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    • 6. 发明专利
    • 表膜框架及表膜
    • TW201820029A
    • 2018-06-01
    • TW106128561
    • 2017-08-23
    • 日商信越化學工業股份有限公司SHIN-ETSU CHEMICAL CO., LTD.
    • 濱田裕一HAMADA, YUICHI
    • G03F1/62G03F1/64C25D13/06C25D15/00B32B27/20
    • 本發明提供表膜框架及包含其之表膜,該表膜框架於光微影之曝光步驟中,即使雜散光(stray light)碰觸到表膜框架之內側面,碳黑或填料等之微粒子亦不會污染光罩。   本發明提供表膜框架,其具備框架母材及被覆前述框架母材之至少內周面之聚合物被覆層,前述聚合物被覆層具備存在於距離前述框架母材最遠側之最外聚合物層與前述最外聚合物層以外之至少一層內側聚合物層,前述最外聚合物層之微粒子濃度低於前述至少一層內側聚合物層之各微粒子濃度中之最大微粒子濃度。且提供表膜等,其至少具備該表膜框架、張設於前述表膜框架之上端面之表膜薄膜、及附著於前述表膜框架下端面之黏著劑。
    • 本发明提供表膜框架及包含其之表膜,该表膜框架于光微影之曝光步骤中,即使杂散光(stray light)碰触到表膜框架之内侧面,碳黑或填料等之微粒子亦不会污染光罩。   本发明提供表膜框架,其具备框架母材及被覆前述框架母材之至少内周面之聚合物被覆层,前述聚合物被覆层具备存在于距离前述框架母材最远侧之最外聚合物层与前述最外聚合物层以外之至少一层内侧聚合物层,前述最外聚合物层之微粒子浓度低于前述至少一层内侧聚合物层之各微粒子浓度中之最大微粒子浓度。且提供表膜等,其至少具备该表膜框架、张设于前述表膜框架之上端面之表膜薄膜、及附着于前述表膜框架下端面之黏着剂。