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热词
    • 1. 发明专利
    • 三維資料擷取方法及其系統
    • 三维数据截取方法及其系统
    • TW201516375A
    • 2015-05-01
    • TW102137943
    • 2013-10-21
    • 國立臺灣科技大學NATIONAL TAIWAN UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
    • 林宗翰LIN, TZUNG HAN
    • G01B11/24G06T7/00
    • G06T7/80G01B11/2522G06T7/593G06T7/85
    • 一種三維資料擷取方法,適於擷取受測物體的三維資料,包括下列步驟。首先,將雷射光投射於受測物體之表面上的多個區域,以在每一所述區域分別產生多個特徵點。接著,針對每一所述區域,同步自第一方向以及第二方向擷取受測物體與所述特徵點,以產生對應於第一方向的第一物體影像以及對應於第二方向的第二物體影像,再將第一物體影像以及第二物體影像進行處理,以取得第一物體影像以及第二物體影像中所述特徵點的二維座標。之後,根據每一所述區域所對應的第一物體影像以及第二物體影像中所述特徵點的二維座標,獲得受測物體的三維資料。
    • 一种三维数据截取方法,适于截取受测物体的三维数据,包括下列步骤。首先,将激光光投射于受测物体之表面上的多个区域,以在每一所述区域分别产生多个特征点。接着,针对每一所述区域,同步自第一方向以及第二方向截取受测物体与所述特征点,以产生对应于第一方向的第一物体影像以及对应于第二方向的第二物体影像,再将第一物体影像以及第二物体影像进行处理,以取得第一物体影像以及第二物体影像中所述特征点的二维座标。之后,根据每一所述区域所对应的第一物体影像以及第二物体影像中所述特征点的二维座标,获得受测物体的三维数据。
    • 4. 发明专利
    • 三維模型重建方法及其系統
    • 三维模型重建方法及其系统
    • TW201502466A
    • 2015-01-16
    • TW102125050
    • 2013-07-12
    • 國立臺灣科技大學NATIONAL TAIWAN UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
    • 林宗翰LIN, TZUNG HAN
    • G01B11/24
    • 一種三維模型重建方法,適於建立物體的三維模型,包括下列步驟。首先,提供透光屏幕與光源。透光屏幕具有第一表面以及相對於第一表面的第二表面,其中第二表面包括多個特徵點。將受測物體放置於透光屏幕的第一表面與光源之間,使光源照射於受測物體,並且將受測物體沿旋轉軸旋轉至多個物體方位,以在第一表面上形成對應於所述物體方位的多個物體影子。自透光屏幕的第二表面擷取所述物體影子與所述特徵點,以產生多個物體影像。之後,將所述物體影像進行處理,以獲得受測物體的三維模型。本發明提供一種三維模型重建系統,以實現上述方法。
    • 一种三维模型重建方法,适于创建物体的三维模型,包括下列步骤。首先,提供透光屏幕与光源。透光屏幕具有第一表面以及相对于第一表面的第二表面,其中第二表面包括多个特征点。将受测物体放置于透光屏幕的第一表面与光源之间,使光源照射于受测物体,并且将受测物体沿旋转轴旋转至多个物体方位,以在第一表面上形成对应于所述物体方位的多个物体影子。自透光屏幕的第二表面截取所述物体影子与所述特征点,以产生多个物体影像。之后,将所述物体影像进行处理,以获得受测物体的三维模型。本发明提供一种三维模型重建系统,以实现上述方法。
    • 7. 发明专利
    • 用於校正雷射量測裝置的方法及其系統
    • 用于校正激光量测设备的方法及其系统
    • TW201525415A
    • 2015-07-01
    • TW102148014
    • 2013-12-24
    • 國立臺灣科技大學NATIONAL TAIWAN UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
    • 林宗翰LIN, TZUNG HAN
    • G01B11/24B23K26/04
    • G06T3/0006G01B11/2504G06T3/00G06T7/521G06T7/80G06T2207/30204
    • 一種雷射量測裝置的校正方法,適於校正包括雷射投光單元以及影像擷取單元的雷射量測裝置,包括下列步驟。提供包括至少一狹縫以及多個特徵點的校正板。調整校正板與雷射投光單元的相對位置,使雷射投光單元所投射的雷射光得以通過狹縫。利用影像擷取單元拍攝校正板,以產生校正板影像。將校正板影像進行處理,以取得分別對應於各所述特徵點於相機座標系的相機座標。之後,根據各所述特徵點的相機座標以及各所述特徵點於真實座標系的真實座標,計算多個校正參數,據以取得雷射量測裝置所產生的量測物影像中的量測物於真實座標系的真實座標。
    • 一种激光量测设备的校正方法,适于校正包括激光投光单元以及影像截取单元的激光量测设备,包括下列步骤。提供包括至少一狭缝以及多个特征点的校正板。调整校正板与激光投光单元的相对位置,使激光投光单元所投射的激光光得以通过狭缝。利用影像截取单元拍摄校正板,以产生校正板影像。将校正板影像进行处理,以取得分别对应于各所述特征点于相机座标系的相机座标。之后,根据各所述特征点的相机座标以及各所述特征点于真实座标系的真实座标,计算多个校正参数,据以取得激光量测设备所产生的量测物影像中的量测物于真实座标系的真实座标。