , 周永芳 , 張偉正
IPC分类号： G01B
摘要：本發明係為一種線段投影光柵量測之光場補償方法及裝置，藉由下述步驟：一．準備步驟、二．無光柵影像產生步驟、三．有光柵影像產生步驟、四．影像結合補償步驟、五．投影暨擷取影像步驟、六．三維輪廓分析暨重建步驟以及七．完成步驟；以一影像處理裝置、一投影裝置及一攝影裝置相互配合，先後對預定之無光柵/有光柵影像進行影像處理/影像補償；而可以擷取一清楚明確之影像，對一待測工件進行三維輪廓量測與重整，如此兼顧具有光場補償功能以及可以線段投影法簡單算出待測工件之高度等功效。
简体摘要：本发明系为一种线段投影光栅量测之光场补偿方法及设备，借由下述步骤：一．准备步骤、二．无光栅影像产生步骤、三．有光栅影像产生步骤、四．影像结合补偿步骤、五．投影暨截取影像步骤、六．三维轮廓分析暨重建步骤以及七．完成步骤；以一影像处理设备、一投影设备及一摄影设备相互配合，先后对预定之无光栅/有光栅影像进行影像处理/影像补偿；而可以截取一清楚明确之影像，对一待测工件进行三维轮廓量测与重整，如此兼顾具有光场补偿功能以及可以线段投影法简单算出待测工件之高度等功效。

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