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    • 3. 发明专利
    • 7T雙埠靜態隨機存取記憶體
    • 7T双端口静态随机存取内存
    • TW201640506A
    • 2016-11-16
    • TW104114665
    • 2015-05-08
    • 修平學校財團法人修平科技大學HSIUPING UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
    • 蕭明椿SHIAU, MING CHUEN余建政YU, CHIEN CHENG文忠宇WUN, JHONG YU
    • G11C11/413
    • 本發明提出一種7T雙埠靜態隨機存取記憶體,其主要包括一記憶體陣列(1)、複數個控制電路(2)、複數個預充電電路(3)以及一待機啟動電路(4),該記憶體陣列係由複數列記憶體晶胞與複數行記憶體晶胞所組成,每一列記憶體晶胞設置一個控制電路,且每一記憶體晶胞(1)係包括一第一反相器(由一第一PMOS電晶體P11與一第一NMOS電晶體M11所組成)、一第二反相器(由一第二PMOS電晶體P12與一第二NMOS電晶體M12所組成)、一存取電晶體(由第三NMOS電晶體M13所組成)、一第一讀取用電晶體(M14)以及一第二讀取用電晶體(M15)。每一控制單元(2)係連接至對應列記憶體晶胞中之每一記憶體晶胞的該第一NMOS電晶體(M11)的源極以及該第二NMOS電晶體(M12)的源極,以便因應不同操作模式而控制該第一NMOS電晶體(M11)的源極電壓以及該第二NMOS電晶體(M12)的源極電壓,藉此於寫入模式時,可有效防止寫入邏輯1困難之問題,於讀取模式時,可於提高讀取速度的同時,亦避免無謂的功率耗損,於待機模式時,可有效降低漏電流,而於保持模式時則可維持原有的 電氣特性。再者,藉由該待機啟動電路(4)的設計,以有效促使7T雙埠靜態隨機存取記憶體快速進入待機模式,並因而有效提高7T雙埠靜態隨機存取記憶體之待機效能。
    • 本发明提出一种7T双端口静态随机存取内存,其主要包括一内存数组(1)、复数个控制电路(2)、复数个预充电电路(3)以及一待机启动电路(4),该内存数组系由复数列内存晶胞与复数行内存晶胞所组成,每一列内存晶胞设置一个控制电路,且每一内存晶胞(1)系包括一第一反相器(由一第一PMOS晶体管P11与一第一NMOS晶体管M11所组成)、一第二反相器(由一第二PMOS晶体管P12与一第二NMOS晶体管M12所组成)、一存取晶体管(由第三NMOS晶体管M13所组成)、一第一读取用晶体管(M14)以及一第二读取用晶体管(M15)。每一控制单元(2)系连接至对应列内存晶胞中之每一内存晶胞的该第一NMOS晶体管(M11)的源极以及该第二NMOS晶体管(M12)的源极,以便因应不同操作模式而控制该第一NMOS晶体管(M11)的源极电压以及该第二NMOS晶体管(M12)的源极电压,借此于写入模式时,可有效防止写入逻辑1困难之问题,于读取模式时,可于提高读取速度的同时,亦避免无谓的功率耗损,于待机模式时,可有效降低漏电流,而于保持模式时则可维持原有的 电气特性。再者,借由该待机启动电路(4)的设计,以有效促使7T双端口静态随机存取内存快速进入待机模式,并因而有效提高7T双端口静态随机存取内存之待机性能。
    • 5. 发明专利
    • 5T靜態隨機存取記憶體
    • 5T静态随机存取内存
    • TW201621900A
    • 2016-06-16
    • TW103141647
    • 2014-12-01
    • 修平學校財團法人修平科技大學HSIUPING UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
    • 蕭明椿SHIAU, MING CHUEN余建政YU, CHIEN CHENG文忠宇WUN, JHONG YU
    • G11C8/08G11C11/412
    • 本發明提出一種5T靜態隨機存取記憶體,其主要包括一記憶體陣列、複數個控制電路(2)、複數個預充電電路(3)以及一待機啟動電路(4),該記憶體陣列係由複數列記憶體晶胞與複數行記憶體晶胞所組成,每一列記憶體晶胞設置一個控制電路,且每一記憶體晶胞(1)係包括一第一反相器(由一第一PMOS電晶體P11與一第一NMOS電晶體N11所組成)、一第二反相器(由一第二PMOS電晶體P12與一第二NMOS電晶體N12所組成)及一存取電晶體(由第三NMOS電晶體N13所組成)。每一控制單元(2)係連接至對應列記憶體晶胞中之每一記憶體晶胞的該第一NMOS電晶體(N11)的源極以及該第二NMOS電晶體(N12)的源極,以便因應不同操作模式而控制該第一NMOS電晶體(N11)的源極電壓以及該第二NMOS電晶體(N12)的源極電壓。於讀取模式之第一階段時,將靠近位元線(BL)之該第一NMOS電晶體(N11)的源極從原本的接地電壓改為比接地電壓還低,此時可配置較小通道寬長比之該第一NMOS電晶體(N11)與該第二NMOS電晶體(N12)即可完成讀取動作,且於讀取邏輯0時也不會造成遠離位元線(BL)之該第二 NMOS電晶體(N12)由於瞬間導通而阻礙讀取操作,而於讀取模式之第二階段時則將藉由將該第一NMOS電晶體(N11)的源極從比接地電壓還低設定回接地電壓,以便減少無謂的功率消耗;於寫入模式時,將靠近位元線(BL)之該第一NMOS電晶體(N11)的源極維持原本的接地電壓,因配置有較小通道寬長比之該第一NMOS電晶體(N11),因此可有效避免習知具單一位元線之單埠SRAM存在寫入邏輯1相當困難之問題;於待機模式時,可有效降低漏電流,而於保持模式時則可維持原有的電氣特性。再者,藉由該待機啟動電路(4)的設計,以有效促使具單埠SRAM快速進入待機模式,並因而有效提高單埠SRAM之待機效能。
    • 本发明提出一种5T静态随机存取内存,其主要包括一内存数组、复数个控制电路(2)、复数个预充电电路(3)以及一待机启动电路(4),该内存数组系由复数列内存晶胞与复数行内存晶胞所组成,每一列内存晶胞设置一个控制电路,且每一内存晶胞(1)系包括一第一反相器(由一第一PMOS晶体管P11与一第一NMOS晶体管N11所组成)、一第二反相器(由一第二PMOS晶体管P12与一第二NMOS晶体管N12所组成)及一存取晶体管(由第三NMOS晶体管N13所组成)。每一控制单元(2)系连接至对应列内存晶胞中之每一内存晶胞的该第一NMOS晶体管(N11)的源极以及该第二NMOS晶体管(N12)的源极,以便因应不同操作模式而控制该第一NMOS晶体管(N11)的源极电压以及该第二NMOS晶体管(N12)的源极电压。于读取模式之第一阶段时,将靠近比特线(BL)之该第一NMOS晶体管(N11)的源极从原本的接地电压改为比接地电压还低,此时可配置较小信道宽长比之该第一NMOS晶体管(N11)与该第二NMOS晶体管(N12)即可完成读取动作,且于读取逻辑0时也不会造成远离比特线(BL)之该第二 NMOS晶体管(N12)由于瞬间导通而阻碍读取操作,而于读取模式之第二阶段时则将借由将该第一NMOS晶体管(N11)的源极从比接地电压还低设置回接地电压,以便减少无谓的功率消耗;于写入模式时,将靠近比特线(BL)之该第一NMOS晶体管(N11)的源极维持原本的接地电压,因配置有较小信道宽长比之该第一NMOS晶体管(N11),因此可有效避免习知具单一比特线之单端口SRAM存在写入逻辑1相当困难之问题;于待机模式时,可有效降低漏电流,而于保持模式时则可维持原有的电气特性。再者,借由该待机启动电路(4)的设计,以有效促使具单端口SRAM快速进入待机模式,并因而有效提高单端口SRAM之待机性能。
    • 6. 发明专利
    • 單埠靜態隨機存取記憶體
    • 单端口静态随机存取内存
    • TW201714176A
    • 2017-04-16
    • TW104133100
    • 2015-10-07
    • 修平學校財團法人修平科技大學HSIUPING UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
    • 蕭明椿SHIAU, MING CHUEN余建政YU, CHIEN CHENG文忠宇WUN, JHONG YU
    • G11C11/413G11C11/4193
    • 本發明提出一種單埠靜態隨機存取記憶體,其主要包括一記憶體陣列、複數個控制電路(2)、複數個預充電電路(3)、一待機啟動電路(4)以及複數個字元線電壓位準轉換電路(5),該記憶體陣列係由複數列記憶體晶胞與複數行記憶體晶胞所組成,每一列記憶體晶胞設置一個控制電路,且每一記憶體晶胞(1)係包括一第一反相器(由一第一PMOS電晶體P11與一第一NMOS電晶體M11所組成)、一第二反相器(由一第二PMOS電晶體P12與一第二NMOS電晶體M12所組成)及一存取電晶體(由一第三NMOS電晶體M13所組成)。每一控制單元(2)係連接至對應列記憶體晶胞中之每一記憶體晶胞的該第一NMOS電晶體(M11)的源極以及該第二NMOS電晶體(M12)的源極,以便因應不同操作模式而控制該第一NMOS電晶體(M11)的源極電壓以及該第二NMOS電晶體(M12)的源極電壓,藉此於寫入模式時,可有效防止寫入邏輯1困難之問題,於讀取模式時,可於提高讀取速度的同時,亦避免無謂的功率耗損,於待機模式時,可有效降低漏電流,而於保持模式時則可維持原有的電氣特性。再者,藉由該待 機啟動電路(4)的設計,以有效促使具單埠SRAM快速進入待機模式,並因而有效提高單埠靜態隨機存取記憶體之待機效能;此外,藉由該複數個字元線電壓位準轉換電路(5)的設計,以增加該第三NMOS電晶體(M13)於讀取模式下之導通電阻,並因而有效降低讀取時之半選定晶胞干擾。
    • 本发明提出一种单端口静态随机存取内存,其主要包括一内存数组、复数个控制电路(2)、复数个预充电电路(3)、一待机启动电路(4)以及复数个字符线电压位准转换电路(5),该内存数组系由复数列内存晶胞与复数行内存晶胞所组成,每一列内存晶胞设置一个控制电路,且每一内存晶胞(1)系包括一第一反相器(由一第一PMOS晶体管P11与一第一NMOS晶体管M11所组成)、一第二反相器(由一第二PMOS晶体管P12与一第二NMOS晶体管M12所组成)及一存取晶体管(由一第三NMOS晶体管M13所组成)。每一控制单元(2)系连接至对应列内存晶胞中之每一内存晶胞的该第一NMOS晶体管(M11)的源极以及该第二NMOS晶体管(M12)的源极,以便因应不同操作模式而控制该第一NMOS晶体管(M11)的源极电压以及该第二NMOS晶体管(M12)的源极电压,借此于写入模式时,可有效防止写入逻辑1困难之问题,于读取模式时,可于提高读取速度的同时,亦避免无谓的功率耗损,于待机模式时,可有效降低漏电流,而于保持模式时则可维持原有的电气特性。再者,借由该待 机启动电路(4)的设计,以有效促使具单端口SRAM快速进入待机模式,并因而有效提高单端口静态随机存取内存之待机性能;此外,借由该复数个字符线电压位准转换电路(5)的设计,以增加该第三NMOS晶体管(M13)于读取模式下之导通电阻,并因而有效降低读取时之半选定晶胞干扰。
    • 9. 发明专利
    • 5T靜態隨機存取記憶體
    • 5T静态随机存取内存
    • TW201640505A
    • 2016-11-16
    • TW104114664
    • 2015-05-08
    • 修平學校財團法人修平科技大學HSIUPING UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
    • 蕭明椿SHIAU, MING CHUEN余建政YU, CHIEN CHENG文忠宇WUN, JHONG YU
    • G11C11/413
    • 本發明提出一種5T靜態隨機存取記憶體,其主要包括一記憶體陣列、複數個控制電路(2)、複數個預充電電路(3)以及一待機啟動電路(4),該記憶體陣列係由複數列記憶體晶胞與複數行記憶體晶胞所組成,每一列記憶體晶胞設置一個控制電路,且每一記憶體晶胞(1)係包括一第一反相器(由一第一PMOS電晶體P11與一第一NMOS電晶體N11所組成)、一第二反相器(由一第二PMOS電晶體P12與一第二NMOS電晶體N12所組成)及一存取電晶體(由第三NMOS電晶體N13所組成)。每一控制單元(2)係連接至對應列記憶體晶胞中之每一記憶體晶胞的該第一NMOS電晶體(N11)的源極以及該第二NMOS電晶體(N12)的源極,以便因應不同操作模式而控制該第一NMOS電晶體(N11)的源極電壓以及該第二NMOS電晶體(N12)的源極電壓。於讀取模式時,將靠近位元線(BL)之該第一NMOS電晶體(N11)的源極從原本的接地電壓改為比接地電壓還低,此時可配置較小通道寬長比之該第一NMOS電晶體(N11)與該第二NMOS電晶體(N12)即可完成讀取動作,且於讀取邏輯0時也不會造成遠離位元線(BL)之該第二NMOS電晶體 (N12)由於瞬間導通而阻礙讀取操作;於寫入模式時,將靠近位元線(BL)之該第一NMOS電晶體(N11)的源極維持原本的接地電壓,因配置有較小通道寬長比之該第一NMOS電晶體(N11),因此可有效避免習知具單一位元線之單埠SRAM存在寫入邏輯1相當困難之問題;於待機模式時,可有效降低漏電流,而於保持模式時則可維持原有的電氣特性。再者,藉由該待機啟動電路(4)的設計,以有效促使具單埠SRAM快速進入待機模式,並因而有效提高單埠SRAM之待機效能。
    • 本发明提出一种5T静态随机存取内存,其主要包括一内存数组、复数个控制电路(2)、复数个预充电电路(3)以及一待机启动电路(4),该内存数组系由复数列内存晶胞与复数行内存晶胞所组成,每一列内存晶胞设置一个控制电路,且每一内存晶胞(1)系包括一第一反相器(由一第一PMOS晶体管P11与一第一NMOS晶体管N11所组成)、一第二反相器(由一第二PMOS晶体管P12与一第二NMOS晶体管N12所组成)及一存取晶体管(由第三NMOS晶体管N13所组成)。每一控制单元(2)系连接至对应列内存晶胞中之每一内存晶胞的该第一NMOS晶体管(N11)的源极以及该第二NMOS晶体管(N12)的源极,以便因应不同操作模式而控制该第一NMOS晶体管(N11)的源极电压以及该第二NMOS晶体管(N12)的源极电压。于读取模式时,将靠近比特线(BL)之该第一NMOS晶体管(N11)的源极从原本的接地电压改为比接地电压还低,此时可配置较小信道宽长比之该第一NMOS晶体管(N11)与该第二NMOS晶体管(N12)即可完成读取动作,且于读取逻辑0时也不会造成远离比特线(BL)之该第二NMOS晶体管 (N12)由于瞬间导通而阻碍读取操作;于写入模式时,将靠近比特线(BL)之该第一NMOS晶体管(N11)的源极维持原本的接地电压,因配置有较小信道宽长比之该第一NMOS晶体管(N11),因此可有效避免习知具单一比特线之单端口SRAM存在写入逻辑1相当困难之问题;于待机模式时,可有效降低漏电流,而于保持模式时则可维持原有的电气特性。再者,借由该待机启动电路(4)的设计,以有效促使具单端口SRAM快速进入待机模式,并因而有效提高单端口SRAM之待机性能。