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1. 发明专利

TW201031935A 翻轉測試模組及其測試系統 ROLLING TEST MODULE AND TEST SYSTEM THEREOF 审中-公开
简体标题：翻转测试模块及其测试系统 ROLLING TEST MODULE AND TEST SYSTEM THEREOF
公开(公告)号：TW201031935A
公开(公告)日：2010-09-01
申请号：TW098105496
申请日：2009-02-20
申请人：京元電子股份有限公司
发明人：倪建青 , 徐培倫 , 賴茂德
IPC分类号： G01R , B65G
摘要：一種翻轉測試模組及其測試系統。翻轉測試模組包含至少一容置裝置(例如插槽),用以暫時容置受測元件。翻轉測試模組還包含翻轉機構,用以對受測元件進行一或多軸向的翻轉。翻轉測試模組結合檢選分類機台(handler)及測試機台(tester)而組合成翻轉測試系統。其中,檢選分類機台拾取及置放受測元件至翻轉測試模組,而測試機台則分別控制翻轉測試模組及檢選分類機台。
简体摘要：一种翻转测试模块及其测试系统。翻转测试模块包含至少一容置设备(例如插槽),用以暂时容置受测组件。翻转测试模块还包含翻转机构,用以对受测组件进行一或多轴向的翻转。翻转测试模块结合检选分类机台(handler)及测试机台(tester)而组合成翻转测试系统。其中,检选分类机台十取及置放受测组件至翻转测试模块,而测试机台则分别控制翻转测试模块及检选分类机台。

2. 发明专利

TW201031922A 直線往復測試模組及其測試系統 RECIPROCATING TEST MODULE AND TEST SYSTEM THEREOF 审中-公开
简体标题：直线往复测试模块及其测试系统 RECIPROCATING TEST MODULE AND TEST SYSTEM THEREOF
公开(公告)号：TW201031922A
公开(公告)日：2010-09-01
申请号：TW098105501
申请日：2009-02-20
申请人：京元電子股份有限公司
发明人：倪建青 , 賴茂德 , 徐培倫
IPC分类号： G01P
摘要：一種直線往復測試模組及其測試系統。直線往復測試模組包含至少一容置裝置(例如插槽),用以暫時容置受測元件。直線往復測試模組還包含直線往復機構,用以對受測元件進行直線往復之運動。直線往復測試模組結合檢選分類機台(handler)及測試機台(tester)而組合成直線往復測試系統。其中,檢選分類機台拾取及置放受測元件至直線往復測試模組,而測試機台則分別控制直線往復測試模組及檢選分類機台。
简体摘要：一种直线往复测试模块及其测试系统。直线往复测试模块包含至少一容置设备(例如插槽),用以暂时容置受测组件。直线往复测试模块还包含直线往复机构,用以对受测组件进行直线往复之运动。直线往复测试模块结合检选分类机台(handler)及测试机台(tester)而组合成直线往复测试系统。其中,检选分类机台十取及置放受测组件至直线往复测试模块,而测试机台则分别控制直线往复测试模块及检选分类机台。

3. 发明专利

TWI395950B 直線往復測試模組及其測試系統有权
简体标题：直线往复测试模块及其测试系统
公开(公告)号：TWI395950B
公开(公告)日：2013-05-11
申请号：TW098105501
申请日：2009-02-20
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD
发明人：倪建青 , NI, CHENG CHIN , 賴茂德 , LAI, MAO TE , 徐培倫 , HSU, PEI LUEN
IPC分类号： G01P21/00

4. 发明专利

TWI394950B 旋轉式三維動態測試設備有权
简体标题：旋转式三维动态测试设备
公开(公告)号：TWI394950B
公开(公告)日：2013-05-01
申请号：TW099104722
申请日：2010-02-12
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：倪建青 , NI, CHENG CHIN , 賴茂德 , LAI, MAO TE , 徐培倫 , HSU, PEI LUEN
IPC分类号： G01P21/00
CPC分类号： G01C25/005 , G01P21/00

5. 发明专利

TW201025748A ＺＩＦ連接器、半導體測試裝置與半導體測試系統 ZIF CONNECTORS AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND APPARATUS USING THE SAME 审中-公开
简体标题：ＺＩＦ连接器、半导体测试设备与半导体测试系统 ZIF CONNECTORS AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND APPARATUS USING THE SAME
公开(公告)号：TW201025748A
公开(公告)日：2010-07-01
申请号：TW097151324
申请日：2008-12-30
申请人：京元電子股份有限公司
发明人：倪建青 , 徐培倫
IPC分类号： H01R , G01R
CPC分类号： G01R1/0416 , H01R2201/20
摘要：本發明提供一種ZIF連接器以及半導體測試裝置與半導體測試系統,此ZIF連接器包含有一本體部以及一卡持部,其中本體部為一印刷電路板(PCB)並設有電路圖案,此本體部進一步包含有複數個訊號孔位於本體部之上部以電性連接複數個訊號纜線;複數個電氣端子位於本體部之下部且排列本體部相對的兩個側邊表面以電性連接一基板之複數個電氣接點,且此等電氣端子經由本體部之電路圖案以電性連接此等訊號孔,此外卡持部係自本體部的一個側邊水平延伸以將此ZIF連接器鎖固在一連接器載板。
简体摘要：本发明提供一种ZIF连接器以及半导体测试设备与半导体测试系统,此ZIF连接器包含有一本体部以及一卡持部,其中本体部为一印刷电路板(PCB)并设有电路图案,此本体部进一步包含有复数个信号孔位于本体部之上部以电性连接复数个信号缆线;复数个电气端子位于本体部之下部且排列本体部相对的两个侧边表面以电性连接一基板之复数个电气接点,且此等电气端子经由本体部之电路图案以电性连接此等信号孔,此外卡持部系自本体部的一个侧边水平延伸以将此ZIF连接器锁固在一连接器载板。

6. 发明专利

TWI451100B 翻轉測試模組及其測試系統有权
简体标题：翻转测试模块及其测试系统
公开(公告)号：TWI451100B
公开(公告)日：2014-09-01
申请号：TW098105496
申请日：2009-02-20
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD
发明人：倪建青 , NI, CHENG CHIN , 徐培倫 , HSU, PEI LUEN , 賴茂德 , LAI, MAO TE
IPC分类号： G01R31/26 , B65G47/90

7. 发明专利

TWI403721B 旋轉測試模組及其測試系統有权
简体标题：旋转测试模块及其测试系统
公开(公告)号：TWI403721B
公开(公告)日：2013-08-01
申请号：TW098105502
申请日：2009-02-20
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD
发明人：倪建青 , NI, CHENG CHIN , 張雅婷 , CHANG, YA TING , 賴茂德 , LAI, MAO TE , 徐培倫 , HSU, PEI LUEN
IPC分类号： G01P21/00

8. 发明专利

TW201031923A 旋轉測試模組及其測試系統 ROTATING TEST MODULE AND TEST SYSTEM THEREOF 审中-公开
简体标题：旋转测试模块及其测试系统 ROTATING TEST MODULE AND TEST SYSTEM THEREOF
公开(公告)号：TW201031923A
公开(公告)日：2010-09-01
申请号：TW098105502
申请日：2009-02-20
申请人：京元電子股份有限公司
发明人：倪建青 , 張雅婷 , 賴茂德 , 徐培倫
IPC分类号： G01P
摘要：一種旋轉測試模組及其測試系統。旋轉測試模組包含至少一容置裝置(例如插槽),用以暫時容置受測元件。旋轉測試模組還包含旋轉機構,用以對受測元件進行一或多轉軸的旋轉。旋轉測試模組結合檢選分類機台(handler)及測試機台(tester)以組合成旋轉測試系統。其中,檢選分類機台拾取及置放受測元件至旋轉測試模組,而測試機台則用以分別控制旋轉測試模組及檢選分類機台。
简体摘要：一种旋转测试模块及其测试系统。旋转测试模块包含至少一容置设备(例如插槽),用以暂时容置受测组件。旋转测试模块还包含旋转机构,用以对受测组件进行一或多转轴的旋转。旋转测试模块结合检选分类机台(handler)及测试机台(tester)以组合成旋转测试系统。其中,检选分类机台十取及置放受测组件至旋转测试模块,而测试机台则用以分别控制旋转测试模块及检选分类机台。

9. 发明专利

TWI409471B 直線往復式三維動態測試設備有权
简体标题：直线往复式三维动态测试设备
公开(公告)号：TWI409471B
公开(公告)日：2013-09-21
申请号：TW099104723
申请日：2010-02-12
申请人：京元電子股份有限公司 , KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：倪建青 , NI, CHENG CHIN , 賴茂德 , LAI, MAO TE , 徐培倫 , HSU, PEI LUEN
IPC分类号： G01R31/01

10. 发明专利

TW201128199A 直線往復式三維動態測試設備 LINEAR RECIPROCATING THREE-DIMENSIONAL DYNAMIC TESTING EQUIPMENT 审中-公开
简体标题：直线往复式三维动态测试设备 LINEAR RECIPROCATING THREE-DIMENSIONAL DYNAMIC TESTING EQUIPMENT
公开(公告)号：TW201128199A
公开(公告)日：2011-08-16
申请号：TW099104723
申请日：2010-02-12
申请人：京元電子股份有限公司
发明人：倪建青 , 賴茂德 , 徐培倫
IPC分类号： G01R
摘要：本發明係有關於一種直線往復式三維動態測試設備，包括一直線往復裝置、一三維翻轉裝置、複數測試座及一主控制器。其中，三維翻轉裝置固設於直線往復裝置之往復滑台上。複數測試座佈設於三維翻轉裝置之承載台的相對應之一第一表面、及一第二表面上。三維翻轉裝置之翻轉架可沿一第一軸旋轉，三維翻轉裝置之承載台可沿一第二軸旋轉，其中第一軸及第二軸為彼此垂直正交。此外，主控制器分別電性耦接複數測試座。因此，本發明能提供動態感測器三個軸向之動態測試，並藉由分設於承載台相對二面之複數測試座，可大幅擴大測試規模，以節省成本。
简体摘要：本发明系有关于一种直线往复式三维动态测试设备，包括一直线往复设备、一三维翻转设备、复数测试座及一主控制器。其中，三维翻转设备固设于直线往复设备之往复滑台上。复数测试座布设于三维翻转设备之承载台的相对应之一第一表面、及一第二表面上。三维翻转设备之翻转架可沿一第一轴旋转，三维翻转设备之承载台可沿一第二轴旋转，其中第一轴及第二轴为彼此垂直正交。此外，主控制器分别电性耦接复数测试座。因此，本发明能提供动态传感器三个轴向之动态测试，并借由分设于承载台相对二面之复数测试座，可大幅扩大测试规模，以节省成本。

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